книги / Материаловедение узкощелевых и слоистых полупроводников
..pdfЯ дерн ая |
р е л а к с а ц и я |
в |
к р и с т а л л а х |
Ш Ге •• Р е ,С г / Слынько |
Е . И . , |
Хандож- |
|||||||||
ко |
А .Г ., |
Слынько В .В . |
/ / |
М атериаловедение |
узкощ елевых |
и слоистых |
|||||||||
полупроводников : С б. |
н а у ч . т р . - |
К иев: |
Н аук, |
дум ка, |
|
4 9 8 9 . - |
|||||||||
С . |
4 4 0 - 1 1 8 . |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
в |
И ссл едо ван а сп и н -реш еточн ая |
р е л ак са ц и я я д ер |
г;3 Со/ |
и |
г**Ге |
||||||||||
к р и с та л л а х CdTe'- Fe, |
с г |
в зави си м ости |
от |
концентрации |
примеси и |
||||||||||
у слови й |
|
терм и ческой |
о б р аб о тк и . Р ассм о тр ен |
воп рос |
о применимости |
||||||||||
тео р и и |
А брагам а н а |
сл у ч ай |
я д е р с |
естествен н ы м |
содержанием |
c « f . |
|||||||||
Наблюдаемые изм ен ен и я |
в р асп р ед ел ен и и |
цршлесных атом ов |
под д ей стви |
||||||||||||
ем |
терм и ческой о б работки |
согл асу ю тся |
с |
данными |
по |
м агнитной ан и зо |
|||||||||
тропии |
и |
м агнитной |
восп ри и м чи вости . |
И л .4 . |
Т а б л .2 . |
Б и б л и о г р .:1 0 н а зв . |
УДК 5 4 6 .4 8 » 2 4 1 :5 4 6 .2 8 9
Анализ компенсационны х п р о ц ессо в в легированны х полупроводниках ти
п а |
|
А * ô u / |
Фейчук |
П .И ., |
Ф очук'П .М ., |
П анчук |
О .Э . |
/ / |
М атериаловеде |
|||||||||||||||
ние |
узкощ елевы х |
и |
слоисты х |
полупроводников: |
С б .н а у ч .т р . - |
Киев |
||||||||||||||||||
Н ау к .д у м ка, |
4 9 8 9 . |
- С. 4 4 8 - 1 2 4 . |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
П роведен |
ан ал и з |
ч еты рех |
типов |
со б ствен н о й |
и |
примесной самоком - |
||||||||||||||||
п ен сащ ш в бинарных |
п олупроводниках . Рассм отрены |
примеры |
самокомпеи- |
|||||||||||||||||||||
сации |
в к р и с та л л а х |
С4 Ге |
|
, |
легированны х |
акц еп торн ой , |
донорной и ам |
|||||||||||||||||
ф отерной примесями |
( |
Сц у |
I n |
, |
Н е |
) . |
Б и б л и о гр .: |
4 0 |
н а з в . |
|
||||||||||||||
У Ж 5 4 1 .4 2 3 .4 /6 4 6 .4 8 * 2 4 + 5 4 6 .2 8 9 / |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||
Дефекты структуры |
к р и стал л о в |
|
Сс(Ге |
% легированны х |
Се |
/Щ эрбак Л .П .// |
||||||||||||||||||
М атериаловедение |
узкощ елевы х |
и |
слоистых |
полупроводников: |
С б .н ау ч . |
|||||||||||||||||||
т р . |
- К и е в : |
Пау1С.думка, |
4 9 8 9 . |
- С. 4 2 4 -4 2 4 . |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
|
|
М етодами радиом етрии |
и |
оптической микроскопии в со четан и и с |
|||||||||||||||||||
избирательны м |
травлением |
и сслед о ван о |
р асп ред елен и е |
S e |
по крис |
|||||||||||||||||||
та л л у |
CofTe |
при |
выращ ивании методом Бридж мена,в |
интервале |
концен |
|||||||||||||||||||
трац и й введен н о й |
в |
р а с п л а в |
примеси |
с9 |
= |
5*40 |
^-б* 4 0 ^ |
см "‘’ .У ста |
||||||||||||||||
н о вл ен а конц ен трац и он н ая |
зави си м ость |
эфф ективного |
коэффициента |
|||||||||||||||||||||
р а с п р ед е л ен и я |
Se |
в |
GelТе |
, |
обусловленное неравновесным |
захватом |
||||||||||||||||||
п рим еси . П оказан о |
изм енение |
ти п а |
структурны х |
д еф екто в, |
связан н ое |
|||||||||||||||||||
с |
увеличением |
концентраций |
S e |
в |
реш етке |
С4Ге |
. И л .2 . Б и б ли о гр .: |
|||||||||||||||||
7 |
н а з в . |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
У Ж 6 2 4 .3 4 5 .5 9 2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
Импульсное л азер н о е |
напыление |
тонких |
п ленок |
сложных полупроводни |
||||||||||||||||||||
к о в |
/ |
Павлгак |
|
В .И . |
/ / |
М атериаловедение |
узкощ елевых |
и |
слоистых полу |
|||||||||||||||
п роводников: |
|
Сб. |
н а у ч .т р . |
- К иев: |
Н аук .д ум ка, |
4 9 8 9 . |
- |
С. 4 2 4 - 1 2 7 , |
||||||||||||||||
|
|
|
И сследую тся |
особен н ости |
исп арен и я и конденсации при лазерном |
|||||||||||||||||||
распы лении м онокристаллов |
Getsb |
, |
Pfy-t Sex Те, |
, |
СНГе . Эксперимен |
|||||||||||||||||||
тал ьн о у с та н о в л е н а |
общая |
для |
кри стал л и чески х |
полупроводниковых ми |
||||||||||||||||||||
шеней |
закон ом ерн ость |
зави си м ости |
эф ф ективности и спарения |
от плот |
||||||||||||||||||||
н о сти |
п о то к а |
|
л а зе р н о го и злучен и я |
в |
фокальном |
п я т н е . |
И л .2 . |
Библи |
о г р . : 6 н а з в .
Микрозондовые |
и электронно -м икроскопические |
и ссл ед о ван и я поверхно |
||||||||||||||
сти полупроводников после л а зер н о го во зд ей ств и я |
/ Б у д зу ляк |
И .М ., |
||||||||||||||
Новикова А .А.' |
/ / М атериаловедение узкощ елевых и |
сложных полупро |
||||||||||||||
водников: С б .н а у ч .т р , |
- |
К иев: Н аук, дум ка, 1 9 8 9 . |
- С . |
1 2 7 - 1 3 1 . |
|
|||||||||||
И сследовано влияние |
поглощающего п оверхн остн ого |
и зл у чен и я |
н а |
|||||||||||||
оостав |
приповерхностной |
области и х а р а к те р |
последующ его полирующе |
|||||||||||||
г о и селекти вн ого хим ического |
тр авлен и я облученной п о вер х н о сти |
мо |
||||||||||||||
нокристаллов |
сложных полупроводников. С помощью |
электрон н ой |
о ж е - |
|||||||||||||
спектроскопии |
п о к азан о , |
ч то |
на.облученны х |
у ч а с т к а х происходит |
и з |
|||||||||||
менение содержания у гл ер о д а |
и |
ки сл о р о д а. |
И л .2 . |
Б и б л и о гр .: |
4 |
н а з в . |
||||||||||
У Ж 6 2 1 .3 1 5 .5 9 2 :5 3 9 .2 1 3 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Технология |
получения |
аморфного |
ги д р о ген и зи р о ван н о го крем ния |
и |
е г о |
|||||||||||
сво й ства / |
Комиссаров |
Г .П . / / |
М атериаловедение |
узкощ елевы х |
и |
слои |
||||||||||
стых полупроводников: |
Сб. н ау ч . |
т р . - К иев: |
Н аук .д ум ка, 1 9 8 9 . |
- |
||||||||||||
С . 1 3 2 -1 3 5 . |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Рассмотрены сво й ства пленок |
аморфного |
ги д р о ген и зи р о ван н о го |
||||||||||||||
кремния, получаемого разложением м оносилана в |
тлеющем р а зр я д е |
в |
||||||||||||||
зависим ости от таких технологических режимов, |
к а к тем п ер ату р а |
под |
||||||||||||||
ложки, |
мощность В Ч -разряда, |
давление р а б о ч е го |
г а з а . Приведены |
о с - |
||||||||||||
новые |
результаты исследований . Ил. 2 . |
|
|
|
|
|
|
|
|
У Ж ‘6 2 1 .3 1 5 :5 9 2
К ритическая тем пература в узкощ елевых полупроводниках, испытываю
щих структурный фазовый |
п ереход / |
Анткив З .П . / / М атериаловедение |
|||||||||
узкощ елевых и |
слоистых |
полупроводников: Сб. н ау ч . |
т р . |
- К иев: |
Н аук, |
||||||
дум ка, Ï9 8 9 . |
- С . |
1 3 5 -4 3 8 . |
|
|
|
|
|
|
|||
И сследована |
тем пература |
стр у кту р н о го ф азового |
п ер ех о д а в |
у з к о - |
|||||||
щелевом полупроводнике |
/#/-* Л»х г ё |
. П остроена ф азо в ая |
ди аграм м а |
в |
|||||||
п л оскости переменных Г» , |
я |
( £ -те м п е р а ту р а ф азо во го |
п е р е х о д а , |
я |
- |
||||||
концентрация |
носителей) |
0 |
учетом тем пературной зави си м ости ширины |
||||||||
запрещ енной |
зоны, |
периода |
реш етки, |
эн ерги и Ферми. Р ассм о тр ен о |
т а к |
||||||
же влияние |
н а |
фазовую диаграмму ангармонизм а и ф луктуаций п ар ам ет |
|||||||||
р а п о р яд ка . И л .1 . Б и б ли о гр .: |
9 н а з в . |
|
|
|
|