Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Математические модели элементов интегральной электроники

..pdf
Скачиваний:
20
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
14.39 Mб
Скачать

как для ее применения требуется провести меньший объем предварительных измерений на тестовых транзи­ сторах.

4.3.Электрические модели

Вгл. 1 отмечалось, что для расчета схем на дискрет­ ных компонентах целесообразно использовать модели, построенные относительно электрических параметров («электрические модели»). Дискретные компоненты ха­ рактеризуются системой электрических параметров, ко­ торые достаточно просто определяются из электрических измерений токов и напряжений на выводах прибора. Электрические модели также могут быть с успехом использованы для электрического анализа характери­

стик ИС; в этом случае их параметры рассчитываются

спомощью физико-топологических моделей. Электрические модели (в отличие от формальны^)

строятся с учетом физики работы приборов, но с введе­ нием упрощений, которые позволяют достигнуть необхо­ димой компактности. Возникающие из-за этого неточно­ сти компенсируются тем, что используемые уравнения сопрягаются с реальными или рассчитанными с помо­ щью физико-топологических моделей характеристиками прибора и параметры модели определяются из условия достижения наилучшего совпадения.

Для МДП-транзистора наибольшее распростране­ ние получила электрическая модель, предложенная А. Н. Кармазинским и др. [3]. К числу ее параметров относятся крутизна, пороговое напряжение, коэффициент влияния подложки и др. Рассмотрим уравнения харак­ теристик -МДП-транзистора, полученные Са [9] с учетом влияния заряда подложки:

/с = k{2’\ u

; - и

о- £ /„ ) (Uc - и н) - (Uc - и ну +

+ 2£/йГ([/с1-

Un) y

</«Soc [(<Ро - f Ucf 2 - : ( * . + UBf 2]},

 

 

(4.Н2)

где £= р.рС(рСд2/2/, —удельная крутизна.

Из-за громоздкости и наличия трансцендентных функций выражение (4.И2) непригодно для аналитиче­ ского расчета схем. Поэтому его целесообразно аппро­ ксимировать полиномом с целочисленными показателя­ ми степени. Из (4.И2) видно, что первые два слагаемых описывают характеристики транзистора без учета влия-

ния подложки по простейшей модели; остальные вносят поправку, связанную с влиянием заряда обедненного слоя подложки Qoc. Рассмотрим функцию, соответст- р,тгщую этим слагаемым:

F (Uc, у * <р.) = - / » б « [ ( » Uc+ )3,s -

-(< ?> + U »f2\ - 2 U B(U t-U n).

Разложим эту функцию в ряд Тейлора в окрестности точки С/с=С/и=С/*:

 

F (Ус, У,» <Р.) = 2ВЖ[(<р, + У * )1'2 (Ус -

У*) -

-

(?. + у *),/2 (У ..-У * )]+ (Всс/2) [(у. + У * ) - ,/г (У с - У*)‘-

-

(<Р. + У * Г ,/2 (Уи - У*)2)!— 2Уд(Ус -

У„) +

Я«т, (4.113)

где i?0cT — остаточный член разложения.

 

 

Пренебрегая в (4.113) R0ст (это обосновано в [3]) и

подставляя полученные выражения в

(4.112)» получаем

следующее уравнение вольт-амперных рсарактеристик МДП-транзистора в крутой области:

/с = £ {2 [С/3 — С/0 — С/,Г— т\ ( U U — {/*,)] (U c

 

-

C/„) -

(1 + Ч) (С/с - С/„)2}.

(4.114)

Здесь С/* =

К«р0 (С/*+

?0)

TJ—коэффициент влияния

подложки:

 

 

 

 

 

 

 

Ч =

Ясс/ (2 К ?о+ ^ *)-

(4.115)

Из (4.114)

видно, что если разложение в ряд функции

F(UCt С/,г)

производится в окрестности точки С/с=С/и=

= С/* = 0, то

U*1= 0 и выражение для тока принимает

вид

 

 

 

 

 

/ с = к {2 [ £ /,- 1/0-

(1 + тО С/„] (С/с-

С/„) - '(1 +

ч) (С/с- С/„)Ч.

 

 

 

 

 

(4.116)

Аналогичное уравнение вольт-амперных характери­ стик можно получить из физических соображений, используя для этого общее выражение для тока (4.30), в котором проведены усреднение подвижности и линеа­ ризация зависимости заряда подвижных носителей QP OT потенциала канала <p=tp0+ С/. Аппроксимируем нелиней-

232

ную зависимость Q0с(^)= С дБ0с У'фо+ £/ (4.111) линей­ ным выражением, совпадающим с точным (.при £/=0):

Q<* = CAqjB+ m ) .

(4.117)

С учетом (4.117) аппроксимирующее выражение для заряда канала будет также линейно связано с потен­ циалом U

Qp = Q 3 - (Зпов- Q o c = С д [f/з - U 0 - (1 + 1 , ) и \ . (4 .1 1 8 )

Интегрируя выражение для тока (4.30) по длине канала от Ua до Uc и учитывая принятые аппроксимации, по­ лучим уравнение для тока стока, аналогичное (4.116).

Рис. 4.27. Аппроксимация зависимо­ сти заряда подложки от напряжения канала 1 линейной функцией; 2, 3 — интерпретация результатов работы

Коэффициент влияния подложки т|, вообще говоря, зависит от режима, но в уравнениях модели он считает­ ся постоянным. В работе [3] этот коэффициент выбирает­

ся равным gr- “^ г |^ э (кривая 3 на рис. 4.27). Для

большей точности выберем коэффициент влияния под­ ложки из условия сопряжения точной кривой 1 с ее ли­ нейной аппроксимацией при максимальном напряжении канала £/м (кривая 2 на рис. 4.27):

7| = [Вое (Г. + £/„)'/2 - и ву и и.

(4 .119)

Напряжение отсечки канала определяется из условия равенства нулю заряда канала Qp [в выражении (4.118)}

t/oTc-=(^3-t/o)/(l+^)* (4.120)

Условие отсечки транзистора по истоку, определяю­ щее границу между крутой областью характеристик и областью отсечки, записывается в виде

£/и> (£ /э-£ /о )/(1 + т ]).

(4.121)

233

Условие перехода транзистора из крутой области В по­ логую имеет вид

£/с>(£/з-£/о)/(1+т1). (4.122)

В пологой области характеристик зависимость тока сто­ ка от управляющих напряжений определяется следую­ щим уравнением (3]:«

1^3- ^ - u + w j 1 +

 

+ ^ [ ( и с - и 3- и , ] - ч и я)\,

(4.123)

где L0= V 2en£oU0/(qND) — характеристическая толщина слоя объемного заряда в подложке при напряжении £/0.

Таким образом, введение аппроксимаций для ррэ и Qoc позволяет получить сравнительно простые аналити­ ческие выражения для вольт-ампериых .характеристик и основных параметров транзистора. Недостатком этой модели является низкая точность, которая получается, если электрические параметры модели попытаться вы­ разить через физические. Это объясняется тем, что при выводе выражений для тока мы пренебрегли рядом важ­ ных эффектов. Поэтому заранее неизвестно, какие зна-

Рис. 4.28. Эксперименталь­ ное определение электриче­ ских параметров модели

МДГ1-транзистора:

а—зависимость])//с*= fi(U3);

б зависимость напряжения

отпирания от смещения истока.

чения электрических параметров выбрать (т. е. неиз­ вестно, как усреднить подвижность, как коэффициент т] вычислить через физические параметры), чтобы полу­ чить хорошее совпадение с реальными характеристиками МДП-транзистора. Следовательно, коэффициенты элек­ трической модели МДП-транзистора можно определить из сопряжения зависимостей (4.116), (4.123) с экспери­ ментальными или рассчитанными с помощью физико­ топологической модели характеристиками прибора. При этом мы автоматически получим правильно усреднённые значения /г, т) и т. д.

Удобная последовательность определения параметров модели предложена А. Н. Кармазинским и др. [24].

Объединяем затвор со стоком, на истоке устанавливаем напряже­ ние = 0 и находим зависимость V7c = f (Уз)- Условие Uc — Uз

означает, что транзистор находится в пологой области вольт-ампер- ных характернст}1к вблизи границы с крутон областью. Если в урав­

нении (4.123) пренебречь членом, отражающим эффект ‘уменьшения длины канала, то должна получиться линейная зависимость

V u = У Щ \ + •<]) (Уз — и . ) .

(4 .124)

Аппроксимируя теперь нелинейную экспериментальную зависимость

(рис. 4.28,а) прямой линией, по ее

пересечению с осью абсцисс «най­

дем значение £/3=С/о, а по наклону

tg 0 = V'kf{\ + T J) .

Затем найдем экспериментальную зависимость напряжения отпи­ рания МДП-транзистора от U„. Для каждой величины U„ подб.ч- рается такое значение ГА,, при котором в цепи стока протекает до­ статочно малый ток, например 1 мкА (рис. 4.28,6). Согласно модели (4.121), зависимость напряжения отпирания по затвору от напряже­

ния истока должна быть линейной

 

Ua = Uo + (1 +М ) Un.

(4.125)

Аппроксимируем реальную’ нелинейную зависимость (рис. 4.28,6), прямой линией; наклон этой прямой определяет коэффициент влия­ ния подложки

т)= (С/э м—Uo)fUn м,

(4.126)

где Uaм, U„ м — максимальные рабочие значения напряжений затво­

ра и истока. Используя (4.124), определим последний коэффициент модели — удельную крутизну:

* = (tg 0 )2(l+ ll) .

(4-127)

Рассмотренная электрическая модель МДП-транзи­ стора обеспечивает точность совпадения расчетных вы­ ходных характеристик с экспериментальными на уров­ не 10—20%.

Для анализа переходных процессов с помощью этой модели можно использовать одну из эквивалентных схем МДП-транзистора, рассмотренных в § 4.3. Генера­ тор тока в этой эквивалентной схеме описывается урав­ нениями ,(4.116), (4.123); емкостные коэффициенты должны быть измерены. Обычно для получения анали­ тических оценок используется упрощенная эквивалент­ ная схема МДП-транзистора, включающая только вход­ ную (затвор — исток) и выходную емкость сток — под­ ложка, к которой добавляется емкость затвор — сток с некоторым коэффициентом) емкости [3]. На практике часто применяются гибридные модели, в которых при описании статических характеристик используются уравнения электрической модели с параметрами, опре­ деляемыми из внешних электрических измерений,

а емкостные коэффициенты рассчитываются по тополо­ гии прибора.

В качестве уравнений электрической модели МДПтранзистора могут быть также использованы уравнения аппроксимации |(4Л01)—(4.103), которые дополнительно

влинейной форме учитывают модуляцию подвижности.

Вэтом случае коэффициенты ka, х, т], go могут быть определены из внешних электрических измерений.

Взаключение еще раз отметим, что прежде чем использовать уравнения (4.116), 1(4.123) для расчета схем, необходимо провести электрические измерения параметров всех МДП-транзисторов или рассчитать их с помощью физико-топологической модели. Поэтому электрические модели пригодны для решения задач оптимизации только в сочетании с физико-топологиче­ скими моделями, так как при оптимизации геометриче­ ские параметры транзисторов |(длина и ширина канала) могут заметно изменяться, что приводит к изменению электрических параметров.

Тем не менее, на этапе предварительного схемотех­ нического анализа электрические модели можно и даже целесообразно применять для расчета 'МДП ИС. В этом случае задаются усредненными типовыми значениями порогового напряжения U0 и коэффициента влияния подложки т|. Удельную крутизну к для каждого прибора считают пропорциональной отношению Z/L. Оценочные расчеты бывают особенно полезными для простейших логических схем (инверторов, триггеров); при этом удается получить зависимость качественных показателей схем от -параметров МДП-транзистора в явном виде. Такая информация необходима на этапе предваритель­ ного анализа для сравнения различных схемотехниче­ ских вариантов и выбора начальных значений параме­ тров проектируемой схемы. Окончательные значения параметров (длины и ширины каналов) могут быть получены только после проведения расчетов на ЭЦВМ

сиспользованием физико-топологической модели. Формальная аппроксимация выходных характери­

стик МДП-транзистора [б] не получила широкого рас­ пространения, поскольку основанные на ней модели не отражают физических процессов в приборе, а с точки зрения затрат машинного времени они не имеют преиму­ ществ перед рассмотренной компактной электрической моделью.

4.4. Малосигнальные модели

Малосигнальная модель прибора может быть легко получена из модели для большого сигнала. Для этого все сопротивления и генераторы токов в ней следует заменить их дифференциальными параметрами. Емкост­ ные элементы остаются без изменения. Так как малосиг­ нальные модели применяются для расчета таких пара­ метров линейных схем, как коэффициент усиления, частотно-фазовые характеристики, величина искажения сигнала и т. д., то они должны более полно (по сравне­ нию с моделями для большого сигнала) отражать про­ водимости и емкостные связи между выводами прибора.

Рассмотрим пример построения низкочастотной ма­ лосигнальной эквивалентной схемы активной области МДП-транзистора с помощью метода заряда. Низкоча­ стотная эквивалентная схема применима до частот /=100—150 МГц, при которых собственной инерцион­ ностью прибора можно пренебречь. Можно считать, что при таких частотах распределение зарядов Q3, Qoc, Qp близко к стационарному и ток безынерционно «следит» за напряжениями на электродах U3t & с, £/'«. Для про­ стоты будем считать, что зависимостью подвижности от поперечного и продольного полей можно пренебречь. Это допущение справедливо при напряжениях U3<^U1<Xt Uc<.'Ul<Vi т. е. при напряжении затвора С/3~ 5—10 В. Методика построения эквивалентной схемы для больших U3 аналогична 'приведенной.

Перепишем выражения для

зарядов (4.93) с учетом

того, что подвижность р.рэ считается постоянной:

J Q3Qp dU

 

 

 

 

 

Q>n(Us-U'H,U3- U 'CtU3),

f

QpdU

 

 

"A 'c

_

_

(4.128)

u 'c

j*

QocQpdU

 

ГД® Q p =

Q a — Q n o a

Q o c .

Напомним, что (>3, Qoc, Qp, <?пов нормированы к Сд. При-.построении-' малбсигнальной модели не будем вводить упрощения (4.88), при которых заранее опреде­ лен вид эквивалентной схемы (рис. 4.18). Дифференци­ руя (4.128) и обозначая малосигнальные токи и напря­

жения малыми буквами, получаем

 

дфз п

/ *

___ ' /

ч I

3Q,

п у

д Ф, — U'„) ^

 

 

"Чз

 

и ”)'Т а(У3 —С/'с) х

X («3 -

И'с)+

 

йэ =

С'з а (йа -

й!.) +

- | -

С * Э С (И э

•—

И #с )

С ^ з п И з ,

 

(4.129)

 

dQoc П

U1я

dQoc

 

 

 

df/'и

7“ W*c +

 

- и 1

dUr,

 

 

aQ«

•СГц nUfR-\-С'спи'с “ |“

С'из # з .

асу3

 

 

 

 

 

 

Здесь, как и ранее, штрихом выделены элементы, отно­ сящиеся к активной области.

Рис. 4.29. Низкочастотные малосигнальные схемы активной области МДП-транзистора:

a—четырехэлектродное включение; б —включение при объединенных истоке

иподложке.

Можно показать [6], что коэффициент С'зп< 0 и С'311= —С'пз и, следовательно, соответствующий этому коэффициенту элемент эквивалентной схемы является «отрицательной емкостью» (т. е. увеличение во времени напряжения на этом элементе приводит к уменьшению

тока, протекающего через него). Из

равенства

С'зп=

= С'пз следует, что вторым выводом этот

элемент

подключается к электроду подложки.

Для отражения

238

такого элемента в эквивалентной схеме Надб между за­ твором и подложкой включить генератор тока С'3пЫ3, направленный от подложки к затвору (рис. 4.29,а). Вы­ ражения для емкостных параметров эквивалентной схе­ мы определяются дифференцированием (4.129).

Теперь определим необходимые дифференциальные проводимости. В малосигиальной эквивалентной схеме ток /с, протекающий между истоком и стоком, характе­ ризуется двумя элементами: малосигнальной проводи­ мостью стока g c и генератором тока ic'

i'c =

gbU-з4" (8»4" 8е) и'к> 8э = dlcjdUs,

^ 130)

gc =

dIcjdU'e, gu=dIc!dU’a.

К

Для того чтобы убедиться в этом, запишем выражение для тока стока (4.31), считая, что подвижность р,рэ= = const, и используя формулу для удельного заряда ка­ нала (4.20):

"'с

= CA|XPSZ /I.

(4.131)

Продифференцируем это выражение по напряжениям

U'a, U’с. и'ж:

ga =

dh/dUa =

k (Wс - {/'„).

 

go =

dlofdU’o =

k{Ua-U. + t / a - W 'c -

 

 

-B^V V o+U 'o),

(4.132)

ga = dlotdU'a = - k ( U a - U o + UB\ -

 

U'„ Boo |/?o "t- U'tt).

Сучетом этих выражений малосигнальный полный ста­ тический ток можно 'записать в виде

i ' c П = gbUz4 “ 8С^'С+

= £зИз 4" £с‘(и'с*— U'и) 4- (gH4gc) W'u*

Поэтому в эквивалентной схеме между истоком и сто­ ком следует включить параллельно проводимость gc и генератор тока 1'с=£з«з+,(£и+£с) и'п. Если исток объединен с подложкой, то эквивалентная схема значи­ тельно упрощается (рис. 4.29,6).

Для того чтобы получить полную эквивалентную

схему

МДП-транзистора,

надо

дополнить

схему

рис. 4.29паразитными

емкостями

и малосигнальными

проводимостями.

высокочастотные

эквивалентные

Малосигнальные

схемы

можно получить

с

помощью

малосигнального

 

 

 

 

анализа

уравнения

непре­

°—тН — 1—II—

ъС'

 

рывности для удельного за­

 

ряда канала (4.19). Такой

 

 

 

 

анализ,

проведенный в рабо­

 

 

 

 

тах [26, 6] для случая, когда

•о _ л ± ______

-°и

 

влиянием заряда обедненно­

 

го слоя

и зависимостью по­

Рис. 4Я0. Высокочастотная мало-

движности

.можно

прене­

бречь,

приводит к

эквива­

снгнальная

эквивалентная

схема

лентной схеме рис. 4.30. Па­

активной области АГДЛ-транзи-

стора.

 

 

 

раметры эквивалентной схе­

чина 5»

 

 

 

мысведены в табл. 4.3. Вели­

которая характеризует режим

работы

прибора,

равна нулю в режиме отсечки и становится равной едини­ це в пологой области. Теоретические зависимости элемен­

тов эквивалентной схемы

от режима

приведены на

ис. 4.Э1. С увеличением

тока стока

сопротивления

'зи и R'ao увеличиваются; в пологой области Я'зп пе­ рестает зависеть от тока, a R'3C— >-оо. Постоянная вре­ мени т' минимальна при /с=0 и увеличивается с ростом этого тока.

Рис. 4.31. Теоретические зависимости параметров высокочастотной эквивалентной схемы от тока стока.

Соседние файлы в папке книги