Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения. Т. 6

.pdf
Скачиваний:
23
Добавлен:
13.11.2023
Размер:
23.3 Mб
Скачать

Результаты Уордена и Даниэльсона для пленок калия при 100 К показаны на фиг. 11. Сплошными линиями изображены теоретические кривые (ср. фиг. 2), вычисленные по формуле Фукса при р = 0; 0,2 и 0,5. Как видно из фиг. II, эксперимен­

тальные точки для более толстых пленок можно подогнать под любую из трех теоретических кривых, что дает три разных зна­ чения для ро и I. Используя эти значения р0 и /, можно по фор­

муле (2) вычислить величины электронной концентрации; при этом получаются значения 1,01; 0,57 и 0,23 свободных электро­ нов на атом соответственно для р = 0; 0,2 и 0,5. Согласно дан­

ным для массивных образцов, в калии на атом приходится при­ близительно один электрон, поэтому Уорден и Даниэльсон вы­ брали значения р = 0, I = 1180 А, р0 = 1,85 мкОм-см. Последнее

значение ро очень хорошо согласуется с объемным значением [116]. Для пленок тоньше 400 А экспериментальные кривые про­ ходят несколько выше кривых Фукса. Такое расхождение, повидимому, можно объяснить тем, что пленки указанной толщины имеют разрывы1).

Из этих результатов, а также из данных, полученных груп­ пой Клосталя, следует, что вакуумным напылением можно изго­ товлять сплошные пленки щелочных металлов, по структуре и степени чистоты приближающиеся к массивным образцам. Из этих данных также вытекает, что на поверхности поликристаллических пленок щелочных металлов, приговленных вакуумным напылением, электроны рассеиваются диффузно2).

б. Пленки благородных металлов. Имеется обширная лите­ ратура, посвященная изучению процессов зарождения и роста тонких пленок меди, серебра и золота. Большое внимание в ней уделено исследованию размерных эффектов в электропровод­ ности этих металлов и сопоставлению полученных результатов с известной структурой пленок.

Первое количественное сравнение эксперимента с теорией было проведено Рейнольдсом и Стилвеллом [118]. Они измеряли при комнатной температуре зависимость удельного сопротивле­ ния и температурного коэффициента сопротивления от толщины для поликристаллических пленок меди и серебра, полученных вакуумным напылением. В предположении полностью диффуз­ ного рассеяния на поверхности получается очень хорошее согла­ сие с теорией Фукса; значения длины свободного пробега для меди и серебра при комнатной температуре соответственно ока­ зываются равными 450 и 520 А.

') Намба [117] показал, что такого рода отклонения от теории Фукса вполне естественны для пленок с несовершенной поверхностью.

2) Сирклер [115], однако, наблюдал некоторые признаки частично зер­ кального отражения в поликристаллических пленках калия.

Многими авторами было показано, что в тонких поликристаллических пленках золота имеет место частично зеркальное рассеяние [85, 119— 124]. Гилхэм и др. [119] напыляли пленки золота толщиной от 55 до 880 А на подложки из окиси висмута, а затем на золото напыляли другой слой окиси висмута. Такую слоистую структуру можно было отжигать при температуре до 450° С, не вызывая при этом аггломерации слоя золота. До отжига сопротивление пленки при уменьшении толщины, как и следовало ожидать, возрастает, после отжига сопротивление

пленки слабо зависит от толщины. Измерения

проводились

при 90, 293 и 493 К. Удельные сопротивления р0

отожженных

пленок, найденные путем экстраполяции, превышали объемное удельное сопротивление золота при 293 и 90 К соответственно на 60 и 250% [125], что указывает на довольно высокую кон­ центрацию дефектов в этих пленках. Поскольку длина свобод­

ного пробега электрона при 90 К должна составлять, по

мень­

шей мере, 500 А, трудно объяснить слабую зависимость

удель­

ного сопротивления от толщины при изменении последней от 100 до 800 А, не предполагая частично зеркального отражения.

Энное [120] изучал влияние толщины на сопротивление пле­ нок золота, полученных вакуумным напылением на подложки из окиси висмута, при комнатной температуре. Он также на­ блюдал значительное уменьшение удельного сопротивления в результате отжига и очень слабую зависимость удельного со­ противления от толщины отожженных пленок. Удельные сопро­ тивления были очень близки к объемным значениям, однако их температурные коэффициенты составляли лишь половину объ­ емных, Эти результаты в свою очередь подтверждают наличие частично зеркального отражения, но данные по удельному со­ противлению и температурным коэффициентам плохо согла­ суются между собой.

Зависимость удельного сопротивления поликристаллических золотых пленок, полученных вакуумным напылением на под­ ложки из окиси висмута, от толщины исследовал также Лукас [121, 122]. Его результаты хорошо согласуются с данными Энноса и обнаруживают то же самое расхождение в отношении температурных коэффициентов сопротивления. Однако его эксперименты с дополнительными слоями подтверждают факт зеркального отражения. В этих экспериментах он фиксировал изменение сопротивления золотых пленок при нанесении допол­ нительных слоев золота. Результаты показаны на фиг. 12.

Сопротивление отожженных пленок («зеркальные» пленки) при нанесении на поверхность дополнительных слоев золота вначале увеличивается. Неотожженные («незеркальиые») плен­ ки обнаруживают ожидаемое уменьшение сопротивления с ростом толщины. Вероятной причиной возрастания сопротивле­

ния является ослабление зеркального отражения на верхней поверхности пленки. Детальный расчет показывает, что резуль­ таты можно объяснить, предполагая, что при добавлении слоя золота толщиной 40 А параметр зеркальности р на верхней по­

верхности снижается от 0,9 до 0, а параметр зеркальности для нижней поверхности остается неизменным, равным 0,9 [122]. Лукас определил также длину свободного пробега электрона

Ф и г. 12. Эксперимент тальная зависимость сопро­ тивления золотых пленок от толщины дополнитель­ ного слоя золота d [121].!

# 0—начальное сопротивление пленки (после отжига сопроти­ вление «незеркальной» пленки составляло «7,0 Ом) 1121].

при комнатной температуре, которая оказалась равной 400 А как для отожженных, так и для неотожженных золотых пле­ нок; это означает, что в процессе отжига изменяется только параметр зеркальности.

Чопра и Рэндлетт [122а] наблюдали, однако, лишь неболь­ шое изменение сопротивления сплошной пленки толщиной бо­ лее 100 А при напылении на нее того же материала. Отсюда они делают вывод, что пленки в опытах Лукаса, имевшие толщину менее 100 А, возможно, содержали разрывы и, таким образом, теоретическая интерпретация Лукаса перестает быть справед­ ливой.

Тумбе и Беннет [123] изучали тонкие пленки золота, полу: ченные вакуумным напылением, диодным распылением и триодным распылением на стеклянные подложки. Для всех пленок независимо от способа приготовления и отжига значения тем­ пературного коэффициента сопротивления совпадали с объем­ ными. Однако удельное сопротивление пленок, полученных триодным распылением, было выше, чем у пленок, полученных

диодным распылением или вакуумным напылением, и, как ни странно, при толщине более 150 А не зависело от последней. Этот факт согласуется с предположением о зеркальном отраже­ нии, однако трудно понять, почему таким образом должны себя вести только пленки, полученные триодным распылением.

Другие экспериментальные исследования размерных эффек­ тов в тонких поликристаллических пленках золота не содержат, однако, указаний на зеркальное отражение электронов. Кадерейт [126] измерял удельное сопротивление золотых пленок толщиной от 600 до 10 000 А, нанесенных на стекло. Измерения проводились при 4,2 и 295 К; результаты для 4,2 К представ­ ляются особенно полезными, так как они более пригодны для сравнения с теорией Фукса, чем аналогичные данные, получен­ ные при комнатной температуре. Кроме того, поскольку при низких температурах длина свободного пробега электрона ста­ новится намного больше, можно проводить эксперименты с го­ раздо более толстыми образцами, в которых изменение струк­ туры с толщиной, по-видимому, не столь существенно.

Экспериментальные результаты Кадерейта для 4,2 К пред­ ставлены на фиг. 13. Сплошные прямые получаются из теории

Фиг. 13. Размерная

зависимость величины 1/pd для

пленок золота при

4,2 К [126].

 

 

Давление кислорода при

нанесении пленок имело следующие

значения (в мм рт. ст):

AulИГ6, Аи8—1<Г\ Аиа- 1<Г3.

Фнг. 14.

Размерная зависимость величины рd для пленок

золота при

295 К [126].

 

 

 

 

Фукса при малых k и р =

0 [см. формулу (10)], верхняя пря­

мая (Au 1) соответствует

значениям

I — 2,86 мкм

и р0 =

= 0,0286

мкОм • см. Этим

значениям

соответствует концентра­

ция свободных электронов, равная 1 электрону на атом. Как видно из фиг. 13, повышение давления кислорода в процессе напыления приводит к относительно малому увеличению удель­ ного сопротивления пленки. Результаты для пленки Aul при комнатной температуре показаны на фиг. 14. Сплошная прямая линия соответствует формуле Фукса для больших k и р = 0

[формула (И)] и Дает значения / = 420 А и ро = 2,25 мкОм-см, что соответствует концентрации свободных электронов, равной 0,9 электронов на атом. Отличное совпадение эксперименталь­

ных результатов с формулой

Фукса для р = 0 при температу­

рах 4,2 и 295 К указывает на

полностью диффузное рассеяние

вэтих поликристаллических золотых пленках.

Вработах Чопры и др. [127] и Чопры и Бобба [128, 129] впервые описаны измерения удельного сопротивления монокристаллических металлических пленок. Результаты, полученные на эпитаксиальных золотых пленках, значительно отличаются от результатов для поликристаллических пленок золота. На фиг. 15 показана зависимость удельного сопротивления от толщины при комнатной температуре для монокристаллических пленок зо­

лота и для отожженных и неотожженных поликристаллических золотых пленок. Экспериментальные данные для монокристал­ лических пленок можно согласовать с формулой Фукса, полагая р = 0,8. Результаты для поликристаллических пленок согла­

суются с формулой Фукса для чисто диффузного рассеяния (р = 0). Для длины свободного пробега электрона получается

значение 400 А, что совпадает с результатами других экспери­ ментов с пленками золота при комнатной температуре [119, 126]. Зависимость температурного коэффициента сопротивления от толщины также согласуется с теорией Фукса (фиг. 16), если предположить частично зеркальное отражение для монокристаллических пленок и диффузное рассеяние для поликристаллических пленок.

Зависимость удельного сопротивления монокристаллических серебряных пленок от толщины изучалась в работах Ларсона и Бойко [130] и Дуггала и Нэгпала [131]. Ларсон и Бойко приго­ товляли серебряные пленки толщиной от 640 до 13 000 А ваку­ умным напылением на пластинки слюды при 300° С. Пленки были монокристаллическими, но с заметным двойникованием. Удельные сопротивления пленок измерялись при комнатной температуре и при 4,2 К; результаты для 4,2 К показаны на фиг. 17 и 18. На фиг. 18 приведено отношение удельных сопро­ тивлений г = р2эв/Р4,2, деленное на толщину d, как функция от Ind. Прямую линию, проведенную через экспериментальные точки, можно сопоставить с формулой Фукса для малых k [фор­

мула (15)]. Пересечение этой прямой с осью абсцисс непосред­ ственно определяет значение длины свободного пробега элек­ трона / = 31 мкм. Предполагая, что на атом приходится 1 сво­ бодный электрон, по наклону этой прямой можно вычислить значения параметра зеркальности р и отношения сопротивлений для массивного образца г0; при этом получается р = 0,5,

Фиг. 15. Удельное сопротивление р пленок золота, нанесенных на слюду, в зависимости от толщины d [129].

X —пленки, эпитаксиально выращенные на слюде; Д неотожженные пленки, напыленные иа холодную слюду. А —отожженные пленки, напыленные на холодную слюду.

1 — диффузное рассеяние; 2 —массивный образец»

го = 600. Столь высокое значение Го указывает на то, что сте­

пень чистоты и структура эпитаксиальных серебряных пленок должны быть сравнимы с тем, что мы имеем в случае чистых кристаллов серебра1). Дуггал и Нэгпал [131] также получили значение р = 0,5 для параметра зеркальности в опытах с се­

ребряными пленками, напыленными на расщепленные пластинки слюды.

Фиг. 16. Температурный коэффициент удельного сопротивления а пленок золота в зависимости от толщины пленки d [129].

X пленки, эпитаксиально выращенные на слюде; А неотожженные пленки, напыленные на слюду; А отожженные пленки, напыленные на слюду.

1 —диффузное расстояние; 2—массивный образец.

в. Поливалентные металлические пленки. При анализе экс­ периментальных данных для пленок щелочных и благородных металлов обычно полагают, что в проводимости участвует один электрон на атом и что эффективная масса электрона равна массе свободного электрона. К этим экспериментам непосред­ ственно применима теория Фукса, поскольку у таких металлов поверхность Ферми близка к сферической, а длина свободного пробега электрона приблизительно изотропна вдоль всей по­ верхности Ферми. Поэтому величину р0/ = l/ао можно вычислить

по формуле (2) и по экспериментальной зависимости удельного сопротивления от толщины определить неизвестные величины ро, I и р.

Вопрос о возможности применения теории Фукса к другим' металлам, валентность которых больше единицы, а поверхность-

*) Наивысшее значение отношения сопротивлений для серебряных пленокна слюдяных подложках составляет 175, а для серебряных пленок на подлож* ках из каменной соли — около 300 [30].

о

О

4000

8000

12000

 

 

d .l

 

Фиг. 17. Удельное сопротивление р серебряных пленок при 4,2 К в зависи­ мости от толщины пленки d [130].

Сплошными линиями показаны теоретические зависимости при длине свободного пробега электрона /=31,2 мкм и отношении объемных удельных сопротивлений

Фиг. 18. Размерная

зависимость отношения

удельных сопротивлений

г = Р2954.2, деленного на

толщину d , для пленок

серебра [130].

Сплошной линией показана теоретическая зависимость, соответствующая длине свобод­

ного пробега электрона /=31.2 мкм, отношению объемных удельных сопротивлений р 2 6/Р0 4 а=б00 и параметру зеркальности р=0,б.

Ферми имеет более сложный вид, остается открытым. Поэтому экспериментальные результаты приходится использовать для проверки применимости к этим металлам теории Фукса и вы­ числения величины ро/. Используя найденное таким путем зна­ чение р0/, можно вычислить по формуле (3) эффективную пло­ щадь поверхности Ферми и сравнить ответ с результатами изу­ чения поверхности Ферми другими методами. Эксперименты с тонкими пленками поливалентных металлов мы обсудим ниже, а сравнительный анализ данных для тонких пленок и проволок отложим до разд. III, 5, б.

Детальное изучение электрических размерных эффектов в пленках поливалентных металлов было впервые проведено Эндрю 196]. Он изучал зависимость удельного сопротивления прокатанных оловянных фолы от толщины в области от 3 мкм до 2 мм при низких температурах. Измерения проводились при 3,8; 13,9; 20,4; 79 и 291 К. Хотя удельное сопротивление при ком­ натной температуре возрастает при уменьшении толщины, отно­ шение удельных сопротивлений p29i/p79 от толщины не зависит.

Такое поведение можно объяснить изменением поликристаллической текстуры с толщиной; ввиду анизотропии сопротивления олова это приводит к зависимости удельного сопротивления от толщины. Степень чистоты фольг, по-видимому, остается неза­

висимой ОТ ТОЛЩИНЫ. Отношения p29l/p20,4, P29i/pi3,9 и pW p 3,8

убывают при уменьшении толщины в согласии с теорией Фукса для чисто диффузного рассеяния на поверхности. При всех трех

температурах хорошее совпадение

отмечается при

ро/ =

= 20-10-12 Ом-см2. Согласно формуле

(4), эффективное

число

электронов, принимающих участие в проводимости, равно 0,43 на атом. Можно также согласовать результаты с большими зна­ чениями р, но тогда получаются большие значения ро/, в то

время как Чамберс [132] и Фосетт [63], используя результаты измерений аномального скин-эффекта, получили для ро/ соот­ ветственно 10,5 и 8,2-Ю-12 Ом-см2.

Таким образом, данные Эндрю, по-видимому, указывают на то, что теория Фукса применима к олову и что рассеяние элек­ тронов полностью диффузное. Большая величина ро/, однако, делает этот вывод несколько неопределенным. Сообщалось также об исследовании электрических свойств поликристаллических пленок олова и свинца, приготовленных вакуумным на­ пылением [133—135], но сколько-нибудь однозначного опреде­ ления параметра зеркальности сделано не было. Вакуумным напылением получали также монокристаллические пленки олова, но их электрические свойства не изучались [136, 137].

Размерная зависимость удельного сопротивления пленок и пластинок алюминия и индия была предметом многих иссле­ дований. Зависимость удельного сопротивления алюминиевых

пленок (фольг), полученных холодной прокаткой слитков чи­ стого алюминия, от толщины изучалась в работах Форсволла и Холвеха [138], Холвеха и Джеппесена [139], Ван Зитвельда и Басса [82] и Котти и др. [140]. Форсволл и Холвех проводили измерения при 4,2 К и для наиболее чистых материалов полу­ чили хорошее согласие с теорией Фукса при р = 0 (отношение

сопротивлений изменялось от 7200 до 26 500). Среднее значение р0/ для наиболее чистых материалов составляло 7*10-12 Ом-см2, но разброс в значениях был довольно велик. Более поздние эксперименты Холвеха и Джеппесена с холоднокатаными фольгами снова обнаружили согласие с теорией Фукса при темпе­ ратурах 4,2; 10; 15; 20; 25 и 30 К. Для р0/ были получены значе­ ния от 7,7 до 11,7-lCH2 Ом-см2, причем большие значения отве­ чали более высоким температурам.

Результаты Ван Зитвельда и Басса сходны с результатами Холвеха и Джеппесена. Их данные можно согласовать с тео­ рией Фукса при любой температуре между 4,2 и 30 К, но каж­

дая

температура

характеризуется своим значением ро/. Величина

ро/

возрастает

от 8,25-10-12 Ом-см2

при 4,2К

до

13,34X

X 10-12 Ом-см2

при 3 0 К 1). Котти

и др. проводили

измерения

на

одном образце при 4,2 К (ср.

разд.

11,7), чтобы

получить

значения р0/ для одного и того же образца. Результаты измере­ ния ро/ при 4,2 К дают очень малый разброс при изменении

толщины и термообработки

и приводят к

значению ро/ =

= 6,75-10-12 Ом-см2, хорошо

согласующемуся

с вышеупомяну­

тыми значениями.

Малый разброс результатов этих измерений на одном об­ разце по сравнению с обычными экспериментами, в которых используется много образцов, опять-таки указывает на труд­ ность получения образцов одинаковой структуры и чистоты, ко­ торые отличались бы друг от друга только толщиной. Приве­ денные выше значения р0/ несколько превышают значения, най­ денные при изучении аномального скин-эффекта [63, 132], и значение, которое получается, если предположить, что на атом приходятся 3 свободных электрона (р0/ = 4 -10—12 Ом-см2).

В недавней статье фон Бассевица и Митчелла [141] обсуж­ дается размерная зависимость удельного сопротивления поли- и монокристаллических пленок алюминия, полученных вакуум­ ным напылением. Монокрметаллические пленки наносились на подложки из бромистого калия, сколотые на воздухе или поли­ рованные, при 380 К. Поликристаллические пленки приготов­ ляли в аналогичных условиях на ненагретых подложках из бромистого калия с последующим отжигом при 380° С. Удель-

') Увеличение роI с температурой указывает на дополнительное, завися­ щее от размеров, отклонение от правила Маттиссена, помимо того, которое следует из теории Фукса. Этот вопрос обсуждается в разд. III, 4.