Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Надежность судовой электронной аппаратуры и систем автоматического управления

..pdf
Скачиваний:
5
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
21.23 Mб
Скачать

Из этих распределений видно, что до 10% ламп и около 5% конденсаторов работают на предельных режимах, а у некоторой части конденсаторов Кп больше единицы. Слишком малые значе­ ния Кн (0,1—0,2) обеспечивают большой запас.прочности, но при­ водят к увеличению габаритов и веса аппаратуры. Поэтому ре­ комендуется выбирать /(„ в пределах 0,4—0,8.

В процессе эксплуатации элементы могут изменять величину своего основного параметра. Это может привести к изменению

Рис. 56. Изменение величины сопротивления в зависимости от срока

служ бы .

коэффициента нагрузки самого элемента и сопряженных с ним звеньев системы. Если изменение параметров вызовет увеличение коэффициента нагрузки, то надежность такой системы понизится. Поэтому для некоторых элементов возможное изменение пара­ метров в процессе эксплуатации необходимо учитывать уже при проектировании. Постоянные композиционные сопротивления, на­ пример в процессе работы, увеличивают свой номинал.

На рис. 56 показана плотность распределения величин сопро­ тивлений в зависимости от времени их работы и изменение мате­ матического ожидания величин сопротивления. Как видно из ри­ сунка, величина сопротивления за два года изменилась примерно на 3 %. При выборе коэффициента нагрузки такое изменение пара­ метров необходимо учитывать.

§ 52. Надежность типовых элементов

Рассмотрим влияние режимов работы на характеристики на­ дежности некоторых элементов радиоэлектронного оборудования.

С о п р о т и в л е н и я являются наиболее массовыми типч выми элементами радиоэлектронной аппаратуры и систем управ­ ления. Их надежность по сравнению с другими элементами отно­ сительно велика. Однако отказы аппаратуры, вызываемые выхо­ дом из строя сопротивлений, наблюдаются довольно часто в связи

с тем, что в аппаратуре их в несколько раз больше, чем’ остальных элементов..

Поэтому снижение, опасности отказов сопротивлений даже на небольшую величину существенно влияет на повышение надеж­ ности радиоэлектронной аппаратуры. Необходимо особенно тща­ тельно анализировать режимы и условия, в которых они работают, не допускать превышения предельно Допустимых значений мощ­ ностей, использовать сопротивления в условиях, на которые они

рассчитаны.

На рис. 57—61 приведены зависимости опасности отка­ зов сопротивлений от темпе­ ратуры окружающей среды и коэффициентов нагрузки.

Коэффициент нагрузки сопротивлений определяется по формуле

 

 

 

 

tt?D

(185)

 

 

 

 

K„ = -mr-,

 

 

 

 

где Wr - рассеиваемая

мощ­

 

 

 

 

ность;

 

 

 

т

т , с

W0 — номинальная

мощ­

Рис. 57. Зависимость опасности отказов

ность.

 

Приведенные графики по­

объемного сопротивления

(1 вт) от окру­

казывают, что значения опас­

жающей ‘температуры и

коэффициента

 

нагрузки.

 

 

ности отказов для различных

 

 

 

 

режимов могут отличаться в

десятки и даже сотни раз. Следовательно, за счет облегчения

тем­

пературных

и электрических

режимов возможно значительное

повышение

надёжности.

 

 

 

При работе в условиях повышенной температуры следует сни­ жать рассеиваемую мощность. Графики зависимости предельно допустимой нагрузки пленочных и проволочных сопротивлений от температуры окружающей среды представлены на рис. 62 и 63.

К о н д е н с а т о р ы , как и сопротивления, имеют достаточно большую надежность по сравнению с другими элементами радио­ электронной аппаратуры. Но так как они используются в аппа­ ратуре в большом количестве, отказы из-за них достаточно часты. Поэтому для повышения надежности аппаратуры в целом необ­ ходимо принять все меры к увеличению срока службы конденса­ торов.

Опыт эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры показал, что наиболее надежными являются слюдяные конденсаторы; наи­ менее надежны конденсаторы переменной емкости с воздушным диэлектриком и электролитические конденсаторы. Установлено, что опасность отказов зависит от назначения конденсатора в схеме.

Рис. 58. Зависимость опасности отказов композиционных сопротивлений от температуры окружающей среды и коэффициентов нагрузки. Заштри­ хованная область — рекомендуемая для использования.

Рйс. 59. Зависимость опасности отказов

Рис. 60.

Зависимость

опасности

сопротивлений от коэффициентов нагруз­

отказов сопротивлений

от темпе­

ки при температуре окружающей среды

ратуры

окружающей среды при

90° С. Сопротивления:

номинальной

нагрузке.

Сопроти­

/ — пленочное; 2 — проволочное; J — угл ер о ­

 

 

вления:

 

дистое.

/ — плёночное;

2 — проволочное: 3 —

 

 

углеродистое.

 

углеродистых (1) и проволочных (2) со­ противлений от коэффициента нагрузки.

Рис. 62. Зависимость предельно допусти­ мой нагрузки пленочных сопротивлений от температуры окружающей среды.

Наибольшая опасность отказов наблюдается у разделительных и блокировочных конденсаторов, наименьшая — у контурных и накопительных. Это объясняется различием режимов работы. Наи­ более частым видом отказа конденсаторов является пробой ди­ электрика, перекрытие между обкладками по поверхности (по-

км

Рис. 63. Зависимость предельно допустимой нагрузки проволоч­ ных сопротивлений от температуры окружающей среды.

верхностный разряд) и обрыв выводов. У конденсаторов некото­ рых типов, особенно у электролитических, в зависимости от вре­ мени работы значительно уменьшается емкость.

Анализ причин выхода из строя кондёнсаторов показывает, что около 80% отказов обусловлено пробоем, перекрытием и обры­ вом выводов, 15% — уменьшением емкости ниже допустимого предела и 5 % — уменьшением сопротивления изоляции между обкладками.

Срок службы конденсаторов зависит от температуры окружаю­ щей среды и от коэффициента нагрузки, под которым понимают

отношение напряжения, приложенного к конденсатору, к номи­ нальному напряжению, т. е.

(186)

где Up — напряжение, приложенное к конденсатору; Ц0 — номинальное напряжение.

Рис. 64. Зависимость опасности

Рис. 65. Зависимость опасности отказов

отказов конденсаторов от коэффи­

керамических конденсаторов от окружа­

циента нагрузки.

ющей температуры при различных коэф­

Конденсаторы: / — слюдяной; 2— бу­

фициентах нагрузки.

мажный; 8, 4 — керамические.

 

Зависимость опасности отказов конденсаторов от коэффициента нагрузки показана на рис. 64.

Зависимость опасности отказов некоторых типов конденсаторов

. от температуры окружающей среды при различных коэффициен­ тах нагрузки изображена на рис. 65—68. Как видно из рисунков, срок службы конденсаторов с понижением коэффициента нагрузки

возрастает. Поэтому при

проектировании

аппаратуры конденса­

 

 

торы

рекомендуется

 

применять

 

 

так, чтобы прикладываемое к ним

 

 

напряжение 'было

меньше номи­

 

 

нального

примерно

в

два

раза,

 

 

т. е.

Ка «

0,5. Это

значительно

 

 

увеличит срок

их

службы и,, сле­

 

 

довательно,

повысит

надежность

 

 

аппаратуры.

 

 

 

 

 

 

 

П о л у п р о в о д н и к о в ы е

Рис. 66. Зависимость опасности

от­

п р и б о р ы ,

обладая

целым ря­

дом

преимуществ,

находят

все

казов бумажных конденсаторов

от

большее

применение в радиоэлек­

окружающей температуры при раз­

личны* коэффициентах нагрузки.

тронной

аппаратуре

и

системах

управления различного назначения. Одним из важнейших прей-,

муществ

полупроводниковых приборов является их большая на­

дежность

по сравнению с

 

1,0

W----

 

 

 

электронными

лампами,

 

 

 

 

 

0.8

 

 

 

 

повышенная

устойчивость

 

0.6

 

 

7 1 7 7

к ударным

и вибрацион­

 

 

 

 

 

 

71

ным

нагрузкам

и малые

I

0.2.

 

 

значения-

 

рассеиваемой

 

мощности. В то же время

ZOJ

 

 

 

//

 

полупроводниковые прибо­

§

ОМ

 

 

 

 

ры весьма чуствительны к

S

0.06

 

 

 

 

перегрузкам

по току и по

« «w

 

у -

 

 

напряжению и выходят из

 

0.02

 

 

 

строя

даже

при

кратко­

 

 

У

 

 

временных

перегрузках,

 

0.01

о

го40

во

юотг,°ет

измеряемых

долями

се­

 

 

во

кунды.

 

 

полупро­

Рис. 67. Зависимость опасности отказов слюдя­

Надежность

ных конденсаторов от окружающей температу­

водниковых

приборов

за­

ры при

различных коэффициентах нагрузки.

висит главным образом от

 

 

 

 

 

 

коллектор­

температуры перехода (для транзисторов температура

ного

перехода),

которая

определяется по формуле

 

 

 

 

 

 

Tf = ТА. +

BW,

 

 

(187)

1.0

 

 

 

 

/ J

T

Z

0,8

 

 

 

1

0.6

 

 

 

1

1—

 

 

 

 

LLI

 

’ и

£

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,2

 

 

 

â

 

 

1 0,1

 

/

-

{L

 

 

 

L

 

 

О 0,08 Z**0**

 

h

 

 

0,06

 

 

 

 

 

 

0.04

'

^У

/

/

 

 

 

0,02>

У

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A

!

 

 

 

 

0,010

 

t

 

 

 

 

>20

4060.

fl0

, J)0

120

140

Рис. 68. Зависимость опасности отказов слю­ дяных конденсаторов из фольги от окружа­ ющей температуры при различных коэффи­ циентах нагрузки.

где ТА температура окружа­

ющей среды или тем­ пература корпуса (приборы с жесткими выводами);

0— тепловое сопротивле­ ние между переходом

иокружающей сре­ дой (для приборов с мягкими выводами), или между переходом

икорпусом (для при­ боров с жесткими вы­ водами);

W — средняя

мощность

рассеяния

при тем­

пературе

перехода

Т,.

Для наиболее употребляемых, типов транзисторов тепловое сопротивление между переходом и корпусом

© = 0,11° С!мвт\

тепловое сопротивление между переходом и окружающей средой

© = 0,25° С!мет.

Опасность отказов полупроводниковых приборов зависит от температуры окружающей среды и коэффициента нагрузки.

Опасность отказов транзисторов выше, чем диодов, поскольку

транзисторы имеют два

перехода, более сложную

конструкцию

и большее число выводов.

 

 

Коэффициент нагрузки полупроводниковых приборов опреде­

ляется по формуле

 

 

 

Ки = -£ >

(188)

где Wp — рабочая мощность рассеяния;

 

W0 — номинальная мощность рассеяния (по ТУ).

При определении /(„ транзисторов обычно принимают мощность рассеяния на коллекторе. Если в переходе эмиттер—база имеет место высокое рассеяние мощности, то нужно принимать ее среднее значение.

При применении триодов в переключающих схемах может по­ требоваться расчет мощности, рассеиваемой на . те части цикла, в течение которых происходит запирание и отпирание транзи­ стора. В этом случае, чтобы получить общую среднюю мощность рассеяния, нужно к мощности, рассеиваемой при. запирании и от­ пирании транзистора, прибавить мощность, рассеиваемую при

открытом транзисторе, и полученный результат усреднить, т. е.

W = * А + * а + *»*»

(189)

где Wx

— мощность рассеяния транзистора в открытом состоянии;

W 2 — мощность

рассеяния

при

открывании транзистора;

W3

— мощность

рассеяния

при

запирании транзистора;

*i

— время открытого состояния транзистора;

*2

— время

открывания транзистора;

*3 — время

запирания транзистора;

/ц — общее время цикла

 

 

*ц — *1 + *2 "Ъ

При определении Ка детекторных диодов за рабочую мощность принимается средняя или пиковая мощность высокой частоты, подаваемая на диод. За номинальную мощность принимается сред­ няя или пиковая мощность выгорания. Как номинальная, так и рабочая мощности должны выражаться либо в средних значениях, либо в пиковых. Для определения импульсного режима также берется отношение рабочей мощности к номинальной.

В некоторых случаях коэффициент нагрузки полупроводнико­ вых приборов, определяемый отношением реально рассеиваемой

мощности к максимально допустимой по ТУ, особенно сильно влияет на опасность отказов после достижения некоторого крити­ ческого значения /<„кр, связанного с температурой окружающей

среды следующим экспериментально найденным сотношением:

^»„р = ехр (— 3

>

(190)

где t0 — температура окружающей

среды;

 

^пах — максимально допустимое значение температуры окру­ жающей среды, оговоренное ТУ.

На основе оценки опасности отказов по результатам испытаний точечных триодов установлено, что влияние температуры и мощ-*

ности

рассеивания

на

надеж­

 

 

 

 

ность этих триодов можно аппро­

 

 

 

 

ксимировать уравнением

вида

 

 

 

 

у = 4,445* 10“4ехр х

 

 

 

 

 

X

1,336 ( - ^ -

358^)} +

 

 

 

 

 

+ 0,464-^,

 

(191)

 

 

 

 

где

X — ожидаемая опасность

 

 

 

 

 

отказов,

%

на

1000

 

 

 

 

 

час.;

 

 

 

 

 

 

 

tQ— температура окружа­

 

 

 

 

 

ющей среды в граду­

 

 

 

 

 

сах Кельвина (макси­

зов точечных триодов от температуры и

 

мально

допустимая

 

температура

 

элек­

мощности рассеивания:

 

 

 

/ — постоянная

нагрузка

№ =20

.мет;

 

тронно-дырочного пе­

 

2— постоянная

нагрузка

№= 10

мет;

 

рехода

составляет

условия хранения.

 

 

85° С или 358,16° К);

 

 

 

 

Рк — рассеиваемая мощность, мет (максимально допустимая

 

мощность рассеивания

10 мет).

 

 

 

На рис. 69 представлена расчетная зависимость опасности от­ казов точечных триодов от температуры и мощности рассеивания.

Э л е к т р о в а к у у м н ы е п р и б о р ы также широко применяются в электронной аппаратуре и в системах управления. Надежность ЭВП определяется не только их конструкцией и уров­ нем технологии производства, но также режимами и условиями их эксплуатации.

Наиболее часто наблюдаются отказы СВЧ приборов (магнетро­ нов, клистронов, резонансных разрядников), а также модулятор­ ных и мощных генераторных ламп. В большинстве случаев это

объясняется использованием этих приборов в тяжелых тепловых и предельных электрических режимах эксплуатации.

Причины выхода из строя электровакуумных приборов можно разбить на две группы:

1)определяющие внезапный выход ламп;

2)ускоряющие потерю работоспособности ламп.

Причины первой группы кроются главным образом в недоста­

точной

отработанности

технологических процессов, загрязнен­

 

 

 

ности производственных

помещений и

 

 

 

плохом

контроле [57]. Они

приводят

 

 

 

к короткому замыканию между элёк-

 

 

 

тродами, трещинам ножек и колб, обры­

 

 

 

вам электродов и др.

 

 

 

 

 

 

 

 

Причинами второй группы являются

 

 

 

повышение или понижение напряжения

 

 

 

накала,

увеличение

коэффициента

на­

 

 

 

грузки,

увеличение

температуры

бал­

 

 

 

лона, наличие вибраций и т. п. Повы­

 

 

 

шенное

напряжение

накала

вызывает

 

 

 

интенсивное испарение

и

окисление

 

 

 

бария. Пониженное напряжение накала

 

 

 

ведет к быстрому разрушению катода

 

 

 

газами,

к слабой диффузии бария в

 

 

 

оксидном катоде, что также отрицатель­

1.0 1,2 >-

 

 

но сказывается на сроке службы ламп.

18 1.8 2.0 2,2

2,4

Кн

Рассмотрим влияние режимов рабо­

Рис. 70. Зависимость средне­

 

ты и эксплуатационных факторов на на­

го срока службы сверхминиа­

 

дежность электровакуумных

приборов.

тюрных ламп от коэффициен­

 

 

. Коэффициент нагрузки в сильной

та

нагрузки.

 

 

степени влияет на срок службы и опас­ ность отказов ламп. При повышении коэффициента нагрузки про­

исходит перегрев электродов

ламп, усиливается

газовыделение,

появляется

возможность

возникновения

межэлектродных

пробоев.

 

 

 

На рис. 70 показана зависимость относительного изменения среднего срока службы т сверхминиатюрных ламп от вели­

чины Кн- Если /Сн больше единицы, средний срок службы резко сни­

жается и составляет единицы процентов от его значения при

номинальной

нагрузке. Так,

например, увеличение

Кн на

30% приводит

к десятикратному сокращению среднего

срока

.службы.

 

 

 

Коэффициенты нагрузки для электронных ламп определяются

по формулам

 

 

 

 

к

- J L

 

 

ЛиИ7 — W« »