книги / Микроэлектроника. Гибридные интегральные функциональные устройства
.pdf6 |
Кристалл в ДИП- |
Кристалл в микро- |
Бсскорпусный кри |
|||
а |
корпусе |
|
корпусе |
|
сталл на полнимид |
|
3U |
|
|
иом носителе |
|||
°К |
Габариты |
|
Габариты |
|
Габарнты |
|
ч |
Масса, |
Масса, |
Масса, |
|||
у аз |
знакоместа, |
знакоместа, |
знакоместа, |
|||
XО |
г |
г |
г |
|||
У К |
мм |
|
мм |
|
мм |
|
14— 16 |
20,0 X 8.5 X |
1,55 |
9 Х 9 Х 2 .9 |
0 ,45 |
5,3 X 6,4 X |
0,04 |
42—48 |
ХЗ.О |
9 ,4 |
|
0 ,99 |
Х0,8 |
0 ,0 6 |
60 .6Х 16Х |
16,7 X |
7 ,1 X 7 ,IX |
||||
60—64 |
х з ,з |
23,3 |
X 16,7X2,9 |
2 ,86 |
Х0,8 |
0,16 |
81,5X21 X |
20,8 X |
9,5 x 9 ,5 X |
||||
|
X 10,7 |
|
X 20,8X 2,9 |
|
Х0,8 |
|
бескорпусных ИМС с применением многослойных полиимидных плат, чем устройств на ДИП-корпусах с использованием ПП и в 1,5— 10 раз устройств на микрокорпусах с примене-
Рис. 2.4. Зависимость площади поса дочного места 5 от типа корпуса и числа выводов УУ0:
1 — полиимидный |
носитель; 2 — керамический |
м икрокорпус; 3 — |
Д И П -корпус |
нием многослойной керамики. Указанный выигрыш зави сит от функционального назначения и сложности устройств, а также от условий использования многослойных коммута ционных плат: платы с наиболее высокой плотностью ли ний и металлизированных переходных отверстий позволяют
Параметры
Число выводов
ДИП-корпус
о |
«3 о |
самый короткий вывод |
|
с |
|
>= |
3 |
|
S С( |
|
|
3 = 0 |
|
|
2 |
= я |
|
га ^ 3
Микрокорпус
самый длинный вывод |
самый короткий вывод |
Бсскорпусная ИМС
на лолиимид- с объемными
ном выводами носителе
Индук- |
16 |
6,40 |
1,62 |
I ,13 |
0,73 |
0,05—0,1 |
0,01—0 |
|||
ТИ ВН О СТЬ |
28 |
14,77 |
1,62 |
1 ,8 |
1.15 |
До |
0,25 |
До |
0,03 |
|
В Ы ВО Д О В, |
40 |
24,94 |
1,62 |
2,9 |
1,87 |
» |
0,4 |
» |
0,03 |
|
10-4 Тл |
64 |
49,14 |
2,34 |
6,44 |
4,21 |
» |
0,5 |
» |
0,03 |
|
Межвы |
16 |
0,74 |
0,25 |
0,13 |
0,09 |
0,01—0,03 |
Менее 0,01 |
|||
водная |
ем |
28 |
1 ,48 |
0,25 |
0,19 |
0,13 |
0,02—0,04 |
» |
0,01 |
|
кость, |
пФ |
40 |
2,13 |
0,25 |
0,27 |
0,19 |
0,03—0,05 |
» |
0,01 |
|
|
|
64 |
4,12 |
0,33 |
0,52 |
0,36 |
До |
0,06 |
» |
0,01 |
|
|
» |
|
|
|
|
|
|
|
|
Сопротив |
16 |
0,242 |
|
0,114 |
0,108 |
0,02 |
0,002 |
|||
ление |
выво |
28 |
0,319 |
— |
0,139 |
0,136 |
0,04 |
0,002 |
||
дов, Ом |
40 |
0,644 |
— |
0,147 |
0,109 |
0,08 |
0,002 |
|||
|
|
64 |
1,00 |
— |
0,222 |
0,222 |
0,08—0,1 |
0,002 |
коместа, которое полностью совпадает с шагом выходных КП кристалла ИМС для метода монтажа ИМС перевернутым кристаллом, а также исходя из современных возможностей высокоплотного монтажа таких многослойных коммута ционных плат, как МПП на полиимидной пленке, длина межсоединений бескорпусных ИМС значительно меньше, чем корпусных (рис. 2.5).
На рис. 2.6 представлены результаты сравнения экви валентных узлов двух универсальных ЭВМ фирмы IBM. ЭВМ модели 3033 собирается в отдельных корпусах на пла тах и каналах; в конструкцию ЭВМ 3081 входят теплопро водящие ячейки ГИФУ и бескорпусные ИМС. Число соеди
нений |
между |
уровнями сборочно-монтажных иерархий |
|
для МЭА |
на |
бескорпусных ИМС меньше приблизительно |
|
в 10 |
раз. |
Длина соединительных проводников в ячейке |
ЭВМ 3081 в 8 раз меньше, чем в эквивалентном узле ЭВМ 3033, что дает пропорциональное уменьшение времени пере дачи сигнала. Заметим также, что большинство межсоеди нений в модуле приходится на припайку кристаллов к под ложке, что намного надежней, чем механические соединения.
Надежность. Анализируя данные рис. 2.6, а также ком плекс других показателей, можно сделать вывод, что надеж ность аппаратуры на бескорпусных ИМС выше, чем на кор-
руется с помощью микродатчиков в течение всего времени эксплуатации. Даже при образовании течи в корпусе про ходит определенное время, когда при вытекании газа в ат мосферу из корпуса вследствие избыточности давления в нем защита кристаллов бескорпусных ИМС не нарушается. При обнаружении течи блок легко ремонтируется, т. е. корпус вскрывается, неисправность устраняется, и блок снова герметизируется.
|
Межсоединения |
|
Длина |
соединительных |
|||
50дВ0!Г |
|
|
|
ш |
прододникоВ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Между . |
|
|
|
|
|
|
Между |
платой |
2000 - |
|
|
|
|
I _ |
и панелью |
|
|
|
|||
|
корпусам |
|
£ |
|
Панель |
|
|
30000 - |
и плошо1 |
|
1500 |
|
|
|
|
|
I |
|
|
|
|
||
|
|
I * |
|
|
|
|
|
20000 - |
|
t s |
1000 |
|
а л |
^1 |
|
|
Между |
|
I I«а |
|
|
||
|
#* |
|
Корпус |
^ § |
£ |
||
|
кристал |
|
|
|
|
||
_ |
лом и |
! * |
|
500 - |
и плата |
|
<■ |
корпу |
|
|
|
|
|||
|
сом |
\ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Кристалл |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
O'- |
3033 |
3081 |
|
3033 |
3081 |
||
|
|
||||||
Эквивалентные узлы |
Эквивалентные узлы |
Рис. 2.6. Сравнительные данные по длине соедини тельных проводников (мм) и межсоединений эквива лентных узлов ЭВМ 3033 на корпусных и ЭВМ 3081 на бескорпусных ИМС
При индивидуальном корпусировании ИМС часто напол нение корпусов инертным осушенным газом не производит ся, т. е. они пребывают в атмосфере гермозоны не только при монтаже, но и во время хранения и эксплуатации (срав нительные данные по составу среды приведены в табл. 2.6). Практически невозможно создание в индивидуальных кор пусах ИМС избыточного давления. Контроль за давлением газа и состоянием герметичности в процессе эксплуатации с помощью датчиков также невозможен, поэтому разгер метизация любого корпуса в составе блока может быть обна ружена только после отказа ИМС. Заметим, что разгермети-
ние концентрации неосновных носителей заряда в напря женном полупроводнике пр/про или пп/ппо достигает 30 % при температуре —60° Си 15 % при 0° С. При — 60° С тер момеханические напряжения в кристалле подвижность ды рок уменьшают приблизительно на 3 %, а электронов уве личивают на 5 %. Такие изменения электрофизических пара
метров |
материала |
существен |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
но влияют |
|
на |
работу |
ИМС. |
|
|
|
|
|
|
|
|||
Большей |
надежности |
уст |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
ройств на бескорпусных ИМС |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
способствует |
и |
малая |
|
масса |
|
|
|
|
|
|
|
|||
изделий и |
конструкционных |
|
|
|
|
|
|
|
||||||
узлов |
(механические |
испы |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
тания). |
|
|
|
|
|
приме |
|
|
|
|
|
|
|
|
Универсальность |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
нения. |
Бескорпусные |
|
ИМС |
|
|
|
|
|
|
|
||||
не имеют |
ограничений |
при |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
установке |
на любую |
комму |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
тационную |
|
плату, |
несмотря |
|
|
|
|
|
|
|
||||
на то, |
что |
|
предпочтительно |
|
|
|
|
|
|
|
||||
использовать |
платы |
с |
наи |
|
|
|
|
|
|
|
||||
более |
плотной |
разводкой |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
(табл. |
2.7). |
|
В |
то же |
время |
Рис. |
2.7. |
Зависимость |
компо |
|||||
ДИП-корпуса |
можно |
|
уста |
нентов |
напряженного |
состоя |
||||||||
навливать в основном |
на пе |
ния кристалла ИМС от темпе |
||||||||||||
чатные |
платы, |
а |
керамичес |
ратуры окружающей среды: |
||||||||||
кие микрокорпуса — на мно |
/ — |
предол |
прочности |
кремния при |
||||||||||
сж атии; |
2—5 — |
компоненты |
напря |
|||||||||||
гослойную |
керамику. |
|
|
ж енного |
состояния |
кристалла |
On. |
|||||||
Ограничением применения |
C f2 и |
(7:n; |
6 |
— напряж ение, |
достаточ |
|||||||||
ное |
для |
образования |
эллиптической |
|||||||||||
ДИП-корпусов является их |
трещ ины |
длиной 0,1 мкм |
при |
слиянии |
||||||||||
двух |
дислокаций |
|
|
|
||||||||||
преимущественная |
ориента |
|
|
|
|
|
|
|
ция на установку выводов в отверстия печатной платы с последующей их опайкой. Монтаж
микрокорпусов связан с поверхностной пайкой выводов на КП плат. Однако из-за различия в ТКЛР основы печат ных плат (стеклоэпоксида) и керамики микрокорпуса ячей ки МЭА» которые использует оба эти компонента, не выдер живают более 10— 15 термоциклов о т — 60 до + 125° С. Для того чтобы совместить монтаж керамических микрокор пусов и печатных плат, необходимо менять материал диэ лектрика плат (например, применять полиимид кевлар), вводить в обычную плату металлические сандвичи типа медь — инвар — медь толщиной 127 мкм (компенсаторы термического расширения) или применять пластмассовые переходные панели-держатели. Такие меры способствуют
удорожанию методов монтажа, приводят к ухудшению массогабаритиых показателей.
Материалоемкость. Для монтажа бескорпусных БИС до последнего времени применялась золотая проволока диа метром 30—40 мкм. Тем не менее расход золота в этом слу чае более чем в 10 раз меньше, чем для корпусных ИМС, используемых для ответственных изделий (керамические корпуса) — табл. 2.8. Других драгоценных металлов и де фицитных материалов, как ковар, вольфрам и т. п., при ис пользовании бескорпусных ИМС не применяется. Еще более разителен эффект для бескорпусных ИМС с жесткими ор ганизованными выводами. Необходимо заметить, что для установки микрокорпусов применяются, как было отмече но, многослойные керамические платы и толстопленочные платы, в которых для создания коммутационных элементов преимущественно используются молибден, серебро, палладий и др. Экономия при создании блока на базе бескорпусных ИМС за счет минимизации конструкционных элементов же сткости, теплоотвода, коммутационных плат по сравнению с корпусными ИМС составляет в зависимости от функцио нальной сложности и назначения аппаратуры нержавею щей стали — 1—5,0 кг, меди — 0,5—3 кг и т. д. Заключая сравнительный анализ конструкционных характеристик МЭА на бескорпусной и корпусной элементной базе, можно сделать вывод о перспективности дальнейшего развития конструктивно-технологического направления монтажа с ис пользованием бескорпусных ИМС (БИС и СБИС) и о посте пенном переходе на эти принципы проектирования и про изводства МЭА любого назначения.
Трудоемкость монтажных операций. Недостатками бескорпусиых БИС являются более высокая трудоемкость мик ромонтажа, высокая доля ручного труда. Это справедливо для ручного микромонтажа с помощью гибких проводников. Однако микромонтаж бескорпусных БИС с помощью жест ких организованных выводов менее трудоемок, нежели микромоитаж таких же кристаллов с помощью проволочных выводов (в 5—7 раз). Отмечая невысокую трудоемкость, зна чительную степень автоматизации процессов присоединения выводов от кристалла к корпусу, хотелось бы обратить вни мание на то, что определяющей является трудоемкость из готовления корпуса (с учетом отхода годных корпусов, в ко торых были установлены негодные ИМС).
В табл. 2.9 указана трудоемкость монтажа корпусных и бескорпусных ИМС. Различие в суммарной трудоемкости микромонтажа и монтажа на плату корпусных (керамиче-