Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Микроэлектроника. Гибридные интегральные функциональные устройства

.pdf
Скачиваний:
4
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
5.06 Mб
Скачать

6

Кристалл в ДИП-

Кристалл в микро-

Бсскорпусный кри­

а

корпусе

 

корпусе

 

сталл на полнимид­

3U

 

 

иом носителе

°К

Габариты

 

Габариты

 

Габарнты

 

ч

Масса,

Масса,

Масса,

у аз

знакоместа,

знакоместа,

знакоместа,

XО

г

г

г

У К

мм

 

мм

 

мм

 

14— 16

20,0 X 8.5 X

1,55

9 Х 9 Х 2 .9

0 ,45

5,3 X 6,4 X

0,04

42—48

ХЗ.О

9 ,4

 

0 ,99

Х0,8

0 ,0 6

60 .6Х 16Х

16,7 X

7 ,1 X 7 ,IX

60—64

х з ,з

23,3

X 16,7X2,9

2 ,86

Х0,8

0,16

81,5X21 X

20,8 X

9,5 x 9 ,5 X

 

X 10,7

 

X 20,8X 2,9

 

Х0,8

 

бескорпусных ИМС с применением многослойных полиимидных плат, чем устройств на ДИП-корпусах с использованием ПП и в 1,5— 10 раз устройств на микрокорпусах с примене-

Рис. 2.4. Зависимость площади поса­ дочного места 5 от типа корпуса и числа выводов УУ0:

1 — полиимидный

носитель; 2 — керамический

м икрокорпус; 3

Д И П -корпус

нием многослойной керамики. Указанный выигрыш зави­ сит от функционального назначения и сложности устройств, а также от условий использования многослойных коммута­ ционных плат: платы с наиболее высокой плотностью ли­ ний и металлизированных переходных отверстий позволяют

Параметры

Число выводов

ДИП-корпус

о

«3 о

самый короткий вывод

 

с

 

>=

3

 

S С(

 

3 = 0

 

2

= я

 

га ^ 3

Микрокорпус

самый длинный вывод

самый короткий вывод

Бсскорпусная ИМС

на лолиимид- с объемными

ном выводами носителе

Индук-

16

6,40

1,62

I ,13

0,73

0,05—0,1

0,01—0

ТИ ВН О СТЬ

28

14,77

1,62

1 ,8

1.15

До

0,25

До

0,03

В Ы ВО Д О В,

40

24,94

1,62

2,9

1,87

»

0,4

»

0,03

10-4 Тл

64

49,14

2,34

6,44

4,21

»

0,5

»

0,03

Межвы­

16

0,74

0,25

0,13

0,09

0,01—0,03

Менее 0,01

водная

ем­

28

1 ,48

0,25

0,19

0,13

0,02—0,04

»

0,01

кость,

пФ

40

2,13

0,25

0,27

0,19

0,03—0,05

»

0,01

 

 

64

4,12

0,33

0,52

0,36

До

0,06

»

0,01

 

 

»

 

 

 

 

 

 

 

 

Сопротив­

16

0,242

 

0,114

0,108

0,02

0,002

ление

выво­

28

0,319

0,139

0,136

0,04

0,002

дов, Ом

40

0,644

0,147

0,109

0,08

0,002

 

 

64

1,00

0,222

0,222

0,08—0,1

0,002

коместа, которое полностью совпадает с шагом выходных КП кристалла ИМС для метода монтажа ИМС перевернутым кристаллом, а также исходя из современных возможностей высокоплотного монтажа таких многослойных коммута­ ционных плат, как МПП на полиимидной пленке, длина межсоединений бескорпусных ИМС значительно меньше, чем корпусных (рис. 2.5).

На рис. 2.6 представлены результаты сравнения экви­ валентных узлов двух универсальных ЭВМ фирмы IBM. ЭВМ модели 3033 собирается в отдельных корпусах на пла­ тах и каналах; в конструкцию ЭВМ 3081 входят теплопро­ водящие ячейки ГИФУ и бескорпусные ИМС. Число соеди­

нений

между

уровнями сборочно-монтажных иерархий

для МЭА

на

бескорпусных ИМС меньше приблизительно

в 10

раз.

Длина соединительных проводников в ячейке

ЭВМ 3081 в 8 раз меньше, чем в эквивалентном узле ЭВМ 3033, что дает пропорциональное уменьшение времени пере­ дачи сигнала. Заметим также, что большинство межсоеди­ нений в модуле приходится на припайку кристаллов к под­ ложке, что намного надежней, чем механические соединения.

Надежность. Анализируя данные рис. 2.6, а также ком­ плекс других показателей, можно сделать вывод, что надеж­ ность аппаратуры на бескорпусных ИМС выше, чем на кор-

руется с помощью микродатчиков в течение всего времени эксплуатации. Даже при образовании течи в корпусе про­ ходит определенное время, когда при вытекании газа в ат­ мосферу из корпуса вследствие избыточности давления в нем защита кристаллов бескорпусных ИМС не нарушается. При обнаружении течи блок легко ремонтируется, т. е. корпус вскрывается, неисправность устраняется, и блок снова герметизируется.

 

Межсоединения

 

Длина

соединительных

50дВ0!Г

 

 

 

ш

прододникоВ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Между .

 

 

 

 

 

Между

платой

2000 -

 

 

 

I _

и панелью

 

 

 

 

корпусам

 

£

 

Панель

 

 

30000 -

и плошо1

 

1500

 

 

 

 

I

 

 

 

 

 

 

I *

 

 

 

 

20000 -

 

t s

1000

 

а л

^1

 

Между

 

I I«а

 

 

 

#*

 

Корпус

^ §

£

 

кристал­

 

 

 

 

_

лом и

! *

 

500 -

и плата

 

<■

корпу­

 

 

 

 

 

сом

\

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Кристалл

 

 

 

 

 

 

 

 

 

O'-

3033

3081

 

3033

3081

 

 

Эквивалентные узлы

Эквивалентные узлы

Рис. 2.6. Сравнительные данные по длине соедини­ тельных проводников (мм) и межсоединений эквива­ лентных узлов ЭВМ 3033 на корпусных и ЭВМ 3081 на бескорпусных ИМС

При индивидуальном корпусировании ИМС часто напол­ нение корпусов инертным осушенным газом не производит­ ся, т. е. они пребывают в атмосфере гермозоны не только при монтаже, но и во время хранения и эксплуатации (срав­ нительные данные по составу среды приведены в табл. 2.6). Практически невозможно создание в индивидуальных кор­ пусах ИМС избыточного давления. Контроль за давлением газа и состоянием герметичности в процессе эксплуатации с помощью датчиков также невозможен, поэтому разгер­ метизация любого корпуса в составе блока может быть обна­ ружена только после отказа ИМС. Заметим, что разгермети-

ние концентрации неосновных носителей заряда в напря­ женном полупроводнике пр/про или пп/ппо достигает 30 % при температуре —60° Си 15 % при 0° С. При — 60° С тер­ момеханические напряжения в кристалле подвижность ды­ рок уменьшают приблизительно на 3 %, а электронов уве­ личивают на 5 %. Такие изменения электрофизических пара­

метров

материала

существен­

 

 

 

 

 

 

 

но влияют

 

на

работу

ИМС.

 

 

 

 

 

 

 

Большей

надежности

уст­

 

 

 

 

 

 

 

ройств на бескорпусных ИМС

 

 

 

 

 

 

 

способствует

и

малая

 

масса

 

 

 

 

 

 

 

изделий и

конструкционных

 

 

 

 

 

 

 

узлов

(механические

испы­

 

 

 

 

 

 

 

тания).

 

 

 

 

 

приме­

 

 

 

 

 

 

 

Универсальность

 

 

 

 

 

 

 

нения.

Бескорпусные

 

ИМС

 

 

 

 

 

 

 

не имеют

ограничений

при

 

 

 

 

 

 

 

установке

на любую

комму­

 

 

 

 

 

 

 

тационную

 

плату,

несмотря

 

 

 

 

 

 

 

на то,

что

 

предпочтительно

 

 

 

 

 

 

 

использовать

платы

с

наи­

 

 

 

 

 

 

 

более

плотной

разводкой

 

 

 

 

 

 

 

(табл.

2.7).

 

В

то же

время

Рис.

2.7.

Зависимость

компо­

ДИП-корпуса

можно

 

уста­

нентов

напряженного

состоя­

навливать в основном

на пе­

ния кристалла ИМС от темпе­

чатные

платы,

а

керамичес­

ратуры окружающей среды:

кие микрокорпуса — на мно­

/ —

предол

прочности

кремния при

сж атии;

2—5

компоненты

напря­

гослойную

керамику.

 

 

ж енного

состояния

кристалла

On.

Ограничением применения

C f2 и

(7:n;

6

— напряж ение,

достаточ­

ное

для

образования

эллиптической

ДИП-корпусов является их

трещ ины

длиной 0,1 мкм

при

слиянии

двух

дислокаций

 

 

 

преимущественная

ориента­

 

 

 

 

 

 

 

ция на установку выводов в отверстия печатной платы с последующей их опайкой. Монтаж

микрокорпусов связан с поверхностной пайкой выводов на КП плат. Однако из-за различия в ТКЛР основы печат­ ных плат (стеклоэпоксида) и керамики микрокорпуса ячей­ ки МЭА» которые использует оба эти компонента, не выдер­ живают более 10— 15 термоциклов о т — 60 до + 125° С. Для того чтобы совместить монтаж керамических микрокор­ пусов и печатных плат, необходимо менять материал диэ­ лектрика плат (например, применять полиимид кевлар), вводить в обычную плату металлические сандвичи типа медь — инвар — медь толщиной 127 мкм (компенсаторы термического расширения) или применять пластмассовые переходные панели-держатели. Такие меры способствуют

удорожанию методов монтажа, приводят к ухудшению массогабаритиых показателей.

Материалоемкость. Для монтажа бескорпусных БИС до последнего времени применялась золотая проволока диа­ метром 30—40 мкм. Тем не менее расход золота в этом слу­ чае более чем в 10 раз меньше, чем для корпусных ИМС, используемых для ответственных изделий (керамические корпуса) — табл. 2.8. Других драгоценных металлов и де­ фицитных материалов, как ковар, вольфрам и т. п., при ис­ пользовании бескорпусных ИМС не применяется. Еще более разителен эффект для бескорпусных ИМС с жесткими ор­ ганизованными выводами. Необходимо заметить, что для установки микрокорпусов применяются, как было отмече­ но, многослойные керамические платы и толстопленочные платы, в которых для создания коммутационных элементов преимущественно используются молибден, серебро, палладий и др. Экономия при создании блока на базе бескорпусных ИМС за счет минимизации конструкционных элементов же­ сткости, теплоотвода, коммутационных плат по сравнению с корпусными ИМС составляет в зависимости от функцио­ нальной сложности и назначения аппаратуры нержавею­ щей стали — 1—5,0 кг, меди — 0,5—3 кг и т. д. Заключая сравнительный анализ конструкционных характеристик МЭА на бескорпусной и корпусной элементной базе, можно сделать вывод о перспективности дальнейшего развития конструктивно-технологического направления монтажа с ис­ пользованием бескорпусных ИМС (БИС и СБИС) и о посте­ пенном переходе на эти принципы проектирования и про­ изводства МЭА любого назначения.

Трудоемкость монтажных операций. Недостатками бескорпусиых БИС являются более высокая трудоемкость мик­ ромонтажа, высокая доля ручного труда. Это справедливо для ручного микромонтажа с помощью гибких проводников. Однако микромонтаж бескорпусных БИС с помощью жест­ ких организованных выводов менее трудоемок, нежели микромоитаж таких же кристаллов с помощью проволочных выводов (в 5—7 раз). Отмечая невысокую трудоемкость, зна­ чительную степень автоматизации процессов присоединения выводов от кристалла к корпусу, хотелось бы обратить вни­ мание на то, что определяющей является трудоемкость из­ готовления корпуса (с учетом отхода годных корпусов, в ко­ торых были установлены негодные ИМС).

В табл. 2.9 указана трудоемкость монтажа корпусных и бескорпусных ИМС. Различие в суммарной трудоемкости микромонтажа и монтажа на плату корпусных (керамиче-