Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Основы конденсаторной техники

..pdf
Скачиваний:
4
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
1.48 Mб
Скачать

18. Оценка электрической прочности конденсаторов

Для оценки электрической прочности конденсаторов применяют следующие значения напряжения:

Uпр – пробивное напряжение, которое выводит конденса-

тор из строя;

Uисп – испытательное напряжение, которое конденсатор должен выдержать, не пробиваясь в течение определенного промежутка времени (по ГОСТу). Воздействию Uисп подвергается каждый конденсатор;

Uраб – рабочее напряжение, при котором конденсатор может надежно работать длительное время. Uраб указывается

в маркировке конденсатора, где его называют номинальным

Uном.

Отношение

Uпр

= К характеризует запас электрической

 

 

1

 

 

 

Uраб

 

 

прочности при работе конденсатора, а отношение

Uпр

= К2

 

 

 

 

Uисп

запас электрической прочности при испытании конденсатора. Для конденсаторов с органическим диэлектриком, заметно снижающим свою электрическую прочность с течением времени, применяют большие запасы электрической прочности:

К1 ≥10 и Uисп = 3Uраб.

Для конденсаторов с газообразным и твердым неорганическим диэлектриком, в которых явление старения диэлектрика отсутствует или выражено слабее, значения Uпр, Uисп

и Uраб сближаются. Uисп = (1,5...2,0)Uраб.

В конденсаторах с металлизированным диэлектриком в связи с их способностью к самовосстановлению при пробое

91

значение Uраб лежит ближе к Uпр, чем у конденсаторов с об-

кладками из фольги. Для них Uисп =1,5Uраб.

Для электролитических конденсаторов испытания на пробой не применяют, так как оксидные слои в этих конденсаторах используются на пределе.

19. Кратковременная электрическая прочность конденсаторов

Кратковременная электрическая прочность конденсаторов характеризуется значениями Uпр и Eпр, полученными при бы-

стром испытании. Она зависит и может изменяться от ряда факторов конструктивного характера и вызванных внешними влияниями.

Необходимо иметь в виду, что электрическая прочность, определенная на образцах диэлектрика, может отличаться от тех значений, которые можно получить в конденсаторе, изготовленном из этого диэлектрика, причем они будут всегда ниже. Электрическая прочность зависит от толщины диэлектрика.

При испытании образцов диэлектрика в условиях однородного поля удается получить линейную зависимость Uпр от

толщины и соответственно независимость Епр от толщины диэлектрика (рис. 52).

Uпр

Епр

h

h

а

б

Рис. 52. Зависимость пробивного напряжения (а) и пробивной напряженности (б) твердого диэлектрика от толщины для однонородного поля

92

Вконденсаторах чаще всего имеется неоднородное поле

украев обкладки. В этом случае напряженность поля у края

обкладки Ек может быть повышена по сравнению со средним

значением Е

= U .

Например,

при соблюдении условия

 

 

ср

h

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

hоб

< 0,2 , где h – толщина обкладки, имеем

 

 

 

h

об

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Е Е

 

 

h

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

ср 2h

 

 

 

 

 

 

 

об

 

 

Другая эмпирическая формула имеет вид

 

 

 

 

Ек = Еср

h.

 

 

Таким образом,

при заданном значении hоб увеличение

толщины диэлектрика h приводит к увеличению Ек. При увеличении толщины диэлектрика пробой у края обкладки произойдет при том же значении Ек, но величина Еср будет еще

ниже, так как искажение поля усилится и различие в значениях Ек и Еср будет еще больше. Таким образом, значение Епр,

о котором мы судим по величине Еср = Uhпр , в момент пробоя

будет падать с ростом толщины, а Uпр будет расти, но замедленно (рис. 53).

Uпр

Епр

h

h

а

б

Рис. 53. Зависимость пробивного напряжения (а) и пробивной напряженности твердого диэлектрика (б) от толщины для неоднородного поля

93

C точки зрения повышения кратковременной Епр конден-

сатора выгоднее снижать толщину диэлектрика между обкладками, применяя ряд секций с тонким диэлектриком, соединенных последовательно, чтобы обеспечить нужную величину Uраб. Однако при уменьшении толщины диэлектрика до очень

малых значений возникает опасность появления в нем слабых

 

 

 

 

 

мест. Таким образом, при ди-

 

 

 

 

 

электрике,

составленном

из

 

nh1

тонких слоев, увеличение чис-

h1

ла

слоев,

т.е.

увеличение

 

 

 

 

 

 

x

толщины,

должно

давать

по-

 

 

 

Рис. 54. Слоистый диэлектрик

вышение Епр. Пусть слоистый

диэлектрик состоит из n слоев

 

с проводящей частицей

 

 

 

 

 

с

толщиной слоя

h1. Пусть

в одном из слоев имеется слабое место, образованное прово-

дящей частицей толщиной х (рис. 54). Отношение х = a. h1

Пренебрегаем искажением поля возле частицы и считаем, что ее величина скажется лишь на снижении общей толщины изоляции. Пусть Eн – электрическая прочность здоровых сло-

ев диэлектрика. Тогда Uпр изоляции с одним поврежденным слоем можно определить по формуле

U

пр

= E h (n 1) +(h a h ) = E

(n a) h .

 

н

1

1

1

н

1

Среднее значение пробивного напряжения находится сле-

дующим образом:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E =

Uпр

=

Eн (n a) h1

= E

1a .

 

 

 

 

 

 

пр

n h1

 

n h1

 

 

н

 

 

 

 

 

 

 

 

n

С увеличением числа слоев n средняя пробивная напря-

женность будет расти,

приближаясь к значению Eн (рис. 55).

94

Однако величина Eн при не-

Епр

 

однородном поле уменьшает-

(Епр)max

ся с ростом толщины за счет

 

искажения поля у краев об-

nкр

n

кладок. Поэтому рост Епр

Рис. 55. Зависимость пробивной

слоистого диэлектрика с уве-

личением числа слоев будет

напряженности

слоистого ди-

электрика от числа слоев

идти до некоторого критиче-

ского значения nкр; далее начинается уменьшение Епр. Величина nкр зависит от толщины отдельных слоев и от площади

обкладок конденсатора.

Для получения максимальной величины Епр следует брать оптимальное число слоев nкр. Это можно осуществить в кон-

денсаторах высокого напряжения, собирая их из последовательно соединенных секций с таким расчетом, чтобы толщина диэлектрика в каждой секции была оптимальной, т.е. обеспечивала бы наивысшее значение Епр. Увеличение площади об-

кладок вызывает снижение кратковременной прочности конденсаторов, особенно при малых толщинах диэлектриков, за счет увеличения вероятности попадания слабых мест между обкладками.

20. Тепловой пробой

Формулу для расчета пробивного напряжения Uпр при те-

пловом пробое для плоского конденсатора с обкладками неограниченных размеров можно представить в виде

Uпр =115

σ h

 

,

(27)

f ε tg δ0

 

 

αtg δ

 

где σ – коэффициент теплоотдачи, Вт/(м2·К);

95

h – толщина диэлектрика, м; f – частота, Гц;

tg δ0 – тангенс угла потерь диэлектрика при t0 ;

αtgδ – температурный коэффициент тангенса угла потерь,

K1.

Действующее значение пробивного напряжения Uпр (кВ) на переменном токе определяется формулой

Uпр =382

λ

 

ϕ(c),

f ε tg δ0

 

 

αtg δ

где λ – удельная теплопроводность диэлектрика, Вт/(м·К); ϕ(с) – функция параметра с, характеризующего влияние

геометрических размеров конденсатора и условий его охлаждения на величину Uпр. Ее находят по графику (рис. 56) для

значения аргумента с, определяемого выражением

c =

λэ αт h

 

 

,

2λ (λ

э

т

h

)

 

 

 

э

 

 

где λэ – коэффициент теплопроводности материала электродов, Вт/(м·К);

αт – коэффициент теплоотдачи из диэлектрика в металл

электродов, Вт/(м2·К);

h – толщина диэлектрика, см;

hэ – толщина электрода (обкладки);

В пределе ϕ(c) стремится к значению 0,663.

Если конденсаторная секция состоит из наложенных друг на друга N пластинок диэлектрика, толщиной h1, то для расчета Uпр при тепловом пробое можно пользоваться той же фор-

мулой (27) при условии, что вместо значения h в формулу подставляется сумма всех толщин диэлектрика, т.е. h = N h1. Если

96

конденсатор плоско прессованный спиральный, то h = 4W h1, где W – число витков; h1 – толщина диэлектрика между обкладками.

Рис. 56. Зависимость ϕ(с)

В реальных характеристиках условия теплоотвода более благоприятны, чем предусматривает теоретический расчет, так как теплоотдача идет не только в направлении, перпендикулярном плоскости обкладок, но и в направлении, параллельном этой плоскости. Поэтому значения Uпр получаются несколько

заниженными.

21. Ионизационный пробой

Ионизационный пробой в конденсаторах с твердым диэлектриком может проявляться в широком интервале времени воздействия напряжения. Развитие этого пробоя связано с наличием в диэлектрике конденсатора воздушных (газовых) включений, обусловленных пористостью диэлектрика или наличием зазоров между диэлектриком и обкладками.

Если часть общего напряжения, приходящаяся на долю воздушного включения, превысит пробивное напряжение воз-

97

духа в этом включении, то в нем начнется процесс ионизации, т.е. система следующих друг за другом разрядов. О начале этого процесса можно судить по перегибу кривой tg δ = f (U ).

Значение напряжения, приложенного к конденсатору Uи, при

котором начинается ионизация воздушных включений, называют ионизирующим напряжением, а соответствующее ему значение Еи – ионизирующей напряженностью.

При ионизирующем пробое очагом зарождения пробоя является газовое включение в твердом диэлектрике.

После пробоя газа в газообразном включении происходит пробой той части твердого диэлектрика, которая примыкает к включению, за счет разрушения твердого вещества. Факторами разрушения твердого вещества являются: повышенная температура, бомбардировка заряженных частиц и химическое разрушение диэлектрика при воздействии на него продуктов ионизации воздуха – азота и окислов азота.

Рассмотрим диэлектрик, содержащий воздушное включение (рис. 57).

h

С2

 

U2

 

 

С2

 

С

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

С3

U

 

 

С1

 

 

 

 

 

 

 

h1

С1

 

U1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 57. Схема конденсатора, содержащего воздушное включение между обкладками: С1 – емкость воздушного включения; С2 – ем-

кость изоляции, отделяющей включение от обкладок; С3 – емкость остальной части изоляции; U1 – напряжение на воздушном включении; U2 – напряжение на «здоровой» части диэлектрика; U – полное напряжение, приложенное к конденсатору

98

При переменном напряжении распределение напряжения обусловлено величиной емкостей:

U2

=

C1

= h h1

;

U

1

 

C

2

ε h

 

 

 

 

1

 

U=U1 +U2 =U1 1+ hεhh1 ,

1

где ε – диэлектрическая проницаемость диэлектрика. Напряжение U будет равно напряжению ионизации Uи,

когда U1 достигает значения пробивного напряжения воздуха, при зазоре, равном h1:

 

 

 

 

 

 

h h

 

 

U

.

 

 

(ε−1) .

U

 

=U

пр.в

1

+

1

 

=

 

 

пр в

h +h

 

ε h

 

ε h

 

и

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

1

 

 

 

Величина ионизирующей напряженности

E

=

Uи

=

Uпр.в

 

1

+

h1 (ε−1)

.

(28)

h

 

h

и

 

 

ε h

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

Для того чтобы ионизация не имела места, необходимо, чтобы Eраб < Eи.

Согласно формуле (28) ионизирующая напряженность должна снижаться с увеличением толщины диэлектрика h, если h1 = const. Поэтому при изготовлении конденсаторов высокого

напряжения с целью повышения Eи и Eраб выгодно разбивать

конденсатор на ряд последовательно соединенных секций, при этом сумма толщин диэлектрика во всех секциях получается меньше, чем h диэлектрика в несекционном конденсаторе. При этом надо учесть зависимость кратковременной электрической прочности от толщины диэлектрика (рис. 58). При очень малой толщине Eи будет высоким, но Eпр может снизиться

99

E

Eпр

Eи

h′′ h

h

Рис. 58. Зависимость кратковременной электрической прочности и ионизирующей напряженности конденсатора со слоистым диэлектриком от толщины ди-

электрика

мала, т.е. постоянная времени

настолько, что запас электрической прочности окажется недостаточным.

Берут не h, а h′′, при котором значение Eпр сочета-

ется с повышенным значением Eи.

Интенсивность ионизационных процессов при постоянном напряжении обычно много меньше, чем при переменном напряжении, если проводимость диэлектрика τc велика. Если τc снижается

(при отсыревании или нагревании конденсатора), то количество вспышек ионизации в единицу времени резко возрастает и интенсивность может быть такой же, как и при переменном напряжении. Обычно напряжение ионизации при постоянном напряжении больше напряжения ионизации при переменном напряжении (рис. 59): Eи и Eпр можно повысить, если заме-

нить воздух в порах диэлектрика или в зазорах между слоями диэлектрика, диэлектриком и обкладкой изоляционной жидкостью, т.е. произвести пропитку конденсатора. Тогда формула (28) примет вид

 

 

 

 

 

 

E

 

 

=

Uпр.ж

 

ε

 

+

h1 (ε−εж )

 

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ε h

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

ж

 

 

 

h

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Uпр.ж

 

 

 

 

 

h

(ε−ε

ж

)

 

 

Uпр.ж

 

 

ε

 

h +h ε−ε

 

h

 

 

E =

 

 

 

ε

ж

+

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

ж

 

 

 

1

ж

1

 

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

ε h1

 

 

 

 

 

 

 

 

h

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

h

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ε h1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

U

пр.ж

ε

ж

(h h ) h

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

1

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ε h1

 

 

 

 

 

 

 

h

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

100

Соседние файлы в папке книги