Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Учебники / Физика конденсированных сред

.pdf
Скачиваний:
50
Добавлен:
30.03.2022
Размер:
3.97 Mб
Скачать

§ 14. Отрицательное дифференциальное сопротивление 261

или, логарифмируя это выражение,

 

 

 

 

T

3

 

T

.

 

ζ = ζ0

k

 

kБTk ln

k

(4.196)

T

2

T

Из формулы (4.196) следует, что химический потенциал неравновесных электронов не зависит от дрейфовой скоростиvd в рассматриваемом приближении. В действительности такая зависимость, конечно, имеется, и она может быть легко получена, если удержать в разложении (4.154) члены второго порядка малости по параметру kαvdα/kБT , но это было бы явным превышением точности.

Таким образом, мы рассмотрели задачу о разогреве электронной системы внешним электрическим полем и нашли выражения для кинетической температуры (4.194), химического потенциала (4.196) и дрейфовой скорости (4.156), входящих в неравновесную функцию распределения (4.146).

Особо необходимо отметить, что величина отклонения температуры электронов Tk от равновесной температуры T не обязательно должна быть малой (фактически при выводе уравнений баланса импульса, энергии и числа частиц малость величины δTk /T не предполагалась).

Совершенно аналогично можно было рассмотреть и случай вырожденного электронного газа (эта задача предлагается читателю для самостоятельного решения).

Перейдем теперь к обсуждению возможных применений развитой здесь теории для решения различных задач физической кинетики.

§ 14. Отрицательное дифференциальное сопротивление

С прикладной точки зрения, важно найти такие условия, при которых разогрев носителей заряда приводил бы к появлению на вольт-амперной характеристике участка с отрицательным значением dJ/dE , где J – плотность электрического тока, E –напряженность электрического поля, приложенная к образцу. Такая ситуация может возникнуть, если вектор плотности

262 Глава 4. Кинетическое уравнение для электронов

электрического тока

 

антипараллелен вектору напряженно-

J

 

 

 

 

 

сти электрического поля E

и когда вектор J

E , но плотность

электрического тока в образце уменьшается с ростом электрического поля. В первом случае принято говорить об о т р и - ц а т е л ь н о м с о п р о т и в л е н и и, а во втором – об о т р и ц а т е л ь н о м д и ф ф е р е н ц и а л ь н о м сопротивлении (ОДС).

Отрицательное дифференциальное сопротивление может наблюдаться экспериментально в условиях контроля как тока через образец (рис. 30 a), когда большое дополнительное сопротивления R включено в цепь последовательно с образцом, так и в условиях контроля напряжения на образце, когда он включен параллельно большому дополнительному сопротивлению нагрузки RН (рис 30 б)).

à

á

J

 

 

J

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E

 

E

V

 

À

 

 

 

 

r

r

 

RÍ

R

R

 

À

 

V

Рис. 30. S-образные (а) и N-образные (б ) нелинейные вольт-амперные характеристики и схемы их измерения при контроле тока и напряжения. Образцом является сопротивление r

В первом случае нелинейные вольт-амперные характеристики имеют вид S-образной кривой, а во втором случае – N-образной. Для того чтобы обеспечить контроль тока J , протекающего через образец с сопротивлением r , должно выполняться условие R r . Аналогично в случае б должно выполняться условие RH r .

§ 14. Отрицательное дифференциальное сопротивление 263

Наиболее просто условия возникновения ОДС можно реализовать в том случае, когда контролируется ток через образец (рис. 30 a). Значение напряженности электрического поля в об-

разце E и кинетической температуры Tk в этом случае будет однозначной функцией тока. Мощность P , передаваемая системой электронов в решетку, совпадает с мощностью джоулевых потерь

P = σE2, E =

P

 

1/2

(4.197)

 

.

σ

С другой стороны, эта же самая мощность может быть выражена через плотность тока

J2 = σP, J = (σP )1/2.

(4.198)

В условиях разогрева электронного газа, как следует из формулы (4.172), для случая статистики Максвелла – Больцмана σ τ Tkm , где m – некоторый показатель степени, а мощность, переданная электронами в решетку, согласно (4.187), имеет следующую температурную зависимость:

< Ek >

≡ P (Tk − T ) Tkn.

(4.199)

 

∂t

 

 

ст

 

Подставляя предполагаемую температурную зависимость σ и P в уравнения для напряженности поля E (4.197) и величины тока J (4.198), получаем

E

 

(T

T ) T n−m

 

1/2,

 

J

 

 

(Tk

T ) Tkn+m

1/2.

(4.200)

 

 

 

k

k

 

 

Из формулы (4.200) следует, что если выполняются условия n − m > 0 и n + m > 0 , то E и J растут с возрастанием Tk и, следовательно, dJ/dE остается положительной величиной. Если, однако, n − m < 0 , а n + m > 0 , то при возрастании тока, а следовательно, Tk напряженность электрического поля будет уменьшаться, что соответствует участку с отрицательным дифференциальным сопротивлением на вольт-амперной

264 Глава 4. Кинетическое уравнение для электронов

характеристике. Возникающая при этом вольт-амперная характеристика имеет S-образный вид. В частности, легко видеть, что условия возникновения участка с ОДС выполняются, если релаксация импульса происходит за счет взаимодействия электронов с примесями (m = 3/2 ), а релаксация энергии определяется пьезоэлектрическим рассеянием на акустических фононах ( n = 1/2 ).

В действительности явление возникновения ОДС сопровождается развитием неустойчивостей в однородном полупроводниковом кристалле. В частности, в условиях контроля тока через образец возникновение участка с ОДС на вольт-амперной характеристике сопровождается «шнурованием» электрического тока. В плоскости продольного сечения образца возникают один или несколько каналов с более низким значением электрического сопротивления, которые по существу шунтируют образец.

При контроле напряжения на образце возникает неустойчивость другой природы. В образце появляются участки (домены) с высоким и низким значением электрического сопротивления. Все падение напряжения будет приходиться на домен с высоким сопротивлением. Под действием электрического поля эти домены движутся по образцу, благодаря чему возникают периодические электрические колебания. Это явление нашло свое практическое применение для создания генераторов СВЧ-колебаний (диодов Ганна).

Диод Ганна – полупроводниковый прибор, состоящий из однородного полупроводника, генерирующий СВЧ-колебания при приложении постоянного электрического поля. Физической основой, позволяющей реализовать такие свойства в диоде, является эффект Ганна, который заключается в генерации высокочастотных колебаний электрического тока в однородном полупроводнике с N-образной вольт-амперной характеристикой. Эффект Ганна обнаружен американским физиком Дж. Ганном в 1963 г. в кристалле арсенида галлия с электронной проводимостью. При приложении электрического поля E > 2 – 3 кВ/см к однородным образцам из арсенида галлия n -типа в образце возникают спонтанные колебания тока. В образце, обычно у катода, возникает небольшой участок сильного поля – «домен», дрейфующий от катода к аноду со скоростью vd 107 см/с и

§ 14. Отрицательное дифференциальное сопротивление 265

исчезающий на аноде. Затем у катода формируется новый домен, и процесс периодически повторяется, моменту возникновения домена соответствует падение тока, текущего через образец. Моменту исчезновения домена у анода – восстановление прежней величины тока. Период колебаний тока приблизительно равен пролетному времени, т. е. времени, за которое домен дрейфует от катода к аноду.

С позиций сильнонеравновесной термодинамики, возникновение шнуров электрического тока, или доменов, в однородном полупроводниковом материале является типичным примером самоорганизации и возникновения неравновесных структур.

Можно показать, что если в полупроводнике с S-образной вольт-амперной характеристикой на участке с ОДС возникает локальная флуктуация плотности тока, то эта флуктуация не будет рассасываться, как в обычном материале, а будет только нарастать, что и приведет к возникновению шнура тока. Совершенно аналогично, если в полупроводнике с N-образной вольтамперной характеристикой в результате флуктуаций возникнет локальная область с большим значением электрического поля, нежели в соседних областях, то эта область не исчезнет, а будет только увеличиваться. В итоге возникнет домен сильного поля. В этом смысле полупроводник, в котором реализованы условия возникновения ОДС, является активной средой.

Дальнейшее обсуждение явлений, возникающих в полупроводниках в результате разогрева электронов проводимости внешним электрическим полем, выходит за рамки нашего курса. Обзор экспериментальных и теоретических работ по горячим электронам можно найти в монографии Конуэлл [27]. Исследованию процессов неустойчивости, возникающей в электронной плазме проводников, посвящены работы [33, 34].

Развитый в этой главе метод эффективных параметров позволяет решать довольно широкий круг задач физической кинетики, связанных с передачей энергии между подсистемами кристалла. Примерами таких задач являются эффект Феера (явление динамической поляризации ядер электрическим током); эффект изменения сопротивления в полупроводниках при насыщении парамагнитного резонанса на примесных центрах,

266 Глава 4. Кинетическое уравнение для электронов

позволяющий использовать простые электрические схемы детектирования резонанса; эффект Оверхаузера (явление динамической поляризации ядер при насыщении парамагнитного резонанса на свободных электронах в металлах или полупроводниках). Анализ этих задач в полном объеме также далеко выходит за рамки учебного курса. Тем не менее в главе 6, посвященной методу неравновесного статистического оператора, мы применим метод составления уравнений баланса импульса, энергии и числа частиц для интерпретации эффекта Оверхаузера.

Задача 4.6

Получить выражение для обратного времени релаксации горячих электронов, полагая, что рассеяние носителей тока происходит на заряженных центрах с экранированным кулоновским потенциалом.

Решение

Пользуясь схемой переходов электронов между состояниями , k

, изображенной на рис. 28, запишем скорость изменения функции k+q

распределения в состоянии за счет взаимодействия с рассеивателя- k

ми. Если в качестве гамильтониана взаимодействия с рассеивателями взять гамильтониан (4.81), то для квантово-механической вероятности переходов (по аналогии с выражением (4.87)) получаем:

 

2πt

 

 

2

 

 

 

iq r

 

2

)

 

*

1. Wk+q k =

 

 

 

 

 

 

 

ρq ρ−q прδ(εk+q εk ),

 

 

 

|Gq |

 

 

< k + q |e

|k >

 

 

 

 

 

q

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2πt

 

 

 

 

 

−iq r

 

 

2

)

*

 

 

 

 

2

 

 

 

 

2. Wk k+q =

 

 

|Gq |

 

 

< k |e

 

|k + q >

 

 

 

ρq ρ−q прδ(εk+q εk).

 

 

 

 

 

 

 

 

q

Если учесть определение < ρq > (4.81), легко заметить, что среднее по состояниям рассеивателей

< ρq ρ−q >пр= Ni,

где Ni – число примесных центров в единице объема.

Для нахождения скорости изменения числа частиц в состоянии

под действием столкновений квантово-механические вероятности k

переходов необходимо умножить на вероятность заполнения начального состояния и вероятность того, что конечное состояние является

§ 14. Отрицательное дифференциальное сопротивление 267

незаполненным. В результате подсчета получаем

 

 

∂f

 

π

 

 

 

 

 

 

ст =

Ni

q

|Gq |2 fk+q

− fk δ(εk+q − εk).

(4.201)

 

∂tk

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В отличие от случая рассеивания на фононах рассматривать переходы под номерами 3 и 4 в формуле (4.87) смысла нет, поскольку суммирование в формуле (4.201) производится во всем диапазоне возможных значений q .

По аналогии с выражением (4.152) построим уравнение баланса импульса

 

 

2π

 

 

 

 

 

∂t

< P α > ст

=

 

Ni

 

 

 

 

 

k

 

 

kα|Gq |2

 

fk+q − fk δ(εk+q − εk ).

σ q

 

 

Делая во втором слагаемом, пропорциональном fk , замену индексов

суммирования сначала

 

 

 

k + q → k ,

k

получаем

 

→ −q ,

→ k −q , а затем замену q

 

 

 

 

k

 

 

 

 

2π

 

 

∂t

< P α > ст

=

 

Ni σ q qα |Gq |2 fk+q

δ(εk+q − εk ).

(4.202)

 

 

 

 

 

 

 

Выделим в правой части (4.202) члены, линейные по дрейфовой скорости. Так как дрейфовая скорость содержится в функции распределения, разложим ее в ряд Тейлора, ограничиваясь линейными членами. Подставляя это разложение (см. формулу (4.154)) в выражение, определяющее скорость изменения среднего импульса электронов за счет столкновений, для правой части (4.202), получаем

 

 

 

 

k

 

 

 

 

2π

1

 

∂t

< P α > ст

=

 

Ni σ q

3

( q)2 |Gq |2 fk+q vdα δ(εk+q − εk). (4.203)

 

 

 

 

 

 

 

Учитывая уравнение баланса импульса (4.154), окончательно для обратного времени релаксации импульса горячих электронов получаем

1

=

2π 1

Ni

( q)2 |Gq |2 fk+q

δ(εk+q εk ).

(4.204)

τ

 

 

3nm

k σ q

Глава 5

ТЕОРИЯ ЛИНЕЙНОГО ОТКЛИКА НА ВНЕШНЕЕ МЕХАНИЧЕСКОЕ ВОЗМУЩЕНИЕ

5.1.Электропроводность электронного газа. Метод Кубо

§ 1. Уравнение Лиувилля и его решение

Квантовая система может находиться в чистом или смешанном состоянии. Если система находится в чистом состоянии, то она может быть описана волновой функцией ψ , которая подчиняется уравнению Шредингера:

i

∂ψ

= Hψ,

(5.1)

∂t

 

 

 

где H−гамильтониан системы, постоянная Планка. Кванто- во-механическое среднее оператора некоторой физической величины A в состоянии, описываемом волновой функцией ψ , определяется выражением A = ψ|A|ψ . Физические величины, получающиеся в результате усреднения, должны быть действительными. Это приводит к тому, что операторы физических величин являются эрмитовыми и удовлетворяют усло-

+ + ˜

вию A = A, A = A , где знак тильды означает транспонирование, а звездочка, как обычно, комплексное сопряжение элементов матрицы. Описание системы на языке волновых функций является наиболее полным с точки зрения квантовой механики и в каком-то смысле соответствует описанию частиц на языке траекторий в классической механике.

Определим теперь понятие смешанного состояния в квантовой теории. Рассмотрим систему, которая является частью некоторой большой системы, находящейся в чистом состоянии.

§ 1. Уравнение Лиувилля и его решение

269

Пусть совокупность координат x описывает интересующую нас подсистему, а совокупность q – остальные координаты замкнутой системы. Волновая функция ψ(q, x) зависит от переменных x и q и не распадается на произведение функций, зависящих только от x и только от q . По этой причине интересующая нас малая система не имеет волновой функции и не может быть описана с максимально допустимой в квантовой механике полнотой.

Вычислим снова среднее значение оператора A , который относится к малой системе и действует только на переменные x . Обобщая результаты, полученные для чистых состояний, имеем

A

 

=

ψ (q, x) A ψ(q, x) dq dx.

(5.2)

 

 

 

Введем более удобное для практических приложений определение среднего (5.2). Определим полный набор собственных функций ϕn(x) некоторого оператора, например оператора Гамильтона, для выделенной подсистемы и аналогичный набор θn(q)для остальной системы. Тогда очевидно, что волновая функция ψ(q, x) может быть разложена в ряд

 

 

ψ(q, x) = Cn m ϕn(x) θm(q).

(5.3)

 

 

n,m

 

Подставляя этот результат в выражение (5.2), имеем

 

A

n

 

(5.4)

=

Ci n Cj m θi (q) θj (q) dq ϕn(x) A ϕm(x) dx.

 

 

 

 

m; i j

Учитывая ортонормированность собственных функций θi(q) и θj (q) , получаем

n,

Cn(j) Cm(j)Anm.

 

A =

(5.5)

m;

j

 

Для того чтобы продвинуться дальше, необходимо заметить, что коэффициенты Cn(j) и Cm(j) зависят от переменной j , относящейся к большой системе, и поэтому можно записать

Cn(j) Cm(j) = W (j) an(j) am(j) = ρmn.

(5.6)

j

j

270 Глава 5. Теория линейного отклика

Величина ρmn , введенная выше, носит название матрицы плотности. Физический смысл введенной матрицы плотности проще понять, если рассмотреть диагональные матричные элементы

ρnn = W (j) an(j)an(j), (5.7)

j

которые можно легко интерпретировать. Действительно, будем считать, что состояние малой системы является смесью чистых состояний, которые нумеруются индексом j . Величина W (j) тогда имеет смысл вероятности реализации состояния j , а произведение an(j) an(j) – вероятности реализации n -го собственного значения для j -го чистого состояния. Величина

ρnn = W (j) an(j)an(j)

j

имеет смысл вероятности для системы находиться в n -м стационарном состоянии, которое может реализоваться в любом из

возможных чистых состояний системы. Используя определение

(5.6), среднее значение оператора A можно записать достаточ-

но просто:

 

 

A =

(5.8)

ρmnAnm.

n,m

Пусть теперь оператор A , входящий в определение среднего, равен единичному оператору. Среднее значение такого оператора, очевидно, равно единице. Поэтому вместо (5.8) получаем

ρnn Sp{ρ} = 1.

(5.9)

n

Последний результат является очевидным, поскольку диагональный матричный элемент матрицы плотности имеет смысл, как это отмечено выше, вероятности нахождения системы в n -м стационарном состоянии. Вероятность находиться в одном из возможных состояний полного набора состояний равна единице.

Уместно, забегая вперед, сразу привести пример системы, находящейся в контакте с термостатом. Будем считать, что волновые функции ϕn(x) являются собственными функциями оператора Гамильтона: n = Enϕn , где En – собственные значения энергии системы. В этом случае вероятность для системы,