Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Релятивистские многоволновые СВЧ-генераторы

..pdf
Скачиваний:
3
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
19.07 Mб
Скачать

сгавлениями [104], максимальная скорость расширения плазмы в вакуум ограничивается тепловой скоростью электронов

Во втором режиме (рис. 2.3, 1) напряженность электрического* ноля на границе плазма — вакуум всегда равна нулю. При умень­ шении концентрации плазмы эмитирующая граница смещается к катоду, при увеличении — к аноду. Для такого режима эмиссии электронов «закон 3/2» должен быть переформулирован в выраже­

ние для эффективного зазора

между плазмой и анодом

d3 — d

— А2Р, где AzP— толщина слоя

катодной плазмы. Из условия / н =

--= можно получить выражение для эффективного зазора

 

d3 = (9nknvTe)~ 1/2(2/em)lUU3U.

(2.12)

В реальном диоде с неоднородной катодной плазмой режимы эмиосии могут меняться во времени. Первоначально на границе плот­ ность плазмы большая и реализуется режим неограниченной эмис­ сии, при этом скорость разлета плазмы может увеличиваться^ С расширением плазмы в вакуум ее плотность уменьшается и плот­ ность тока пучка может стать равной плотности тока насыщения.. Начиная с этого момента разлет катодной плазмы тормозится дав­ лением внешнего электрического поля 2?2/8я и скорость плазмы мо­ жет стать существенно меньше первоначальной. Оба режима эмис­ сии наблюдались в диоде с острийным катодом и плоским анодом; [105].

Одной из основных проблем источников электронов с ВЭЭ яв­ ляется торможение разлета катодной плазмы. Исследования в этой области пошли по двум основным направлениям. Первое направ­ ление связано с торможением плазмы электрическим полем, вто­ рое — магнитным. Для торможения плазмы электрическим полем не­ обходимо, как уже отмечалось выше, перевести плазму в режим на­ сыщения эмиссии электронов, т. е. уменьшить ее концентрацию. С этой целью снижают ток через ЭЦ и, следовательно, среднюю плотность тока на катоде до 0,1— 10 А/см2. Для получения килоамперных токов в таких диодах формируют электронные пучки большого сечения [106], которые нашли широкое применение для накачки газовых лазеров.

Наложение магнитного поля поперек разрядного промежутка,, как показали первые эксперименты [107], тоже приводит к умень­ шению скорости расширения катодной плазмы. Это позволяет уст­ ранить либо существенно уменьшить ток на анод и тем самым ослабить анодные процессы, а также убрать анодную фольгу, ко­ торая является наиболее слабым элементом инжектора пучка диод­ ного типа. Первые бесфольговые коаксиальные диоды с магнитной

изоляцией (КДМИ) на

основе катодов с ВЭЭ использовались как

в наносекундном [108],

так и в микросекундном [109] ускорите­

лях. Трубчатые электронные пучки, формируемые в таких диодах,, сразу же стали применяться для генерации СВЧ-излучения [109]...

Следует отметить, что возможно совмещение двух подходов в од­ ном диоде, а именно, торможение разлета плазмы электрическим полем на катоде большой площади и формирование трубчатого пучка в сходящемся неоднородном магнитном поле КДМИ [110] -

Известно множество конструкций коаксиальных диодов с маг­ нитной изоляцией. По взаимному расположению катода и анода

КДМИ можно разделить на

два

типа:

прямые

и обращенные

(рис. 2.4). В прямых КДМИ

(рис.

2.4, а,

б) внутренним электро­

дом является катод, в обращенных

(рис. 2.4, е )— анод,

но всегда

импульс отрицательной полярности

подается на

катод.

При этом

из плазмы, образующейся на катоде в процессе ВЭЭ, формируется трубчатый электронный пучок, который по силовым линиям маг­ нитного поля выводится из диода в вакуумную трубу дрейфа. Если на внутренний электрод диода (например, на рис. 2.4, б) подать положительный импульс напряжения, то такой диод становится обращенным. Он используется для генерации СВЧ-излучения в об­ ращенных магнетронах [111, 112] и получения ионных пучков [113— 115]. Из таких диодов электронный пучок не выводится. Поэтому обращенные электронные КДМИ условно можно разделить на нагруженные и ненагруженные электронным пучком. Ниже под КДМИ мы всегда будем подразумевать прямые диоды, обращенные будут отмечаться особо.

Другим основанием для классификации КДМИ является кон­

фигурация

силовых линий магнитного поля.

Различают диоды с

 

1 2

3 A

F

 

 

однородным

 

(рис.

2.4, б, в)

 

 

 

и неоднородным

(рис. 2.4, а,

 

 

 

 

 

 

г, д) магнитным полем. Для

 

 

 

 

 

 

КДМИ

первого

типа индук­

 

 

 

 

 

 

ции магнитного поля в дио­

 

 

 

 

 

 

де Вк и в области транспор­

 

 

 

 

 

 

тировки

пучка

Во

одинако­

 

 

 

 

 

 

вы,

т. е. Вк= Во =

В .

При

 

 

 

 

 

 

этом средний радиус тонкого

 

 

 

 

 

 

замагниченного

пучка

при­

 

 

 

 

 

 

мерно

равен

радиусу катода

 

 

 

 

 

 

(г ь ^ г к).

В

КДМИ

второго

 

 

 

 

 

 

типа магнитное поле на ка­

 

 

 

 

 

 

тоде

 

меньше,

чем

в

трубе

 

 

 

 

 

 

дрейфа. Оно

нарастает

так­

 

 

 

 

1

2 3 A F

же

от

катода

перпендику­

 

1 2

3

А 5

лярно

силовым

линиям маг­

 

 

 

 

 

 

нитного

поля. Степень

неод­

 

 

 

 

 

 

нородности

магнитного

поля

 

 

 

 

 

 

характеризуется

пробочным

 

 

 

 

 

 

отношением

 

 

(отношением

 

 

 

 

 

 

параллельных

 

оси

диода

 

 

 

 

 

 

компонент

магнитного

поля

Рис. 2.4. Конфигурация КДМИ..

в трубе дрейфа и на катоде)

а — конический диод;

б — цилиндрический ди­

к = Во!ВК.

 

Радиус

тонкого

од; е — плоский

диод;

г — диод с коническим

трубчатого пучка для

таких

анодом;

0 — диод

с многоострийным катодом;

е — диод

обращенного

типа

(1 — катод, 2

диодов

в

соответствии

с за­

анод, 3 — соленоид, 4 — труба

дрейфа, 5 — си­

коном

сохранения магнитно-

ловые линии магнитного поля).

го потока и при однородном в поперечном сечении магнитном поло равен

 

 

rb ~ rK(B JB ® ) 1/2 = гкк~1/2.

 

(2.13)

В обращенных КДМИ (рис. 2.4, е) также

используются как

одно­

родное, так и неоднородное магнитные поля.

 

2.4, а)

По геометрии электродов различают конические

(рис.

[108,

116],

цилиндрические

(рис. 2 .4,6)

[117, 118]

и плоские

(рис.

2.4, в)

[119, 120] диоды.

В конических диодах перемещением

катода вдоль оси легко регулируются межэлектродный зазор и ра­ диус пучка. В плоском диоде можно изменять соотношение попе­ речной и продольной составляющих напряженности электрического поля на катоде. Однако в области прямоугольного перехода анод — труба дрейфа электрическое поле неоднородно, что может приво­

дить к

 

дополнительному

увеличению поперечной

составляющей

скорости

 

электронов

пучка. Неоднородность

электрического поля

можно уменьшить, используя конический анод

(рис. 2.4, г).

В КДМИ применяются в основном графитовые и металличе­

ские катоды, реже — металлодиэлектрические

[116]

и жидкометал­

лические

[121].

Наиболее

детально

в экспериментах

исследованы

торцевые

(со сплошной торцевой поверхностью)

(рис.

2 .4 ,6 ), труб­

чатые

(иногда

их

называют

кольцевыми,

 

или

 

кромочными):

(рис. 2.4, в) и многоострийные

(рис. 2.4, д)

катоды. Для

усиления

электрического

поля

делают шероховатой

поверхность

торцевого

катода,

обращенную

к аноду,

или

уменьшают толщину стенки:

трубчатого катода. Недостатком торцевого катода является эмисси­ онный ток с торца при высокой напряженности электрического по­ ля, паразитный в СВЧ-устройствах. Использование многоострийного катода также ограничено возбуждением ВЭЭ на электродах, между которыми располагаются острия (рис. 2.4, д) . Поэтому наи­ большее применение в релятивистской высокочастотной электрони­ ке нашли трубчатые катоды.

Индукция магнитного поля в КДМИ выбирается такой, чтобы при заданном напряжении на диоде электроны, эмитируемые като­

дом,

не пересекали

межэлектродный

промежуток <2=1га — гкГ

(рис.

2.4, 6), где га и

гк — радиусы анода

и катода соответственно.

Значение индукции магнитного поля, при которой происходит от­ сечка электронного тока на анод, называется критическим 5 кр. Для релятивистских электронов при условии сохранения полного маг­ нитного потока в межэлектродном зазоре [122, 123]

(2.14)

Здесь йэф— эффективный межэлектродный зазор, который в пло­ ском диоде равен расстоянию между катодом и анодом. В диоде4

цилиндрической геометрии 11231 с1эф=

d {i HF d/2ra), где

отрицатель­

ный знак соответствует

прямым, а положительный — обращенным

КДМИ. Для сохранения

магнитного

потока в диоде

необходимо,.

чтобы толщина скин-сдоя собственного магнитного поля электроналого потока в металле электродов была много меньше толщины этщ; электродов. Это условие хорошо выполняется для используемых в КДМИ длительностей импульсов напряжения. Отметим, что вы­ ражение (2.14) справедливо и в одночастичном приближении.

Экспериментально измеренное 5 кр [124, 125] для цилиндриче­ ского диода в пределах 5 % совпадает с вычисленным по формуле

(2.14). Однако как в прямых [124— 127], так и в обращенных

[114,

115,

128] диодах был зарегистрирован незначительный

(менее

10%

тока

выведенного

электронного пучка)

электронный

ток поперек

магнитного поля

5 > 2 ? Kp. Протекание

этого закритического

тока

коррелирует с возбуждением в диоде СВЧ-колебаний широкого ча­ стотного диапазона [124, 125, 129, 130] и связывается [129, 130] с развитием диокотронной неустойчивости электронного слоя во­ круг катода. Анодный ток при 2 ? > 5 кр может приводить к образо­ ванию анодной плазмы, как это экспериментально показано для обращенных КДМИ [115, 128, 131]. Магнитная изоляция нереля­ тивистских диодов с термокатодами подробно исследовалась [132, 133].

Ток проводимости, протекающий по внутреннему электроду (катоду) в коаксиальном цилиндрическом диоде с внешним маг­ нитным полем В , создает азимутальное магнитное поле 5 0. При этом траектории электронов в диоде определяются суммарным воз­ действием обоих магнитных полей [122, 124, 125]. Изоляция меж­ электродного промежутка, создаваемая только полем 2?0, получила

название

магнитной самоизоляции. Она

широко

используется в

сильноточных

ускорителях

для передачи

энергии

от накопителей

к диодам по коаксиальным

вакуумным линиям [9,

134]. Критиче­

ский ток

[9],

при котором достигается режим самоизоляции,

 

 

/ кр = ( U/p) [1 + 2тс2/ (eU) ] 1/2,

(2.15)

где р — волновое сопротивление линии, U — приложенное напря­ жение.

Экспериментально измеренный [134] ток самоизоляции не­ сколько больше, чем это следует из формулы (2.15), полученной в одночастичном приближении. Наблюдаемое различие может быть связано с влиянием объемного заряда электронного потока. В пос­ леднее время коаксиальные линии с магнитной самоизоляцией на­ чинают применять и для генерации СВЧ-излучения [135, 136]. Привлекательность таких систем связана с возможностью исполь­ зования больших токов без внешнего магнитнбго поля, создание ноторого, особенно в больших объемах, требует серьезных затрат.

2.4. ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУШКИ С ВНЕШНИМ МАГНИТНЫМ ПОЛЕМ

Использование коаксиальных диодов с магнитной изоляцией для формирования сильноточных РЭП накладывает свои особенно­ сти на конструкции электронных пушек. Основными элементами электронных пушек с КДМИ (рис, 2,5) являются вакуумный изо-

Рис. 2.5. Схемы электронных пушек с КДМИ.

1 — вакуумный изолятор; 2 — катододержатель; 3 — отражатель; 4 — анод; б — катод; 6 — соленоид; 7 — сило­ вые линии магнитного поля; 8 — коллектор.

лятор, катодно-анодный узел, магнитная система. Давление оста­

точного газа

в ускорительных

трубках обычно

^ 1 0 ““2

Па.

Вакуумные

изоляторы

выполняются

как

сплошными

(рис. 2.5, в),

так

и секционированными (рис. 2.5, а,

б,

г). Они раз­

мещаются в

металлическом корпусе

(рис. 2.5, а,

б)

либо сами яв­

ляются корпусом

электронной

пушки

(рис. 2.5, б,

г). Напряжение

распределяется по изолятору

с помощью емкостных,

индуктивных

и резистивных делителей. При наносекундных длительностях им­ пульса напряжения (ти < 100 нс), подаваемого на электронную пушку, используются все типы делителей. При первом типе де­ ления напряжения емкостями служат секции изолятора — чередую­ щиеся диэлектрические и металлические кольца. Для индуктивного деления напряжения на поверхность сплошного изолятора нама­ тывается спираль с определенным шагом. При микросекундных длительностях импульса (ти > 1 мкс) используются резистивные делители напряжения. Для секционированных изоляторов это обыч­ но цепочки резисторов, которые закреплены последовательно на металлических градиентных кольцах. В сплошных изоляторах ре­ зистивное распределение напряжения может осуществляться прово­ дящей жидкостью (электролитом). В этом случае [137] изолятор (рис. 2.5, б ) состоит из двух коаксиальных цилиндров, между ко­ торыми залит раствор медного купороса. Общее требование к де­ лителям напряжения — это малый по сравнению с током пучка потребляемый ток. Средняя по длине секционированного изоля­ тора напряженность электрического поля при ти ^ 1 мкс выбирает­ ся в пределах 10— 20 кВ/см [138, 140]. При наносекундных дли­

тельностях импульса напряжения она в несколько раз выше и

обычно ^ 8 0

кВ/см [1].

Наряду

с обеспечением электрической прочности вакуумных

изоляторов важную роль в работе электронных пушек играют об­ ратный ток и ток утечки с катододержателя. Эти паразитные то­ ки уносят часть энергии и снижают эффективность ускорителей, которая определяется как отношение энергии выведенного элек­ тронного пучка к энергии высоковольтного накопителя. Кроме то­ го, они влияют на работу диода и электрическую прочность изо­ лятора. Обратный ток является специфической особенностью ис­ точников электронов с КДМИ.

Обратный ток в КДМИ обусловлен наличием компоненты ус­ коряющего электрического поля с обратной стороны катода или катодной плазмы. В первых КДМИ катод обычно закреплялся на катододержателе меньшего диаметра (см. рис. 2.4, а, б). При вы­ сокой напряженности электрического поля возникала ВЭЭ с об­ ратной стороны катода и электронный пучок по силовым линиям спадающего магнитного поля ускорялся в сторону вакуумного изо­ лятора. Обратный ток при такой конфигурации электродов может превышать ток прямого пучка электронов, инжектированного в трубу дрейфа. Попадание электронов на изолятор инициирует про­ бой по его поверхности [137, 141], а на анод — образование анод­ ной плазмы и пробой диода [142].

При одинаковых диаметрах катода и катододержателя обрат­ ный ток формируется с задней стороны катодной плазмы, расши­ ряющейся поперек однородного магнитного поля (см. рис. 2.4, в) на сантиметровые расстояния при микросекундных длительностях импульсов напряжения. В этом случае обратный ток меньше пря­ мого и возрастает по мере расширения катодной плазмы. В неод­ нородном магнитном поле (см. рис. 2.4, а) обратный ток возникает одновременно с прямым пучком сразу же на переднем фронте импульса напряжения при возбуждении ВЭЭ на кромке катода.

Подавление обратного тока требует реализации таких условий,, при которых силовые линии магнитного поля, выходящие на по­ верхность анодного узла и изолятор, не пересекают эмитирующую поверхность катода [143]. С этой целью обычно между катодом и катододержателем располагают отражатель электронов конической (см. рис. 2.5, а), плоской (см. рис. 2 .5,6) или сферической формы. При этом силовые линии магнитного поля, соответствующие радиу­ су катода с учетом поперечного расширения катодной плазмы, должны проходить ниже вершины катододержателя (см. рис. 2.5, а, б) . Желательно отсутствие эмиссии электронов с отражателя.

Исследования обратного тока в КДМИ с коническим и плоским

отражателями

[144]

проводились на ускорителе

РЭМ [139] с

амп­

литудой

импульса

напряжения U = 400—600

кВ,

длительностью

фронта

и всего

импульса соответственно тф= 75

нс,

ти = 1— 2

мкс,

током пучка I v = 4 — 17 кА, Во — 18 кГс. Если силовая линия маг­ нитного поля, касающаяся кромки трубчатого графитового катода, шла вдоль поверхности конического отражателя, то обратный ток

па фронте импульса напряжения практически отсутствовал, но через 0,5 мкс достигал 15 % от тока пучка. Если же силовая ли­ ния, соответствующая радиусу катода, проходила выше вершины отражателя на 11 мм, обратный ток уже на фронте импульса со­ ставлял 20 % от тока пучка. Для плоского отражателя в этом же

магнитном поле обратный ток составил 80 % от

тока пучка. Как

и ожидалось, обратный ток отсутствовал, если

соответствующие

магнитные силовые линии шли ниже вершины отражателей. Не­ достатком такого метода подавления обратного тока является эмис­ сия электронов с вершины отражателя при напряженности элек­

трического поля

£ ’ = 100— 150 кВ/см [144,

145], практически

от­

сутствующая при

£ ^ 5 0 кВ/см [144].

Поток

электронов

с отра­

жателя ускорялся в сторону диода, и

его

ток

достигал

20 %

от

тока пучка.

 

 

 

 

 

 

Все другие методы подавления обратного тока связаны с под­ бором конфигурации магнитного поля. Так, обратный ток в одно­ родном коаксиале, который составлял 25— 35 % от тока пучка, устранялся использованием магнитного поля пробочной конфигу­

рации

за катодом

[146]. Если

вся ускорительная трубка помеща­

лась в

магнитное поле (см. рис. 2.5, в), устранялся и ток утечки

с катододержателя

[137, 147].

В электронной пушке

[148], где

соленоид располагался внутри

изолятора

(см. рис. 2.5, г), потери

электронного тока практически

отсутствовали. Эффективность уско­

рителя

с традиционной пушкой (см. рис. 2.5, а) при напряжении

па диоде 700 кВ была 20 %, а

с пушкой

(см. рис. 2.5, г)

при этом

же напряжении — 75—80 % [149]. Такие

эффективные

электрон­

ные пушки в настоящее время используются только для получения трубчатых пучков малого диаметра.

В пушках, выполненных по схеме, приведенной на рис. 2,5, а, катододержатели имеют большую площадь, особенно при мегавольтных напряжениях. Это снижает среднюю напряженность электри­ ческого поля, при которой возникает ВЭЭ и идет утечка с катодо­

держателя. Так, в исследованиях, проведенных

на ускорителе

«Гамма», время

задержки взрывной эмиссии составляло

0,2—

0,4

мкс при £ =

80— 120

кВ/см

и единицы

микросекунд

при £ =

=

60 кВ/см [150]. Токи

утечки

составляли

30— 60

кА,

что

суще­

ственно снижало эффективность ускорителя.

 

 

 

 

 

Преимуществом пушки, приведенной на рис.

2.5, б,

является

малая длина катододержателя. Для уменьшения тока утечки с от­ ражателя и градиентных колец изолятора такой пушки вводился дополнительный соленоид, который наматывался на вакуумную ка­ меру [140]. В плоском диоде с электронной пушкой подобного типа получен электронный пучок с энергией 150 кДж при эффективно­ сти ускорителя 75 % [151].

Для получения сплошных цилиндрических пучков с малым энергетическим разбросом, применяемых в мазерах и лазерах на свободных электронах, разрабатываются электронные пушки с элек­ тростатической фокусировкой. Электронные пучки в таких пушках формируются и ускоряются с помощью многоэлектродной системы.

С использованием электростатической ускорительной трувки при напряжении 2 МВ получен электронный пучок с длительностью импульса 30 нс, током 1,1 кА и разбросом Луп/Тп ~ 0,01 % [152]. Пучок имел диаметр 5 см при диаметре катода 4 см. Из графитов разных марок лучшим оказался реакторный. Качество пучка улуч­ шалось с увеличением напряженности электрического поля на ка­ тоде, которая в экспериментах изменялась в пределах 245 -т- -т- 650 кВ/см.

Цилиндрические пучки формируются также с помощью КДМИ специальной конструкции [153, 154]. В таких диодах используется стержневой профилированный катод для повышения однородности пучка по радиусу. Из всего пучка с помощью диафрагмы выреза­ ется центральная часть. При этом ток пучка, инжектированного в трубу дрейфа, существенно меньше тока диода. В КДМИ такого типа [154] получен цилиндрический пучок диаметром 7 мм с то­ ком 2,2 кА и энергией электронов 1 МВ при длительности им­

пульса 60

нс. Энергетический разброс электронов пучка составлял

0 ,2 - 0 ,7 % .

.

Отметим, что применение электронных пушек описанных вы­ ше двух типов ограничено наносекундным диапазоном длительно­ стей импульса напряжения, так как расширяющаяся катодная плаз­ ма может полностью исказить электронную оптику. Кроме того, в таких системах ограничен и ток, что не позволяет надеяться на существенное наращивание мощности в устройствах СВЧ.

2.5. ОБРАЗОВАНИЕ И ХАРАКТЕРИСТИКИ КАТОДНОЙ ПЛАЗМЫ В МАГНИТНОМ ПОЛБ

2.5.1.Образование катодных факелов

вмагнитном поле

Прежде чем перейти к рассмотрению вопросов формирования трубчатых электронных пучков в КДМИ, необходимо проанализи­ ровать особенности образования катодной плазмы в магнитном по­ ле, такие ее характеристики, как массовый состав, концентрация и температура. Наложение магнитного поля не изменяет время задержки взрывной эмиссии электронов [107]. Однако оно суще­ ственно влияет на процесс плазмообразования в КДМИ. Фотогра­ фирование свечения плазмы в диоде через фланец трубы дрейфа с помощью электронно-оптического преобразователя [155] либо фотоаппарата с открытым затвором [101, 156] показало, что число катодных факелов возрастает с усилением магнитного поля. При этом улучшается однородность плазмы, особенно при микросекундных длительностях импульса напряжения [155, 156]. Фотографии свечения плазмы в КДМИ с графитовым катодом при напряжении на диоде U < 300 кВ и длительности импульса ти < 3 мкс для раз­ личных значений магнитного поля приведены на рис. 2.6. В этих экспериментах [156] использовались торцевые катоды из графита, алюминия и меди. При 5 = 0 число КФ обычно не превышало де-

Рис. 2.6. Свечение плазмы в диоде для 5 = 0 (а), 6 (б), 18 кГс (в).

сяти и было максимальным на катоде из графита. Напротив плаз­ мы КФ под воздействием электронов образуется анодная плазма. Развитие плазменных процессов приводит к пробою диода. Малое число КФ при В = 0, как отмечалось выше (см. разд. 2.2), обус­ ловлено эффектом экранировки. Магнитное поле замагничивает электроны вблизи катода при В > 2?кр и тем самым уменьшает эк­ ранирующее влияние объемного заряда электронного потока. На­ пряженность электрического поля на катоде возрастает, что и при­ водит к увеличению числа КФ.

Эти процессы исследовались подробно [101]. В КДМИ на гра­ фитовый трубчатый катод с толщиной стенки 0,5 мм подавался

импульс напряжения

амплитудой

U = 200 кВ и длительностью

ти =• 5 нс. Магнитное

поле в диоде

изменялось в пределах В = 0 —

10 кГс. Радиус КФ был малым г =

урти ^ 0,1 мм, и геометрический

фактор не вызывал существенного уменьшения электрического по­ ля на катоде. Ведущую роль в экранировке играл объемный заряд электронного тока. Исследования показали, что число КФ в основу ном росло в области малых магнитных полей, где ларморовский радиус электронов гл > г;Рти. При этом линейную плотность КФ' по периметру можно приближенно аппроксимировать зависимостью

N ~

В а, где а ^ 0,5, а расстояние между КФ s ~ А •S " 0’5, где

А ~

~ 1

см •кГс0,5. В достаточно сильном

магнитном поле,

когда

гл ~

~ УрТи, рост числа КФ замедлялся.

 

 

 

 

Влияние материала и толщины трубчатого катода

(напряжен­

ности электрического поля) на ток

пучка и его нестабильность

вследствие конечного числа КФ при длительностях импульса на­ пряжения ти = 30 нс и переднего фронта тф= 3 нс исследовалось для катодов из графита, меди и нержавеющей стали толщиной 0,1; 0,5; 2 мм при напряжении на диоде. U = 500 кВ и магнитном поле

В = 5 кГс [157].

С увеличением

напряженности

электрического

поля на катоде при уменьшении

толщины катода

и с

переходом

от нержавеющей

стали к графиту

ток пучка возрастал,

особенно

в первой половине импульса, а его нестабильность уменьшалась. Влияние материала катода на характеристики пучка при малых ти может быть более существенным, чем напряженности электри­ ческого поля. Так, при частоте повторения импульсов 50 с-1 не­

стабильности тока пучка и напряжения на диоде близки (< 1 % ) для трубчатого катода из графита толщиной hK= 0,5 мм и для медного катода с hK= ОД мм. Это объясняется зависимостью вре­ мени запаздывания возникновения КФ и соответственно их линей­ кой плотности от материала катода. Так, при В = 0 измерены т3 для катодов из С, Pb, Си, Al, Mo и показано, что т3 минимально

для графитового

катода

[158].

Причем

при напряженности

элек­

трического поля

на

катоде # ^ 8 0 0

кВ/см т3 ^ 2 - ь З нс для

гра­

фита и т3 ^ 20

нс

для

алюминия.

Отметим, что

т3(А1) » т3(Си).

Отличные

от

описанных в

[157]

результаты

получены

при

исследовании образования КФ в КДМИ с неоднородным магнит­

ным полем = 2,6) и длительностью импульса

напряжения ти ~

^ 0,4 мкс, тф^ 0,3 мкс и амплитудой U = 1— 1,9

МВ [150]. В этих

экспериментах использовались трубчатые катоды из графита тол­

щиной

hK^ 1 мм и

из различных металлов

толщиной

hK^

^ 0,1

мм. Магнитное

поле

на

катоде изменялось в

преде­

лах ВК= 5,4— 12 кГс.

Число

КФ

определялось по

количеству эро­

зионных меток на автографе, получаемом на металлической пла­ стине, устанавливаемой непосредственно на выходе диода. При этом полагалось, что число струй в пучке соответствует количеству КФ на катоде. Для графитового катода линейную плотность КФ также можно аппроксимировать зависимостью N ~ В^, где а ^ 0,5— 1. Более определенное значение а трудно получить из-за нестабиль­ ности N от импульса к импульсу, зависимости а от Вк и малого количества импульсов. Для примера при 2?к= 12 кГс на катоде

диаметром 17 см число КФ было

—100,

а линейная плотность

~ 2 см-1. Изменение напряжения на

диоде

и межэлектродного за­

зора не приводило к заметному изменению числа КФ. Это обус­ ловлено тем, что КФ возникают на фронте импульса напряжения при близких напряженностях электрического поля. При этом dEJdt изменялось несущественно. При замене графитового катода с hK^ ^ 1 мм на более тонкие металлические катоды число КФ увеличи­ валось в 2—3 раза. Уменьшение толщины катода на порядок при­ вело к существенному увеличению dEJdt. Причем различие в ли­ нейной плотности КФ для различных металлов не превышало 30 %. Отсюда следует, что при тф> 100 нс определяющую роль в фор­ мировании плазмы КФ играет скорость нарастания напряженности электрического поля на катоде, а не материал катода.

В формировании плазменной эмиссионной поверхности важна динамика образования КФ во времени, которая исследовалась для дгух принципиально отличных экспериментальных условий [159, 160]. В одном случае [159] напряженность электрического поля в диоде была недостаточна для возбуждения взрывной эмиссии на катоде и плазма первичного 1£Ф создавалась поджигом от специ­ ального источника напряжения. В другом [160]— ВЭЭ возбужда­ лась внешним электрическим полем.

В первом эксперименте [159] (рис. 2.7) катодом служил мед­ ный диск диаметром 12 и толщиной 0,5 мм. Межэлектродный зазор d = 5 мм. Для изучения динамики образования КФ использова-