Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Управление качеством РЭС

..pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
2.87 Mб
Скачать

ные, но существенно важные и многочисленные, но несуществен­ ные и назвал этот метод анализом Парето. Он указал, что в боль­ шинстве случаев подавляющее число дефектов и связанных с ни­ ми потерь возникает из-за относительно небольшого числа при­ чин. При этом иллюстрировал это с помощью диаграммы, которая получила название диаграммы Парето.

Диаграмма Парето - инструмент, позволяющий распреде­ лить усилия для разрешения возникающих проблем и выявить ос­ новные причины, с которых нужно начинать действовать.

Диаграмма Парето позволяет отразить факторы и выявить немногочисленные, но существенно важные из них и сконцентри­ ровать усилия в решении проблемы. Иначе говоря, определить направление «главного удара» в улучшении результата.

Различают два вида диаграмм Парето.

1. Диаграмма Парето по результатам деятельности.

Эта диаграмма предназначена для выявления главной про­ блемы и отражает следующие нежелательные результаты дея­ тельности:

а) качество: дефекты, поломки, ошибки, отказы, рекламации, ремонты, возвраты продукции;

б) себестоимость: объем потерь, затраты; в) сроки поставок: нехватка запасов, ошибки в составлении

счетов, срыв сроков поставок; г) безопасность: несчастные случаи, трагические ошибки,

аварии.

2. Диаграмма Парето по причинам.

Эта диаграмма отражает причины проблем, возникающих в ходе производства, и используется для выявления главной из них:

а) исполнитель работы: смена, бригада, возраст, опыт работы, квалификация, индивидуальные характеристики;

б) оборудование: станки, агрегаты, инструменты, оснастка, организация использования, модели, штампы;

в) сырье: изготовитель, вид сырья, завод-поставщик, партия; г) метод работы: условия производства, заказ-наряды, прие­

мы работы, последовательность операций;

 

д)

измерения: точность (приборная, отсчета результата), д о с

товерность и повторяемость (разница в результатах отсчета од н о ­

го и

того

ж е значения), стабильность (повторяем ость в течение

времени), совместная точность.

 

 

 

 

П ример построения диаграммы П арето по данны м (табл. 8, 9)

приведен на рис. 23.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а

8

 

 

Контрольный листок регистрации данны х

 

 

Типы дефектов

Группы данных

Итого

 

Трещины

 

Ш1 ни

 

10

 

 

Царапины

1НПН1 НЦ...Ж1 и

42

 

 

Пятна

 

НИ I

 

6

 

 

Деформация

Ш1НН1Ш.....1Щ IIII

104

 

 

Разрыв

 

ни

 

4

 

 

Раковины

 

1ШНННННН.

20

 

 

Прочее

 

HHTfflHII

 

14

 

 

Итого

 

 

 

200

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а

9

 

 

Данны е для построения диаграммы П арето

 

 

Типы

Число

Накопленная

Процент числа

Накоп­

сумма числа

дефектов по

ленный

п/п

дефектов

дефектов

каждому призна­

дефектов

процент

А

Деформация

104

104

ку в общей сумме

52

 

52

 

Б

Царапины

42

146

73

 

21

 

в

Раковины

20

166

10

83

 

г

Трещины

10

176

5

88

 

Д

Пятна

 

6

182

3

91

 

Е

Разрыв

4

186

2

93

 

Ж

Прочее

14

200

7

100

 

 

Итого

 

200

-

100

-

 

A B C -ан ал и з. При использовании анализа Парето для пред­ ставления результатов деятельности и причин наиболее распро­ страненным методом анализа является так называемый АВС-анализ (упрощенная форма диаграммы Парето), который лучше пояснить на примере.

Дефекты

Проценты

80

60

40

20

А Б В Г Д Е Ж

Рис. 23. Диаграмма Парето по типам дефектов

Пример АВС-анализа

На складе скопилось большое количество готовой продук­ ции, реализация которой задерживается из-за длительного време­ ни их выходного контроля, предшествующего поставке потреби­ телю. В результате изготовитель несет большие убытки из-за за­ держек поставок. Было выяснено, что изготовитель проводит тща­ тельный выходной контроль всей продукции одинаково, без вся­ кого различия в их стоимости. Данные стоимости и количества изделий на складе представлены в табл. 10.

Для проведения АВС-анализа составляется таблица с накоп­ лением до 100 % (табл. 11). Используя данные табл. 11, строят кривую Парето. В прямоугольной системе координат по оси абс­ цисс (рис. 24) откладывают относительную частоту изделий и,- / А, % (данные столбца 4), а по оси ординат - относительную

стоим ость этой продукции Ст, / Ст, % (данны е столбца 6) и со ед и ­ няют полученны е точки прямыми.

Т а б л и ц а 1 0

Складские запасы

Стоимость 90...

продукта, 100 тыс. руб. Число 0,2 изделий тыс. шт.

00 р

о -г

60...

50...

чо °

о оо

70

60

0,3

0,5

0,5

0,8

О О

1,2

О m

Р

10...

0 ...

Ито­

о Tf

°

20

10

го

1,5

2,5

5,0

12,5

25

Т а б л и ц а 11

О бработанны е данны е складских запасов

Стоимость

Число изделий на складе (и,)

изделий

 

накопленные

(центр

л,-,

относительная

класса),

частота

тыс. руб.

тыс. шт.

тыс. шт.

n,/N,%

1

2

3

4

Накопленная стоимость изделий на складе

стоимость, относительная стоимость,

млн руб.

Ст, / Ст, % 5 6

95

0,2

0,2

0,8

19,0

0,8

85

0,3

0,5

2,0

44,5

9,6

75

0,5

1,0

4,0

82,0

17,6

65

0,5

1,5

6,0

114,5

24,5

55

0,8

2,3

9,2

158,5

34,0

45

1,2

3,5

14,0

212,5

45,5

35

1,5

5,0

20,0

265,0

56,7

25

2,5

7,5

30,0

327,5

70,2

15

5,0

12,5

50,0

402,5

86,7

5

12,5

25,0

100,0

465,0

100,0

Группу, которая включает продукцию стоимостью от 30 тыс. до 100 тыс. руб. (первые семь строк табл. 11), называют группой А; группу, вклю чаю щ ую самы е деш евы е изделия стоим остью до 10 тыс. руб. (последняя строка в таблице), группой С; пром еж у­

точную группу (восьмая и девятая строки в таблице, стоимость которой составляет 30 % от общей стоимости, группой В (табл. 12).

 

 

Т а б л и ц а 1 2

 

Таблица ABC-анализа складского запаса

 

Относительная частота

Относительная стоимость

Группа

(частость) количества

изделий в группе, %

 

изделий в группе, %

 

 

А

20

56,7

в

30

30

с

50

13,3

Рис. 24. Диаграмма Парето для АВС-анапиза

Из табл. 12 видно, что контроль на складе будет эффектив­ нее в том случае, если контроль изделий группы А будет самым жестким, а контроль образцов группы С - упрощенным.

Джуран называл группу А на диаграмме Парето жизненно важной зоной, на которую в первую очередь должно быть сосре­ доточено внимание при ABC-анализе. Однако ABC-анализ не ог­ раничивается только управлением складскими запасами. Такой анализ широко применяется для контроля производительности

труда и качества выпускаемой продукции, для контроля денеж­ ных сумм, связанных со сбытом, и т.д.

8.4.6. Причинно-следственная диаграмма (диаграмма Исикавы)

Результат процесса зависит от многочисленных факторов, между которыми существуют отношения типа причина - следст­ вие (результат). Мы можем определить структуру или характер этих многофакторных отношений благодаря систематическим на­ блюдениям. Трудно решить сложные проблемы, не зная этой структуры, которая представляет собой цепь причин и результа­ тов. Диаграмма причин и следствий - средство, позволяющее вы­ разить эти отношения в простой и доступной форме.

Причинно-следственная диаграмма - инструмент, позволяю­ щий выявить наиболее существенные факторы (причины), влияющие на конечный результат (следствие).

В 1953 году профессор Токийского университета Каору Исикава, обсуждая проблему качества на одном заводе, суммировал мнение инженеров в форме диаграммы причин и результатов. Считается, что тогда этот подход был применен впервые, хотя его применяли локально в научных исследованиях. Когда же диа­ грамму начали применять на практике, она оказалась весьма по­ лезной и скоро стала широко использоваться во многих компани­ ях Японии и получила название диаграммы Исикавы. Она была включена в японский промышленный стандарт (JIS) на термино­ логию в области контроля качества и определяется в нем следую­ щим образом: диаграмма причин и результатов - диаграмма, ко­ торая показывает отношение между показателем качества и воз­ действующими на него факторами.

В производственном процессе все многообразие факторов и причин можно расслаивать с помощью 5М. Поэтому процесс из­ готовления продукции, влияющий на ее качество, можно рассмат­ ривать как взаимодействие 5М. Зависимость между процессом, представляющим собой систему причинных факторов 5М, и каче-

ством, представляющим собой результат действия этих причин­ ных факторов, можно выразить графически.

Если в результате процесса качество изделия оказалось не­ удовлетворительным, значит, в системе причин, т.е. в какой-то точке процесса, произошло отклонение от заданных условий. Ес­ ли эта причина может быть обнаружена и устранена, то будут производиться изделия только высокого качества. Более того, ес­ ли постоянно поддерживать заданные условия хода процесса, то можно обеспечить формирование высокого качества выпускае­ мых изделий. Важно также, что полученный результат - показате­ ли качества (точность размеров, степень чистоты, значение элек­ трических величин и т.д.) - выражается конкретными данными. Используя эти данные, с помощью статистических методов осу­ ществляют контроль процесса, т.е. проверяют систему причинных факторов. Таким образом, процесс контролируется по фактору качества.

Для производства качественных изделий необходимо наибо­ лее важным показателям качества (являющимся следствием) по­ ставить в соответствие различные факторы производства (состав­ ляющие системы причинных факторов). Затем через воздействие на отрицательные факторы правильно подобранными мерами процесс вводят в стабильное состояние. Для этого важно пони­ мать и контролировать зависимость между характеристиками ка­ чества (следствием) и параметрами процесса (системой причин­ ных факторов). При этом удобно использовать причинноследственную диаграмму (рис. 25), которую из-за ее внешнего вида часто называют «рыбьей костью». Диаграмма для брака представлена на рис. 26.

Построение причинно-следственной диаграммы - непростое дело. Можно сказать, что те, кто преуспел в решении проблем контроля качества, это как раз те, кто освоил построение причин­ но-следственных диаграмм.

Например, при построении диаграммы причин и результатов применительно к конкретному дефекту, может быть выявлено, что число дефектов, появляющихся в разные дни недели, различ-

но: они чаще появляются в понедельник, чем в другие дни недели. Это заставит обратиться к рассмотрению факторов, которые отли­ чают понедельник от других дней недели, что в результате приве­ дет к обнаружению причины дефектов.

Рис. 25. Общий вид причинно-следственной диаграммы

Сырье, материалы

Полуфабрикаты Условия труда

Примеси

Рабочее место

Тип станка

Г

Микроклимат

 

/ Производственный

 

1

в бригаде

/ опыт

/ Качество деталей,

/

поступающих

j

 

 

 

Возможность обеспе-

 

/

/

Соблюдение

/

с предыдущей

чения заданной точно-

/ Квалификация1' технологии

1'

операции

 

 

/

 

Способности

//

 

 

 

Поведение

 

 

 

 

на работе L

 

 

Наличие

 

 

-------------------п

 

Наличие

 

 

 

 

 

 

Возраст станка

/

инструмента JL

документации

--------т

/

----------------------------------*1

1

 

 

Оборудование

Труд

 

Технология

Рис. 26. Причинно-следственная диаграмма при анализе брака

Для облегчения построения причинно-следственной диа­ граммы следует начинать с определения основных причин, а за­ тем переходить к более детальному построению причинноследственной диаграммы. В обоих случаях необходимо обеспе­ чить наиболее возможное число причин.

Для поиска причин проводят в случае необходимости актив­ ное обсуждение. Эффективным методом, применяемым в таком случае, будет «мозговой штурм», придуманный в США А.Ф. Ос­ борном.

8.4.7. Контрольные карты

Все вышеописанные статистические методы дают возмож­ ность зафиксировать состояние процесса в определенный момент времени. В отличие от них метод контрольных карт позволяет от­ слеживать состояние процесса во времени и более того - воздей­ ствовать на процесс до того, как он выйдет из под контроля.

Контрольные карты - инструмент, позволяющий отслежи­ вать ход протекания процесса и воздействовать на него (с по­ мощью соответствующей обратной связи) предупреждая его отклонения от предъявляемых к процессу требований. Типичный пример контрольной карты приведен на рис. 27. Она представляет собой контрольную карту средних арифметических и размахов,

(х и/?)-карта.

При построении контрольных карт на оси ординат отклады­ ваются значения контролируемого параметра, а на оси абсцисс - время t взятия выборки (или ее номер).

Для контрольных карт применяется трехкратное квадратиче­ ское отношение. Всякая контрольная карта состоит не менее чем из трех линий.

Центральная линия представляет собой требуемое среднее значение характеристики контролируемого параметра качества.

Так, в случае (л: и R)-карты это будут номинальные (заданные)

значения х и Л, нанесенные на соответствующие карты.

Абсолютные

значения

параметра

изменяются, размах - нет

X -карта указывает на смещение

Л-карта

U C L

R-карта не CL указывает на

смещение

L C L

Рис. 27. Пример контрольной ( х -Л)-карты

Две другие линии, одна из которых находится над централь­ ной - верхний контрольный предел (К„ или UCL - Upper Control Level), а другая под ней - нижний контрольный предел (Кн или LCL - Lower Control Level), представляют собой максимально до­ пустимые пределы изменения значений контролируемой характе­ ристики (показателя качества), чтобы считать процесс удовлетво­ ряющим предъявленным к нему требованиям. Если все точки, со­ ответствующие выборочным средним значениям контролируемо­ го параметра и его изменчивости, полученные по результатам об­ следования выборок, оказываются внутри контрольных пределов, не проявляя каких бы то ни было тенденций, то процесс рассмат­ ривается как находящийся в контролируемом состоянии. Если же, напротив, они попадут за контрольные пределы или примут ка­ кую-нибудь необычную форму расположения, то процесс счита­ ется вышедшим из-под контроля.

Оценка процессов с помощью контрольных карт. Кон­ трольное состояние объекта - это такое состояние, когда процесс