книги / Микроэлектроника. Базовые матричные кристаллы и программируемые логические матрицы
.pdfИ И
Рис. 2.32. Однополюсный переключатель на два направления на КМОП-транзисторах:
* — условное .обозначение; б — принципиальная схема; в — топология
Рис. 2.33. D-триггер на КМОП-транзисторах:
а — упрощенная принципиальная схема; б — топология
ные шины питания и заземления очень удобно подключать к буферным транзисторам.
Пример топологического решения буферных МОП-тран- зисторов при изоляции с помощью р-л-переходов показан на рис. 2'35. Транзистор с /7-каналом расположен в /г-кар- мане, соединенном с источником питания + Ulin. Площадь р-канального транзистора больше площади п-канального, так как Wup« 3 Wl{n при Ll{n ж LKp. Истоки р- и ц-каналь- ного транзисторов соединены с шинами питания и заземления соответственно, а стоки — с выходной контактной площад кой. Если используются оксидная изоляция и поликремниевые затворы, то шины питания и заземления могут прохо дить поверх буферных транзисторов, что позволяет сокра тить площадь периферийной области БМК и повысить сте пень интеграции БИС благодаря увеличению числа ячеек в матрице.
Рис. 2.34. Организация БМК на КМОП-транзисторах:
1 — подложка |
р-типа; |
2 — контактная |
площадка и шины питания |
в периферий |
|||||||||||||
ной области |
кристалла; |
3 — контактные площадки; |
4 — транзисторы |
выходных |
|||||||||||||
буферных |
элементов |
с |
каналами |
p-типа, |
расположенные |
в |
карманах |
л-типа; |
|||||||||
5 — транзисторы выходных |
буферных |
элементов с |
каналами |
л-типа; |
6, |
7 — по- |
|||||||||||
ликремниевые |
перемычки |
в |
периферийной |
области |
кристалла |
и |
в |
ячейках |
|||||||||
матрицы; |
8 — шины |
питания |
ячеек |
матрицы; |
9 — шины |
заземления |
ячеек матри |
||||||||||
цы; Ю — контактная |
площадка |
и шины заземления в |
периферийной |
области кри |
|||||||||||||
сталла; 11 — области |
|
расположения |
знаков |
совмещения и |
тестовых |
элементов; |
|||||||||||
12 — ячейки матрицы |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
В микросхемах с МОП-транзисторами для защиты от пробоя подзатворного диэлектрика входных транзисторов используются защитные диоды (рис. 2.36). При этом долж но соблюдаться условие
^Зпр= ^пр^ок^>^проб р-п»
где f/зпр — предельно допустимое напряжение затвора; £ пр, toH— предельно допустимая напряженность электриче
ского поля в подзатворном оксиде и его толщина; UnVo0p.n— пробивное напряжение защитного диода.
В современных конструкциях БИС используется тонкий подзатворный окисел (foK« 30—70 нм; Еир « 2 - 1 0 ° В/см). Для понижения пробивного напряжения защитного диода1
Рис. 2.35. Электрическая схема (а) и топология 16) выходного бу
ферного элемента на КМОП-транзисторах:
1 — область контакта к карману /1-типа; |
2, 6 — области |
контактов к истоку и |
|
стоку /7-канального МОП-транэистора; |
3, |
4 — области контактов к истоку и сто |
|
ку /!-каиального МОП-транзистора; 5, |
7 — поликремниевые |
затворы |
К затворам
К затворам
■+ ц
of
Рис. 2.36. Защитные диоды входных буферов на КМОП-транзисторах
а — схема включения; бг в — структуры
р
Рис. 2.37. Топология входного буфера с защитными диодами, по строенного на основе элементов базовой ячейки
используется частичное перекрытие /?-л-перехода, покрыто го тонким слоем оксида, металлическим или поликремниевым электродом, соединенным с подложкой — основанием диода. В этом случае напряжение пробоя р-п-перехода сни жается вследствие сужения области пространственного заряда у границы раздела полупроводник — оксид.
При изготовлении БИС на основе БМК в качестве защит ных диодов обычно используются /?-л-переходы элементов базовой ячейки. На рис. 2.37 показан пример топологии входного защитного устройства, в котором используются диодные структуры с поликремниевыми электродами (их роль выполняют затворы) для снижения пробивного напря жения. Следует обратить внимание на то, что в приведенной структуре заземлен затвор 3 2, понижающий пробивное на пряжение /г+-/?-структуры (при этом области р2 н р 3 объеди нены каналом открытого /7-МОП-транзистора), и соединен с источником питания + Unn и соответственно с л-карма- ном затвор Зь понижающий пробивное напряжение р+-я- структуры (при этом области пг и л2 объединены каналом я-МОП-транзистора).
§2.5. Проектирование микросхем на основе базовых матричных кристаллов
Методика проектирования матричных БИС рассмотрена в работах [4, 7, 10, 11]. Процесс проектирования включает следующие укрупненные этапы:
разработка функциональной электрической схемы; разработка принципиальной электрической схемы и ее
моделирование; кодировка принципиальной схемы и синтез тестовых воз
действий для проверки функционирования; автоматизированное размещение библиотечных элементов
и трассировка межсоединений; проверка соответствия принципиальной электрической
схемы и топологии; моделирование с учетом задержек в электрических меж
соединениях для определения быстродействия. Принципиальная особенность методики проектирования
матричных БИС состоит в том, что разработка принципи альной электрической схемы производится в базисе библио теки функциональных элементов. При разработке схемы необходимо обращать внимание на согласование логических элементов и узлов внутри кристалла, а также с внешними источниками сигналов и нагрузками. Внутренние логиче ские элементы имеют определенную нагрузочную способ ность. Так, КМОП-инверторы нормально работают при на грузке на один подобный инвертор. При повышенной емко стной нагрузке необходимо использовать параллельное сое динение инверторов (см. рис.2.33). В БМК на И2Л-структу- рах используют параллельное соединение коллекторов. При
меняют |
также внутренние буферные элементы, входящие |
в состав |
библиотеки. |
На рис. 2.38 приведена структурная схема САПР мат |
ричных БИС на основе БМК. В качестве целевой функции при автоматизированном проектировании матричных БИС используется обобщенная характеристика реализации межфрагментных соединений [71:
К |
т |
F = s (^шах(^) “ |
Ph) + ^ 2 2 djh |
k = l |
I * J / = l |
гДе *max (^) — максимальная плотность горизонтальных (вертикальных) соединений в области k\ К — число прямо угольных областей матрицы, в пределах которых возможна
В производство устройству
Рис. 2.38. Структурная схема САПР матричных БИС на основе БМК
реализация соединений; Ph — пропускная способность в со ответствующем направлении в области k\ X — весовой коэф фициент; djhj — длина соединений цепи / в области kj\
т — число цепей.
Критерием оптимизации топологии является минимум F, учитывающей как число нереализованных соединений, так и суммарную длину реализованных соединений.
Размещение библиотечных элементов на кристалле вы полняется в два этапа. На первом применяется один из ал горитмов построения начального размещения, например по следовательный алгоритм размещения по связности. На втором этапе ставится задача обеспечения равномерной
плотности в горизонтальных и вертикальных сечениях A t и Bj (см. рис. 2.1). Методом итерации добиваются равно мерной плотности связей по полю кристалла. При этом вы деляются максимально перегруженные сечения матрицы и осуществляются парные перестановки библиотечных эле ментов, находящихся по разные стороны от этого сечения, с целью получения равномерной плотности соединений.
Процесс трассировки соединений в матричных БИС так же состоит из двух этапов: глобальной и локальной трас сировки. Глобальная трассировка может быть выполнена с использованием известных алгоритмов построения свя зывающих деревьев и перетрассировки соединений из об ластей с большой плотностью в области с малой плотностью соединений. На втором этапе используются алгоритмы трас сировки по магистралям и канальной трассировки [7, 111.
При трассировке электрических связей распределение проводников в каналах производится по трассам, прост ранственное положение которых заранее определено. Рас стояния между соседними трассами выбираются с учетом технологических ограничений, поэтому отпадает необходи мость в контроле монтажа на соответствие технологическим ограничениям.
ПРОГРАММИРУЕМЫЕ ЛОГИЧЕСКИЕ МАТРИЦЫ
§3.1. Реализация логических функций
врегулярных структурах
Наиболее широко регулярные структуры применяются в устройствах памяти. Однако такие регулярные структу ры, как постоянные запоминающие устройства и програм мируемые логические матрицы, весьма эффективно исполь зуются для реализации произвольных логических функ ций, особенно в микропроцессорах и микроЭВМ.
На рис. 3.1 представлены структурные схемы ПЗУ и ПЛМ.
Дешифратор ПЗУ, построенный на основе логических элементов И, реализует полный набор минтермов*. Число всех возможных минтермов, а значит, и число выходов де шифратора т = 2п. Так, при п = 3 т = 23 =8. Для перемен ных a, bt с имеем минтермы:
M0=abc\ M1=abc\ M2=abc\ M3=abc\ M^=abc\ M5=abc;
Me=abc; M7=abc. (3.1)
На рис. 3.2 показаны схемы дешифраторов на логиче ских элементах с разветвлением на входе и выходе. В ка честве элементов с разветвлением на входе могут быть ис пользованы многовходовые логические элементы И, И-НЕ, ИЛИ, ИЛИ-HE. Требуемое число элементов равно т , число входов п. При использовании логических элементов ИЛИ на выходах получается полный набор макстермов**. Используя законы дуальности булевой алгебры, легко пока зать, что дешифратор выполняет ту же функцию, что и де шифратор на элементах И, необходимо только изменить ну мерацию выходов. Естественно, что для элементов И-НЕ, ИЛИ-HE на выходах образуются инверсные коды. По рас-
* Минтермом называется конъюнкция всех п переменных в пря мом и инверсном виде.
** Макстермом называется дизъюнкция всех п переменных в прямом и инверсном виде.