Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Электронная оптика и электроннолучевые приборы

..pdf
Скачиваний:
7
Добавлен:
20.11.2023
Размер:
25.05 Mб
Скачать

т. е. площади, ограниченные кривыми 1 и 2 на рис. 1.51, при фик­ сированном значении га/, равны. В то же время оптическая сила магнитной линзы пропорциональна В02 и, следовательно, при рас­ пределении поля, представленном кривой 2 на рис. 1.51, линза бу­ дет более сильной. Таким образом, уменьшение протяженности об­ ласти поля вдоль оси и увеличение максимального значения Во (г) приводит к увеличению оптической силы магнитной линзы. Прак­ тически короткофокусные магнитные линзы удается получить, за­ ключая фокусирующую катушку в оболочку из ферромагнитного материала (рис. 1.52).

Уменьшая ширину зазора s в магнитопроводе, можно «сжать» кривую распределения магнитного поля вдоль оси и соответствен­

но увеличить

оптическую

силу

 

линзы. Еще больший эффект по­

 

лучается

в

случае

применения

 

специальных полюсных

наконеч­

 

ников, помещаемых внутрь маг-

 

нитопровода

(рис.

1.53).

 

 

 

 

Линзы с полюсными наконеч­

 

никами,

используемые

в элект­

 

ронных микроскопах,

имеют

фо­

 

кусное

расстояние

 

всего

в

не­

 

сколько

 

миллиметров.

Влияние

 

ферромагнитной

оболочки

 

на

 

распределение магнитного

поля

Рис. 1.51. Распределение магнит­

вдоль оси

магнитной

линзы

 

гра­

фически

 

представлено

 

на

ного поля линзы

рис. 1.54.

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 1.54, г представлено также распределение поля в так называемой двойной магнитной линзе, образованной двумя ка­ тушками, заключенными в ферромагнитную оболочку с перегород­ кой, причем токи в катушках имеют противоположное направле­ ние. В этом случае оптические силы линз, образованных каждой ка­ тушкой, складываются, так как величина 1// пропорциональна Во2, т. е. не зависит от направления магнитной индукции. В то же время углы поворота изображения вычитаются, так как ф ~ В 0, и при из­ менении направления магнитного поля (тока в катушке) на обрат­ ное угол поворота также меняет знак.

Таким образом, двойная магнитная линза, образованная оди­ наковыми катушками, имеет вдвое большую по сравнению с каж­ дой из составляющих ее линз оптическую силу и не поворачивает

изображение (ф = ф 1—ф2=0).

Такие линзы

находят применение

в тех случаях, когда поворот

изображения

почему-либо нежела­

телен.

 

 

Расчет параметров магнитных линз с ферромагнитными оболоч­ ками представляет значительные трудности. Задачу можно решить подбором функции В0(г), достаточно хорошо аппроксимирующей истинное распределение магнитной индукции вдоль оси линзы и допускающей аналитическое решение основных уравнений. Приме-

/

Рис. 1.52. Фокусирую­

Рис. 1.53. Линза с по­

щая катушка с ферро­

люсными

наконечни­

магнитной

оболочкой:

ками:

1-ч обмотка;

2 — оболоч­

/ — обмотка;

2 — ферро­

ка

магнитная оболочка; 3

 

 

полюсные

наконечники

Рис. 1.54. Влияние ферромагнитной оболочки на распределение маг­ нитного поля:

а —катушка

без оболочки; б, в — катушки с

ферромагнитными оболочками;

г —двойная

магнитная линза; д — катушка

с ферромагнитной оболочкой

и полюсными наконечниками

ры таких аппроксимирующих функций были приведены в § 1.5 [(см. формулы (1.76) и (1.77)].

Исследование панцирных (заключенных в ферромагнитные обо­ лочки) магнитных линз показало, что основным геометрическим со­ отношением, определяющим (при заданных ампервитках и энергии

электронов), оптические

парамет­

 

 

ры

линзы,

является

 

величина

 

 

s/D— отношение

ширины

зазора

 

 

к внутреннему диаметру

ферро­

 

 

магнитной

 

оболочки

 

(см.

рис.

 

 

1.52). В качестве примера

на

 

 

рис.

1.55 приведены

графики

за­

 

 

висимости

фокусного

расстояния

 

 

панцирной

магнитной

 

линзы от

 

 

отношения

s/D

при

различных

 

 

значениях

(nI)2/Uo=k.

Как вид­

 

 

но из рисунка, изменение отно­

 

 

шения s/D сильнее влияет на оп­

 

 

тическую силу при

меньших ам­

 

 

первитках. Это

объясняется

тем,

 

 

что при

увеличении

(л /)2 магни-

 

 

топровод

 

насыщается

 

и

кривая

 

 

Bo(z)

«расширяется»

вдоль

оси.

 

 

Влияние отношения

ширины за­

 

 

зора

 

к

внутреннему

 

диаметру

 

 

ферромагнитной

оболочки

на оп­

 

 

тическую

 

силу

более

 

выражено

Рис. 1.55. Влияние отношения ши­

при s/D< 1.

При s/D> 1,5 изме­

рины зазора к внутреннему диа­

нение

этого

отношения

сравни­

метру ферромагнитной

оболочки

тельно

мало

влияет

 

на

оптиче­

на оптические свойства

линзы

скую силу.

Для приближенного расчета панцирных магнитных линз можно

использовать формулу (1.185), введя коэффициент^<1:

 

п1 » 106 ] / 2R^U° ,

(1.202)

где 2R — внутренний диаметр магнитопровода, а &=0,6-М),75. Коэффициент k при изменении п1 не остается постоянным — с

увеличением ампервитков значение k растет, приближаясь к едини­ це при насыщении ферромагнетика.

Магнитные линзы с ферромагнитной оболочкой нашли широ­ кое распространение благодаря возможности получать малые фо­ кусные расстояния. Преимуществом панцирных линз является их большая экономичность за счет концентрации магнитного поля ферромагнетиком. Но даже при использовании ферромагнитных оболочек и полюсных наконечников имеет место ощутимая затрата энергии на возбуждение магнитного поля. Очевидно, фокусирую­

щее магнитное поле может быть создано при помощи постоянных магнитов. В этом случае получается магнитостатическая электрон­ ная линза, не нуждающаяся в источнике питания. Простейшая магнитостатическая линза образуется намагниченным кольцом. Для концентрации магнитного поля в области прохождения электрон­ ного пучка магнитное кольцо снабжается магнитопроводом с не­

большим зазором (рис. 1.56). Более совершенной

магнитостатиче­

 

ской

линзой

является

двойная

 

линза, образованная двумя коль­

 

цами, намагниченными

«навстре­

 

чу» друг другу.

 

 

линзы

не

 

Магнитостатические

 

получили распространения в элек­

 

троннолучевой технике благодаря

 

ряду

присущих

им

недостатков.

 

Во-первых, регулировка оптиче­

 

ской

силы

магнитостатических

 

линз требует применения механи­

 

ческих приспособлений для пере­

 

мещения магнитных

шунтов, за­

 

мыкающих часть магнитного

по­

 

тока. Во-вторых, даже при нали­

 

чии магнитопроводов вблизи маг­

 

нитостатической

линзы имеются

Рис. 1.56. Магнитостатическая лин­

заметные поля рассеяния, что за­

за

трудняет установку

прибора

с

 

магнитостатическими

линзами

внутри аппаратуры. И, наконец, изменение температуры окружа­ ющей среды приводит к изменению магнитной индукции и, следо­ вательно, оптических параметров линзы. Имеются и некоторые другие, менее существенные недостатки, ограничивающие примене­ ние магнитостатических линз.

§ 1,9. ОШИБКИ ИЗОБРАЖЕНИЯ (АБЕРРАЦИИ) ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ

При выводе основных уравнений электронной оптики мы рассмат­ ривали только лучи, мало удаленные от оси, т. е. параксиальные пучки. Формально условие параксиальности выражалось в том, что мы ограничивались лишь первыми членами разложения в рядах (1.53) и (1.74). В реальных электронно-оптических устройствах часто используются довольно широкие пучки заряженных частиц. В этом случае пренебрежение последующими членами разложения приводит к значительным погрешностям.

Условием получения идеального изображения, как это видно из уравнений (1.81) и (1.96), является пропорциональность изменения угла наклона траектории первой степени г.

Учет последующих членов разложения приводит к появлению в уравнениях (1.81) и (1.96) слагаемых, пропорциональных третьей,

пятой и т. д. степеням г или dr/dz. Так, например, если в разложе­ нии (1.53) учесть член с г4, то уравнение движения электрона в осесимметричном поле принимает вид

В отличие от (1.82) в уравнении (1.203) имеются дополни­ тельные слагаемые, пропорциональные г3, r2dr/dz, r(dr/dz)2 и (dr/dz)3, т. е. члены третьего порядка. Наличие этих членов приво­ дит к появлению ошибок изображения (аберраций), называемых ошибками или аберрациями третьего порядка. Если учесть в раз­ ложении (1.56) члены с г6, г8 и т. д., то это приведет соответствен­ но к учету аберраций пятого, седьмого и т. д. порядков.

При расчете и анализе электронно-оптических систем часто ог­ раничиваются рассмотрением только ошибок третьего порядка, так как аберрации более высоких порядков при использовании не слиш­ ком широких пучков невелики и расчет их представляет значитель­ ные трудности. Только в некоторых специальных случаях, напри­ мер при расчете электронно-оптических систем электронных микроскопов и ЭОПов с высокой разрешающей способностью, необходимо учитывать ошибки изображения более высоких по­ рядков.

В уравнении (1.203) члены, содержащие г, характеризуют уда­ ление траектории от оси, а члены, содержащие dr/dz, — угол на­ клона траектории к оси поля. Обе эти величины могут быть выра­ жены через г0— удаление от оси точек объекта и га— радиус диа­ фрагмы, ограничивающей пучок в области линзы (рис. 1.57).

Предположим, что из точки а объекта выходит узкий паракси­ альный пучок пп, создающий неискаженное (точное) изображение точки а в плоскости Для общего широкого пучка тт, вышед­ шего из точки а, в плоскости гъ вместо точки образуется некоторая аберрационная фигура. Такой же результат получится, если точка объекта будет удалена от оси (точка а' на рис. 1.57).

Аберрационные фигуры в плоскости изображения не являются кругами, поэтому для оценки ошибок изображения удобно ввести в

плоскостях объекта и изображения декартовы координаты с нача­ лом, совпадающим с точкой пересечения этих плоскостей осью, и характеризовать аберрации величинами Ах и Ду отклонения точек аберрационной фигуры от точки изображения, создаваемого па­ раксиальным пучком.

Поскольку диафрагма, ограничивающая пучок, должна быть круглой, координаты краев отверстия диафрагмы удобно выразить в полярной системе координат:

Х& = f d COS ф, l/d = /д sin \|\

При таком выборе координат отклонения лучей в плоскости изображения от точки изображения, создаваемого параксиальны­ ми лучами, определяются выражениями:

Ах = Bra cosф + F(2 + cos 2^)г\ха+ (2С + D)cosфГй*а -}- Ех*,

(1.204)

3

2

2

Ду = Bra sin ф +

F sin 2фга ха+

D sin фr<jXa,

где коэффициенты В, С, D, Е, F являются функциями осевого по­ тенциала и его производных первого, второго, третьего и четвер­ того порядков. Эти коэффициенты характеризуют пять геометри­ ческих аберраций третьего порядка.

Рис. 1.57. Происхождение геометрических аберраций

«

Из (1.204) видно, что для точек объекта, лежащих на оси систе­ мы (ха= 0 ), все слагаемые, кроме первых, обращаются в нуль, и остается только одна ошибка, определяемая коэффициентом В. Эта ошибка называется с ф е р и ч е с к о й а б е р р а ц и е й и имеет наибольшее значение для электроннолучевых приборов, так как обычно в этих устройствах используются пучки электронов, выхо­ дящих из точек, расположенных вблизи оси. При наличии сферичес­ кой аберрации вместо точки, соответствующей точке объекта, ле­ жащей на оси, в плоскости изображения получается аберрацион-

лая фигура, которая, как это непосредственно следует из (1.204), является окружностью с радиусом Дг:

Дг = У(Дх)2 + (Д«/)2 = Вг£

(1.205)

Физически происхождение сферической аберрации можно объ­ яснить следующим образом. Лучи, проходящие в области линзы далеко от оси (у края ограничивающей пучок диафрагмы), пре­ ломляются сильнее (или слабее), чем параксиальные лучи, вслед­ ствие чего пересекаются ближе (или дальше) плоскости г*,. В ре­ зультате в плоскости изображения вместо точки получается кру­ жок с радиусом, определяемым выражением (1.205). В большинстве реальных систем распределение потенциала таково, что непара­ ксиальные лучи пересекают ось ближе плоскости изображения.

Поскольку радиус кружка рассеяния сферической аберрации пропорционален rd3, эту ошибку можно значительно уменьшить, уменьшая радиус диафрагмы, т. е. используя более узкие пучки. Однако такой путь не всегда возможен, так как уменьшение ради­ уса диафрагмы ограничивает величину тока пучка. Путем подбора надлежащего распределения потенциала удается уменьшить сфе­ рическую аберрацию за счет уменьшения коэффициента В. Теоре­ тически возможно рассчитать поле, для которого 5 = 0, но в практи­ чески осуществляемых полях значение В всегда отлично от нуля, поэтому сферическая аберрация в той или иной мере имеет место.

Радиус отверстия диафрагмы, ограничивающей пучок (апер­ турной диафрагмы) rd, пропорционален тангенсу апертурного угла yi (рис. 1.57). Считая для малых углов tgyi^Y b уравнение (1.205) можно представить в виде

Дг = B 'y l

(1.206)

где В' — коэффициент сферической аберрации линзы.

Исследование сферической аберрации электростатических элек­ тронных линз показало, что отношение B'/rd при одинаковых зна­ чениях rd/f сравнительно мало различается у линз разного типа. Наименьшей сферической аберрацией обладают иммерсионные линзы с Ui/U2 <\ (замедляющие линзы); ускоряющие иммерсион­ ные линзы, наоборот, имеют наибольшую по сравнению с другими электростатическими линзами сферическую аберрацию. Иммерси­ онные линзы, образованные двумя цилиндрами одинакового ради­ уса, имеют относительно меньшую сферическую аберрацию по сравнению с несимметричными иммерсионными линзами.

Одиночные линзы, образованные тремя цилиндрами, также име­ ют минимальную сферическую аберрацию при равенстве радиусов Цилиндров. Коэффициент сферической аберрации одиночной линзы приближенно можно оценить по эмпирической формуле

(1.207)

где f — фокусное расстояние линзы, # 2— радиус внутреннего электрода (цилиндра или отверстия диафрагмы), 6=2,5ч-5, при­ чем меньшие значения соответствуют линзам с внутренним электро­ дом в виде цилиндра, большие — в виде диафрагмы.

В общем случае сферическая аберрация увеличивается с ростом фокусного расстояния, но при увеличении расстояния до изображе­ ния она несколько уменьшается.

Коэффициент F в (1.204) характеризует ошибку изображения, называемую кома . Название «кома» этот вид аберрации полу­ чил вследствие сходства аберрационной фигуры с кометой. Очевид­ но, этот вид аберрации имеет место только для точек объекта, не лежащих на оси (ха¥=0). Аберрационная фигура для этой ошибки также имеет форму круга, но с центром, не совпадающим с точ­ кой изображения, создаваемого параксиальным пучком. Полагая

все коэффициенты, кроме F, в уравнениях (1.204)

равными нулю,

возведем в квадрат и сложим эти уравнения:

 

(Аж + 2Fxarl )2 + (Ду)2 = F*x*a rl

( 1.208)

Уравнение (1.208) есть уравнение окружности с радиусом Ar=rxard2 и с центром, удаленным от точки изображения на рас­ стояние 2Fxard2.

Так как аберрационные фигуры создаются лучами, проходящи­ ми через всю диафрагму, а не только «краевыми» лучами, в плос­ кости изображения получается совокупность налагающихся кругов с постепенно увеличивающимися радиусами и с центрами, удаляю­ щимися от точки изображения, созданного параксиальным пучком.

Кома может быть уменьшена приближением объекта к оси и диафрагмированием. Конечно, соответствующим подбором распре­ деления потенциала можно уменьшить также коэффициент F.

Коэффициенты С и D характеризуют ошибку изображения, на­ зываемую а с т и г м а т и з м о м . Комбинируя члены с коэффици­ ентами С и D в уравнениях (1.204), получим уравнение эллипса

(Аж)»

У)2

(1.209)

[{2C + D)rdx2a\2 ^

(Drdxl)*

 

центр которого совпадает с точкой неискаженного изображения и величинами осей, пропорциональными rdxa2. При D= 0 эллипс вы­ рождается в отрезок прямой длиной 4Crdxa2. При С = 0 аберраци­ онная фигура превращается в круг, причем конус лучей, проходя­ щих через диафрагму и края аберрационной фигуры, имеет вер­ шину. Следовательно, можно подобрать поверхность, на которой изображение будет свободно от астигматизма. Однако эта поверх­

ность не является плоской и только

касается плоскости

в точке

пересечения ее осью.

 

и ЭфО,

Обычно ошибку изображения, возникающую при С = 0

рассматривают как самостоятельную

аберрацию, называемую и с­

к р и в л е н и е м п о в е р х н о с т и и з о б р а ж е н и я .

 

Астигматизм имеет существенное значение при отображении точек объекта, удаленных от оси, т. е. при использовании «косых» пучков. Придавая объекту или поверхности, на которой воспроиз­ водится изображение, искривленную форму, можно заметно умень­ шить эту аберрацию.

С рассмотренной ошибкой изображения не следует смешивать аберрации, возникающие при нарушении осевой симметрии полей, фокусирующих пучки электронов. Например, если диафрагмы, об­ разующие электростатическую линзу, или катушки, создающие маг­ нитное поле, не являются точно круговыми, то изображение, со­ здаваемое такими системами, искажается, причем даже приосевые

J

Рис. 1.58. Геометрические аберрации:

точное изображение; 2 — сферическая аберрация; 3 — кома; 4 — астигматизм; 5 и 6 — дисторсия

точки объекта отображаются эллипсами или черточками, т. е. по­ лучаются астигматические аберрационные фигуры. Аналогичные ошибки получаются также при неточной сборке (перекосе или сме­ щении от оси) отдельных элементов, образующих электронно-оп­ тическую систему. В отличие от «истинного» астигматизм, возни­ кающий при нарушении осевой симметрии полей, называют п р и- о с е в ы м а с т и г м а т и з м о м .

Последняя геометрическая ошибка, определяемая коэффици­ ентом Е в (1.204), называется д и с т о реи ей. Наличие этой абер­ рации приводит к искажению масштаба изображения — увеличе­ ние системы оказывается зависящим от удаления точек объекта от оси; Дх=Еха3. В зависимости от распределения поля изображение для более удаленных частей объекта может быть больше или мень­ ше, чем для приосевых частей. Дисторсию, возникающую в первом случае, называют подушкообразной, во втором — бочкообразной (по форме образующихся аберрационных фигур).

Соседние файлы в папке книги