Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Математические модели элементов интегральной электроники

..pdf
Скачиваний:
20
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
14.39 Mб
Скачать

метры могут быть измерены [51, 52] либо выражбнЫ через электрофизические и геометрические параметры транзистора [53].

Сравнивая выражения (3.55), (3.56) с соответствую­ щими выражениями модели управления зарядом (3.50), (3.51), видим, что в модели Агаханяна изменение на­ капливаемых у р—м-переходов зарядов пропорциональ­ но не только токам через переходы, но и их произ­ водным.

Модель Агаханяна за счет дополнительных парамет­ ров (постоянной накопления тн н времен задержки t3N и Г3/) более точно по сравнению с тремя «классически­ ми» моделями описывает переходные процессы в режи­ ме насыщения и в области малых времен активного режима работы транзистора. Точность моделирования динамических .параметров переключательных ИG (вре­ мен нарастания фронта и задержек) составляет 5— 10%• Статистические характеристики моделируются с той же точностью, что и в ранее рассмотренных мо­ делях.

Недостатками модели являются более высокая слож­ ность выражений, описывающих переходные процессы, и необходимость дополнительных преобразований для применения в автоматизированных программах анали­ за ИС.

Наличие в модели элементов задержки, характери­ зующихся величинами t3N и *3/, осложняет программи­ рование и увеличивает требуемый объем памяти ЭЦВМ, что особенно заметно при расчете сложных многокомпо­ нентных схем.

Менее точной, однако более приспособленной для расчетов на ЭЦВМ, является так называемая модель первого порядка [55], которая получается из модели Агаханяна, если в уравнениях (3.55) и (3.56) положить t3N—t3i = 0t а постоянную времени тп определить выра­ жением (3.61). В отличие от других моделей, эта модель описывается не двумя дифференциальными уравнения­ ми, а одним дифференциальным и одним алгебраиче­ ским уравнением

^ + £ - ! ^ [ - * ^ + ' . . + ^ т г - ] ! = о . <3-»»

<7«-

XttlV

T,l (I — V » ;) — ХвЛ,

WKO

- х

 

= 0 ,

(3.60)

где

 

 

Т=н =

х аЛ/ + х а / + U xg/V ~ ~ x g / ) 2 + 4 т а 1 Ха/У а 7а /У 1 > /2

(3.61)

2 (1 — a;a/v)

 

 

Уступая модели Агахаияна в точности описания пе­ реходных процессов в активной области, модель первого порядка позволяет заметно уменьшить занимаемый объем памяти машины и в несколько раз сократить за­ траты машинного времени.

Поскольку уравнения (3.55), (3.56) и (3.59) содер­ жат одновременно производные по времени не только зарядов, но и токов через переходы, то модель Агаханяна и модель первого порядка не приспособлены для используемых обычно методов автоматического форми­ рования систем уравнений в программах машинного анализа схем. Способы анализа схем, модели компонен­ тов в которых описываются уравнениями вида (3.55), (3.56) и (3.59), рассмотрены в [54].

Модель Агаханяна с успехом может быть использо­ вана для моделирования быстродействующих полупро­ водниковых приборов и электронных схем на аналого­ вых вычислительных машинах [56].

Обобщенная модель управления зарядом (модель Гуммеля — Пуна) [23]. В модели используется новое обобщенное соотношение управления зарядом, которое позволяет выразить ток, передаваемый от эмиттера к коллектору /кк через напряжения на р—я-переходах Ud и UKи общий заряд в базе Qe [57]:

/кк = / 5^ - [ е Хр ( ^ - )

- е х р ( - ^ )]= Я [ /„ - /,] , (3.62)

где

 

Х==Ж ;

1» = 1 * [ ехр( 'ь г) ~ * ] ;

фбо—заряд базы при нулевых смещениях на переходах; Is — ток «отсечки».

Соотношение (3.62) получено на основе решения уравнений непрерывности и переноса тока без исполь­ зования аппроксимаций низкого уровня инжекции. Бла­ годаря тому, что в нем используется интегральный

1 3 2

параметр (заряд в базе QG), в модеЛи удаётся в достаточно простой и компактной форме, учесть эффекты модуляции проводимости базы, модуляции ширины ба­ зы (эффект Эрли), вытеснения базы в область коллек­ тора (эффект Кирка).

Общий заряд в базе может быть представлен как сумма заряда при нулевых смещениях на переходах, заряда, накапливаемого на барьерных емкостях, и за­

ряда, который обусловлен переносом токов /Л* и

//:

Qe = Qfiо С9 бар ((^э) U9

бар (^к) £Лс

 

 

+

N+

ЛЛ///,

 

(3.63)

где тN и Xi — нормальная и

инверсная

диффузионные

постоянные

времени;

В — коэффициент,

учитывающий

эффект расширения базы в область коллектора

[59].

Эффект

расширения базы

в

коллекторную

область

имеет место при токах коллектора, превышающих зна­ чение

М =л9([/ок-UK)lpKWKi

(3 .6 4 )

где Ло— площадь эмиттера; рк—удельное

сопротивле­

ние эпитаксиального слоя коллектора; WK—ширина высокоомной области коллектора; UQk— внутренний по­ тенциал коллекторного р—/г-перехода.

Для токов коллектора /1(< /км эффективная ширина базы WQафф равна металлургической ширине WQ. Для токов /к> / км величина ИРоофф вычисляется по формуле

W 6a^

=

W 6 +

W K \ \ - (/км//к)].

Коэффициент

В,

учитывающий вытеснение базы

в коллектор, определяется

следующим образом:

В= (№б т 1Щ 2-

Вмодели используется следующее выражение, аппро­ ксимирующее зависимость коэффициента В от тока /к и напряжения UK:

[У *в+ гр—1в]Пр

V

(3.65)

4 [(/K ^ /Q co )2 + Гр]

I

 

где

iB= О«V^®°) "Ь (^ок ~ U*)/Uгр\

Urp — величина, равная паДенйю напряжения на сопро­ тивлении коллекторной области от «протекания» услов­ ного тока / * K = Q W T JV ; rw=WKIW6\ гр — параметр, ха­ рактеризующий крутизну пологого участка зависимости времени пролета через базу %d=dQb!dIK.при UKa= const

ТЛ-10~Ю%С

f r f q

Рис. 3.20. Зависимость времени пролета носителей заряда через базу от тока коллектора.

Рис. 3.21. Зависимость граничной частоты /т от тока коллектора.

от тока коллектора рис. 3.20; пр— показатель, характе­ ризующий спад зависимости граничной частоты fT в об­

ласти

больших токов коллектора

(рис. 3.21).

Как пра­

вило,

пр> 2. Для низких

уровней

инжекции

В= 1, для

высоких В > \.

 

 

 

 

Ток базы транзистора обусловлен рекомбинацией и

изменением заряда Q G в о времени

 

 

 

/б = /рекН

jg- (Са бар^э~\~ Ск бар//к

 

 

+

^ Л

+ Лт///)-

 

Ток рекомбинации /рек складывается из эмиттерной /бэ и коллекторной Лзн составляющих, каждую из ко­ торых удобно представить в виде суммы экспонент с «идеальными» и «неидеальными» показателями:

/рек= /бэ_1- /бкг

где

/ .. = / ,[ « » ( ■ £ - ) - ! ] + / . [ « , , ( 3 - ) - i]i

] + ' • [ « ■ » ( * ■ ) - ' ] •

, 3 ' 6 7 )

Токи через выводы эмиттера и коллектора в стати­ ческом режиме определяются следующими выраже­ ниями:

/э =

/к к

Asat

(3.68)

/к =

/кк~|“ /бк-

(3.69)

Используя (3.66), (3.67) и (3.62), получим следующие выражения для токов эмиттера и коллектора:

 

 

 

/»=

1 f 1 + -р^-] ^лгМЛ-

 

(3.70)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(3.71)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(3.72)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(3.73)

Выражения (3.70) —(3.73)

 

11

 

 

 

являются

математическим

------- 11-------

описанием

эквивалентной

 

Сэдиф

^кдиф

 

схемы рис. 3.22 в статиче­

 

it

 

 

 

 

II

 

 

 

ском

режиме. В динамиче­

 

W

СнШ

!*_

ском

режиме

параллельно

э

и

 

 

Н

р—a-переходам в эквива­

 

о

 

лентную схему включаются

----- У

 

 

барьерные и диффузионные

 

 

5 ьIs

 

 

емкости [60].

для

диффузи­

 

Х'<

 

 

Формулы

Рис. 3.22. Эквивалентная схема

онных

емкостей могут быть

получены,

если

продиффе­

обобщенной

• модели

управле­

ния

зарядом.

 

 

ренцировать

заряды, обу­

по напряжениям

на

пере-

словленные

токами /JV и 7j,

ходах

 

 

С9дИф — d (бЯтдг/д,)/dU9i

 

 

(3.74)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(3.75)

При высоких уровнях тока эффект вытеснения базы в коллекторную область вызывает увеличение эффек­ тивной постоянной времени BXN в выражении (3.74) для диффузионной емкости СЭДиф, поскольку £>1.

Обычно зависимость барьерной емкости р - п - пере­ хода от напряжения но всех моделях описывается вы­

ражением (3.23). Использование выражения (3.23) свя­ зано с той трудностью, что когда значение напряжения на переходе приближается к t/о, значение емкости устремляется к бесконечности. Поэтому обычно значе­ ние и 0 умышленно выбирают превышающим наиболь­ шее ожидаемое напряжение на переходе. Однако при этом ухудшается точность вычисления емкости при пря­ мых напряжениях смещения.

В рамках рассмотренной модели получено модифи­ цированное выражение для барьерной емкости [61]

с ,( * ) = -

+

1‘ п 1- fl

Н \

г (3,76)

 

 

h

x\ + h У

где xx = U%IU0%— 1; 8 = 5, К; CG%, UQV bv 6^ — параметры

аппроксимации, определяемые на основании данных экспе­ римента. Обычно значения Ьх лежат в пределах 10"»—

10“ а.

Для обратных и малых прямых напряжений форму­ лы (3.23) и (3.76) дают незначительно различающиеся результаты, однако, при = значение емкости,

вычисленной по формуле (3.76), остается конечным и равным

С{ = < У (1 - 0 Е) Л /2

(3.77)

Формула (3.77) определяет максимальную величину емкости; при напряжениях, превышающих Uov емкость

Рис. 3.23. Зависимость барьерной емкости эмиттерного перехода от напряжения:

------------результаты

аппроксимации по

формуле

( 3 . 7

6 ) ;

-------- по

форму­

ле (3.23);

9 0 #

измеренные

значения

[61] .

 

 

 

 

уменьшается (рис. 3.23). По сравнению с дру­

гими моделями обобщен­ ная модель управления зарядом позволяет более точно учесть ряд паразит­ ных эффектов. Например,

сопротивление

базовой

области,

которое

в

боль­

шинстве

моделей

посто­

янно,

в

обобщенной за­

рядоуправляемой

модели

является

функцией

заря­

да <2б

Гб бпас Гбо (<2бо/<2б),

Гб б =

 

 

 

 

(3.78)

где ^бб пас — сопротийлейие

пассивных

областей

базы;

^во ( Q GO/ Q S ) — сопротивление

активной

области

базы

сучетом эффекта модуляции.

Сучетом паразитных сопротивлений диффузионных областей модель транзистора содержит 26 независимых параметров, которые по способу их экспериментального определения делятся на следующие группы: (Соэ, £Аэ,

0а» Ьэ, Сок, UOK, Э к , ^к

('Е д г ,

TJ) ; (A, Обо, А, А, А, А,

m9i m„); (UrPi rw, rp, лр)

и

(Гббпас, гбо, гээ, г„„). Мето­

дика определения параметров обобщенной модели управления зарядом на основе результатов электриче­

ских

измерений

отличается от

методик, принятых

в большинстве других известных моделей.

па

Модель Гуммеля—Пу­

 

 

позволяет

в

физиче­

 

 

ском

виде

учесть

.ряд

 

 

важных

эффектов,

свой­

 

 

ственных реальным тран­

 

 

зисторным

структурам,

 

 

которые

вообще

не учи­

 

 

тываются

в классических

 

 

моделях

Эберса—Молла,

 

 

Линвилла

и управления

 

 

зарядом. К таким эффек­

 

 

там

относятся

уменьше­

 

 

ние коэффициента переда­

Рис. 3.24. Зависимость статическо­

чи по току

|3дг

(рис.

3.24)

и

граничной

частоты fT

го коэффициента усиления по то­

ку i|3 лг

от тока коллектора.

рис.

3.21)

при

больших

 

 

значениях тока коллектора, конечная выходная про­

водимость

транзистора

и

ее

зависимость

от

величи­

ны тока

базы

(рис.

3.25),

зависимость

барьерной

емкости

переходов от напряжения (рис. 3.23),

отклоне­

ние зависимости IK=f(UD) (рис. 3.26) от

идеального

закона

и

ряд

других

эффектов *>. Благодаря этому

модель

Гуммеля — Пуна

обеспечивает очень

хорошую

точность моделирования статических и динамических характеристик транзисторов [62]. Модель справедлива до частот переключения (0,1—0,2)/г*

*> Модель, учитывающая эффект лавинного умножения носите­ лей заряда в коллекторном р—л-переходе и влияние паразитных емкостей и проводимостей пассивных областей базы и коллектора, приведена в [62],

Заметим, что по своей структуре эквивалентная схема рис. 3.22 аналогична эквивалентной схеме рис. 3.11 передаточного варианта модели Эберса — Мол­ ла, однако токи через ее элементы о-писываются други­ ми выражениями. Нетрудно видеть, что модель Эбер­ са — Молла является частным случаем обобщенной мо­ дели управления зарядом, который соответствует низ­ кому уровню инжекции (Л,= 1 и В= \) в предположении, что токи /бэ и /бк представляются в выражениях (3.66) и (3.67) только экспоненциальными членами с «идеаль­ ными» показателями.

Рис. 3.25'. Выходные характеристики транзистора, рассчнтанные по модели Гуммеля— Пуна.

Рис. 3.26. Зависимости токов коллектора и базы от напря­ жения на эмиттерном переходе.

Следует, однако, отметить, что определение парамет­ ров модели Гуммеля — Пуна связано с известными трудностями. В частности, возникает необходимость в создании ряда специальных программ, реализующих нелинейную .процедуру определения параметров модели по методу наименьших квадратов [62, 63]. Модель используется в программе анализа нелинейных электри­ ческих цепей CIRPAC [49].

Модели IBIS (для статистического режима) и BIRD (для динамического режима) являются развитием моде­ ли Эберса —Молла для двумерных транзисторных структур [12]. Они позволяют учесть двумерные эффек­ ты вытеснения тока эмиттера, поверхностные явления у эмиттерного и коллекторного р—п-переходов, влияние пассивных областей базы и коллектора.

На рис. 3.27 изображен электрический аналог дву­ мерной структуры .планарного биполярного транзисто­ ра, используемый в моделях IBIS и BIRD. Диоды Ms и Д'е отражают поверхностную рекомбинацию соответ­ ственно у эмиттерного и коллекторного переходов. Транзистор Т моделирует перенос носителей заряда в активной зоне в глубь диффузионной структуры от

Пассивная Активная

Рис. 3.27. Электрический аналог двумерной структуры планарного биполярного транзистора, используемый в моделях IBIS и BIRD, Рис. 3.28. Эквивалентная схема модели BIRD.

эмиттера к коллектору, а диод Дб учитывает падение напряжения на сопротивлении активной области базы от протекания продольного (вдоль поверхности эмитте­ ра) тока базы. Диод Д'г учитывает влияние пассивной области транзистора; г„„ — сопротивление тела коллек­ тора, которое существенно, когда коллекторный переход смещен в прямом направлении.

Двумерной структуре рис. 3.27 соответствует эквива­ лентная электрическая схема, приведенная на рис. 3.28 *>. Элементы эквивалентной схемы для пр—гс-транзисто- ра описываются следующими выражениями: **>

/* ,= /., [ехр(£/в, 9/?г) - П,

(3.79)

/*»— /•« [ехр (£/в, „,/<рг) — 1],

(3.80)

*> Токи поверхностной рекомбинации практически безынерцион­ ны, поэтому диоды Дв и Д'Бв эквивалентной схеме не зашунтирова-

ны емкостями.

**> Величины, соответствующие активной области транзистора, отмечены в формулах звездочкой.

 

/•«==/* [exp(t/ee,/*r) -

1],

(3.81)

 

! s = lost e x P P t»l ns<fj) -

1 ],

(3.82)

 

 

 

 

 

1

| . (3.83)

 

 

 

 

 

 

.1

 

 

Л oi — (X*//02»

 

(3.84)

 

1

«*/(!-«*/) - u %

 

(3.85)

 

Ri

 

<?r

 

 

 

 

1 _

«%(!— %) -X J \,

(3.86)

 

R2

 

VT

 

 

 

 

Гк к =

Гко [1 +

(/*б//об)1

 

(3.87)

 

 

Н - а к к е х р ( - 6 /э к , / ?г)

 

В статическом режиме модель описывается

13 неза­

висимыми параметрами: a*N,

а*/, Ли, /os, fts,

/'os, ft's,

/'02, /Об, ^э,

^к» Гко, СГКк*

и

инверсный коэффициенты

aV, а*/ — нормальный

переноса

носителей

через

активную

область базы. Эти

параметры характеризуют внутренние усилительные свойства транзистора и не могут быть непосредственно измерены на выводах прибора.

/oi —обратный тепловой ток диода Д\:

 

/м —

,Г ____ £L

 

Dn

(3.88)

* ( эмиттер

MA(x)dx

 

 

 

 

f

Г дга (х)

 

 

J

J- 3

*

*1

г

!

 

 

B I

Из равенства

(3.84) можно определить

одну

из входя­

щих в него величин, если известны три остальные, на­ пример, /02 по точно вычисленным параметрам /01, a*N и a*j. Выражение, связывающее значение /02 с парамет­ рами структуры транзистора, имеет вид

/ 02 = Лэ<7Л*|

 

Рр

 

(3.89)

коллектор

 

[

J

ЛГд(*)4*

 

 

 

 

 

 

и может быть использовано для проверки условия

 

а у . , д

вУ" =

*д,< Уб

------

(3.90)

 

 

J

Л^а (х) Д*

 

Соседние файлы в папке книги