Функциональные тесты маршрута высокого уровня (группа {1.3.1.})

Функциональные тесты маршрута низкого уровня (группа {1 .2 .1 .})

Аналогично рассмотрим функциональные тесты маршрута низкого уровня. Как следует из рис. 6.5, функциональные тесты маршрута низкого уровня выполняются только при загрузке пото­ ков низкого уровня (Е1), так как при загрузке потоков высокого уровня (ЕЗ/Е4) заголовки LO-POH отсутствуют. Выше описывались измерения, относящиеся к этому классу: анализ поля идентифи­ катора маршрута J2; анализ информационного поля байтов V5.

Рассмотрим основные типы измерений этой группы.

Результаты анализа поля V5 представлены на рис. 6.10. Как следует из рисунка, визуальный анализ байта V5 представляет собой довольно сложный процесс, требующий определенных навы­ ков. Значение V5 представленное в 16-ричном виде 84 соответствует бинарному 10000100. Далее полученные 8 цифр необходимо преобразовать побитово в соответствии с правилом рис. 5.15. В результате такого представления получаем полную информацию о параметрах LO-POH и его пере­ дачи. Так, видно, что на низком уровне передача происходит практически без ошибок и нарушений (сигналы об ошибках и неисправностях RDI, RFI и REI отсутствуют), указана форма загрузки потока Е1 - асинхронная загрузка.

Результаты анализа поля J2 были представлены на рис. 6.7.

о84 0 - REI = 0

0 - RFI = 0

I 0 - RDI = 0

2ЯI 10Шl I О I

р в т ШгТШ

Рис. 6.10. Результаты анализа информационного поля V5 LO-POH

Функциональные тесты МВВ секционного уровня (группа {1.1.1})

По аналогии с группами измерений МВВ уровня маршрутов рассмотрим основные парамет­ ры измерений секционного уровня. Следует отметить, что для функциональных тестов МВВ секци­ онного уровня на этапе эксплуатации наиболее эффективной является схема измерений рис. 6.6 Основным отличием измерений этой группы являются только другие поля, которые анализируются в составе заголовка SOH (рис. 5.6).

Как следует из табл. 6.1, к измерениям секционного уровня систем SDH относятся: анализ параметров оптического линейного сигнала; анализ секционного заголовка; анализ сообщений о неисправностях секционного уровня (относится не к функциональным тестам, а к логическому тес­ тированию тракта); измерение параметров ошибок (относится к измерениям трактов); контроль параметров автоматического переключения (относится к работе коммутаторов); анализ джиттера и вандера линейного оптического сигнала (детально рассмотрены в [3] и гл. 1 части 2).

Таким образом, функциональные тесты МВВ секционного уровня включают в себя анализ па­ раметров оптического интерфейса и анализ секционного заголовка.

Как следует из структуры секционного заголовка, только часть информационных полей, пе­ редаваемых в нем, существенна для измерений МВВ, а именно подзаголовок мультиплексорной секции MSOH. Структура этого заголовка, а также состав основных информационных полей, вхо­ дящих в него, кратко была описана в п. 5.6.

Как следует из рис. 5.16, в состав MSOH входят следующие информационные поля: инфор­ мационные поля контроля четности В2; информационные поля управления резервным переключе­ нием К1 и К2; поле подтверждения ошибки четности М1; поле передачи данных о параметрах ис­ точника синхронизации (сигналы SSM) S1; другие служебные поля (D и Z).

Из перечисленных полей на этапе эксплуатации анализируются только поля К1, К2, М1 и S1, однако все они в существующей классификации относятся не к функциональным тестам МВВ, а к другим группам измерений: информационные поля К - к анализу процедур APS, анализ сигналов SSM - к анализу системы синхронизации, который будет рассматриваться отдельно в гл. 2 части 2.

Таким образом, необходимо отметить, что эксплуатационные измерения группы {1.1.1.} включают в себя простую проверку корректности структуры MSOH и не включают отдельные изме­ рения, связанные с анализом информационных полей в составе MSOH. Отметим, что сказанное относится именно к эксплуатационным измерениям, системные измерения (в том смысле, который дан системным измерениям в [3]) могут включать анализ каждого информационного поля MSOH.

но по потоку STM-1 (рис. 6.186), т.е. МВВ должен на время проведения измерений отключаться от системы передачи. Эта особенность измерений приводит к тому, что стрессовое тестирование на­ рушает работу системы SDH и не может быть рекомендовано для эксплуатационных измерений. Обычно измерения данной группы выполняются на этапе пуско-наладочных или приемо-сдаточных

испытаний.

Необходимость стрессового тестирования была описана в п. 3.3, когда рассматривалась ме­ тодология измерения мультиплексоров ИКМ. Аналогично стрессовое тестирование МВВ обеспечи­ вает анализ пороговых значений параметров и определенный прогноз поведения МВВ в различных нестандартных ситуациях, которые могут возникнуть в сети.

Итак, рассмотрим различные группы стрессового тестирования МВВ.

Стрессовое тестирование на уровне маршрутов высокого и низкого уровней. Основны­ ми параметрами уровня маршрутов является содержимое информационных полей LO-POH и НО­ РОЙ. Для стрессового тестирования этой группы ({1.3.2} и {1.2.2.}) возможны два направления измерений:

•как влияют параметры LO-POH и НО-РОН на параметры нагрузки (рис. 6.186);

как параметры нагрузки влияют на содержимое информационных полей LO-POH и НО-РОН (рис. 6.18а).

Стрессовое тестирование, с одной стороны, довольно редко применяется при эксплуатаци­ онных измерениях, с другой - совершенно не стандартизировано в существующих методиках и предоставляет оператору полную свободу творчества. Учитывая это, ниже лишь кратко сформули­ руем параметры воздействия и соответствующего отклика, а также для каждого случая укажем схему организации измерений по рис. 6.18 (а и б соответственно). Результаты такого анализа представлены в табл. 6.7.

Таблица 6.7. Параметры воздействия и отклика стрессового тестирования уровня маршрутов

(группы {1.3.2} и {1.2.2.})

В качестве конкретного примера рассмотрим вариант стрессового тестирования, выделен­ ный в таблице (рис. 6.19) и важный для проведения эксплуатационных измерений. Внесение рас­ синхронизации входящего потока означает, что загружаемый сигнал имеет частоту линейного сиг­ нала, отличную от стандартной. Согласно схеме рис. 6.19, анализатор генерирует поток PDH с за­ данным отклонением частоты. Для этого анализатор должен иметь внешний сигнал синхронизации от МВВ. Для компенсации рассинхронизации в линейном тракте STM-1 возникает смещение указа­ телей трибутарной группы (TU-Pointer), которое наблюдается анализатором. Параллельно анализи­ руются параметры ошибок по ошибкам четности или по BER через загружаемую ПСП. Параметр рассинхронизации загружаемого потока гибко изменяют. Вначале рассинхронизация (пока ско­ рость находится в пределах нормы) компенсируется за счет процедуры стаффинга, затем имеет место смещение указателей, наконец, рассинхронизация приводит к сбою в работе МВВ, возника­ ет сигнал LOS (см. хронограмму в верхней части экрана), что означает переход в состояние него-