Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Оптимизация параметров импульсных и широкополосных усилителей

..pdf
Скачиваний:
1
Добавлен:
12.11.2023
Размер:
17.93 Mб
Скачать

рассматривать влияние rii+ti— 1 коэффициента. Для это­ го потребуется ( т + п—1)Х(я—1) полиномов, опреде­

ляющих чувствительности. Несколько облегчает поло­ жение то обстоятельство, что влияние параметров, из­ меняющих форму АЧХ, обычно сильнее сказывается в высокочастотной области. Поэтому в первом прибли­ жении можно ограничиться определением нестабильно­ сти только последнего экстремума (максимума) АЧХ. Накладывая ограничения на параметры элементов, при которых изменение этого экстремума остается в преде­ лах допусков, можно в значительной степени стабилизи­ ровать всю АЧХ.

•Приведенные в табл. 4-6 полиномы, аппроксимирую­ щие зависимости чувствительностей от коэффициентов изображения ПХ, имеют большие погрешности, чем по­ линомы, связывающие коэффициенты изображения или же определяющие граничную частоту (длительность фронта). Среднеквадратичные относительные погрешно­ сти здесь достигают 11%, а максимальные— 17%. Это не препятствует применению указанных полиномов. Да­ же при отклонениях коэффициентов изображения ПХ на 20% это приведет к дополнительной ошибке еДОп= = 17% *0,2=3,4%, что вполне допустимо.

4-4. СТАТИСТИЧЕСКИЙ РАЗБРОС ХАРАКТЕРИСТИК УСИЛИТЕЛЯ

В настоящее время имеется ряд методов для опре­ деления статистических характеристик разброса выход­ ных параметров усилителей при случайных изменениях элементов [56, 57]: метод наихудшего случая, метод гра­ ничных испытаний, метод статистических испытаний, метод натурных испытаний, гибридный статистический метод физического моделирования. Наиболее универ­ сальным из них является метод статистических испыта­ ний, заключающийся в том, что на ЭВМ моделируются как законы распределения элементов, так и работа элек­ тронной цепи. При этом многократно вычисляются вы­ ходные параметры, соответствующие случайным сочета­ ниям элементов. По результатам испытаний определяет­ ся вероятность попадания выходного параметра устрой­ ства в поле допуска или же по заданной вероятности рассчитывается требуемое ноле допуска. Практически при использовании этого метода приходится проводить очень большое число испытаний, что далеко не всегда

161

возможно даже с помощью ЭВМ. Число необходимых испытаний N при заданной достоверности а, погрешно­ сти оценки 8 и вероятности события Р определяется по

формуле [69]

(1 - Р ) Р

(1 — а) е2

Оно очень быстро возрастает при увеличении а и уменьшении е. Так, например, для того чтобы с досто­ верностью а=0,98 погрешность оценки не превышала 0,02 при Р = 0,4, необходимо провести 30 тыс. испытаний.

В [58] приводятся случаи расчета даже с 150 тыс. испы­ таний. Такое число испытаний вполне допустимо, если расчет ведется по сравнительно несложным формулам и каждый вариант вычисляется за время порядка не­ скольких миллисекунд. Переходные же процессы в це­ пях рассчитываются во много раз дольше. Поэтому и при значительно более скромных требованиях к досто­ верности и погрешности оценки применение метода ста­ тистических испытаний становится затруднительным.

В статистических методах поиска оптимума [59] вре­ мя расчета сокращается с помощью специальных прие­ мов— накопления, самообучения и др. В данном случае эти приемы недостаточно эффективны, так как число испытаний все равно остается неприемлемо большим. Значительного сокращения машинного времени можно достигнуть, используя излагаемый ниже аппарат слож­ ных чувствительностей.

Рассмотрим сначала

приращение

параметра

с учетом корреляционных

связей между

изменениями

элементов схемы, удерживая только линейные члены:

 

т

 

п

6

^ = 2

s>Zi 2

 

i = l

q - 1

Как известно

[60],

математическое ожидание т у и

дисперсия Dy линейной

функции y = d i X i + ci2X 2 + ...

... + а пхп п случайных переменныхxq определяются так:

 

т у= (htriXx+ . . . + с т т Хп\

(4-35)

 

Dy = ^

qPxq -j- 2 ^

2

(4-36)

 

q = 1

q = 2 r < q

 

где

kqr— корреляционный момент

случайных

величин

X q И

Х г .

 

 

 

162

Применим формулы (4-35) и (4-36) для определения математических ожиданий и дисперсий параметров уси­ лителя. Как показано в предыдущем разделе, отклоне­ ния длительности фронта или граничной частоты опре­ деляются с учетом нормировки по оси времени или ча­ стот. Отклонения же выброса и спада вершины не зави­ сят от указанной нормировки. Поэтому для общности

получаемых формул введем члены

полагая, что

а=\/п при определении отклонений длительности фрон­ та, а = — 1 /п при определении отклонений граничной ча­ стоты и а 0, когда рассматриваются отклонения выбро­

са или спада вершины. Параметры цепи будем полагать распределенными по нормальному закону.

Тогда т Ьх =

0,

откуда т ь = 0 ,

а

 

 

 

я

 

 

J

 

 

 

 

 

п

/ т

 

 

\ 2

 

D * = 2

2

s '« « s 2 + « s £

/

K

+

 

<7=1

\i=1

 

 

\

 

 

п

(

т

 

 

 

+ 2

2

2

2 s ^ . s ; l +

aSbxn

X

 

<7=2 r<q \ i=l

 

 

/

 

(4-37)

или, если перейти к среднеквадратичным отклонениям,

3 п / т-

\ 2

^ = ’2 2 s ' * « ^ + < “ °% +

/?=1

\/=1

/

п

/ т

\

+22 2

2

^

5

К

Х

<7=2 г<р \ i=\

М

 

 

}

 

x ( s 5 ^ . s ; ; + a s M

o ^ :

(4-38)

здесь rqr — коэффициент корреляции величин xq и л>.

Аналогичное соотношение связывает и максимальные отклонения параметра думакс с отклонениями бхдмакс.

В некоторых случаях отклонения параметров элементов схемы можно считать некоррелированными (ГдГ= 0). На­ пример, величины пассивных элементов схемы, не опре­ деляющих режим работы активных элементов, некорре-

163

лк£>ованы с параметрами активных элементов. Чаще всёго величины пассивных элементов некоррелированы между собой. Тогда выражения (4-37) и (4-38) значи­ тельно упрощаются. Определим влияние квадратичных членов отклонения выходного параметра. Рассмотрим случай, когда изменяется только один из элементов xq — —х. Тогда из (4-9) с учетом (4-12) получаем:

т г \ / т

* = j ] ^

W

+ щ

W*., X

1=] ^

J

l/=i

 

 

иь

 

j

т

 

- s Sa*' SV +

< л+ ( 3

SV +

1=1

 

\ 1=1

 

ГП

 

 

 

 

+ а5^)2+ 22 S W

^ S ^ l + aWl*

(5л*)2. (4-39)

i=2 }<i

 

 

 

 

Представим выражение

(4-39)

в виде

 

 

6 у = А 6 х + В (6 х )2.

Тогда уточненное значение математического ожида­ ния равно:

Шу = У,(\ + 5<J*

(4-40)

среднеквадратичное отклонение

A . , 1 / I + ( T / -

<4-41>

По сравнению с величинами т у и оЬу, определенными

при учете только линейных членов, в выражениях (4-40) и (4-41) появились поправочные множители \-\-Во21х и

Даже при

отклонениях

параметра

х

на

величину

zt40°/o имеем °6х =

0,4/3 =

0,133, и поправка

составля­

ет 1+0,0185

для

математического

ожидания и 1 +

+0,018 (В/A)2

для

среднеквадратичного

отклонения.

Коэффициенты

А и

В близки к единице,

поэтому по-

164

правки практически можно не учитывать. Более подроб­ но количественные соотношения рассматриваются на примере конкретного усилителя.

Определим среднеквадратичное отклонение длительности фронта и выброса ПХ усилительного каскада (рис. 4-8) на транзисторах ГТ308А с эмиттериой коррекцией при заданных среднеквадратичных отклонениях параметров транзистора и пассивных элементов. Изо-

Pil)

бражение ПХ этого каскада имеет вид [42]:

 

h (s) =

 

1

4- ms

&2S2"*

 

 

 

i + bis +

 

 

где

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ft, =

1 + m£ - + W

 

i i

 

" ;

bt = /»■«;

 

uoe

 

 

 

Cloe

 

 

 

 

 

ae — 1

HI

 

RBCQ

a°e>

ae — 1 -f- Hin

aoe

 

= ~

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

mn=

C«fR» +

R6 +

re)g<,e .

 

 

L ;

 

xk$

 

 

 

 

 

 

doe

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

____(/?э~t~ Гэ) (1 4~ ‘3°)____ _ •

doe — 1~b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

[R6 +

re)

IL' + ^ O + W

]

ae =

1 +

 

Гэ (1 +

 

P°)_______

Гб)

[ t + | f (l+Po)J

 

(Яб +

Длительность фронта определяется в виде

 

 

 

Xьо

__

 

 

 

1Се

(4-42)

 

 

 

 

 

 

 

йое

 

 

J65

здесь г 'ф — дважды нормированная длительность фронта ПХ, изо­

бражение которой есть

1 + g iP h(p) = 1 -f- dip -f- рг f

__

1>2 (1 4~ Po)

-h CkRn (1 4* Po)

 

to| flzi |

— эквивалентная постоянная времени,

характеризующая совместное

влияние инерционности

транзистора

и

коллекторной цепи.

Расчет среднеквадратичных отклонений параметров XIX проведем в двух вариантах: при первом выбросе Вт=!3 и 10%.

Средние значения параметров транзистора ГТ308А, полученные

при измерении партии

в

*100 шт.,

следующие:

Ск—5

пФ; /* и б =

= 5,96 Ом; /1218=63,6;

ге=

5,2 Ом;

|М = 0 ,7 8 ;

соПзм=

628-10в с - 1.

Определим параметр коррекции при #э=И00 Ом, Ян=Т500 Ом. Для этого воспользуемся полиномами табл. 4-1, связывающими коэффи­ циенты числителя и знаменателя изображения ПХ при заданном выбросе. Так как

то каждый

из указанных полиномов представляет

собой уравнение

с одним неизвестным т , решив которое находим

т

=

0,801

(1,1176).

Значения параметров в скобках здесь и в дальнейшем

соответствуют

варианту 5 i = ‘10% , результаты, не заключенные

в

скобки,

соответ­

ствуют Bi=3% . Теперь находим

g i = 0,9178

(1,07122)

и определяем

т'ф='1,6546

(1,2159) с помощью

полиномов

2

и

8 табл. 4-1. Тогда

по формуле

(4-42) находим Тф =0,083 мкс

(0,07il

мкс). Эксперимен­

тально в исследуемой партии транзисторов получены средние значе­

ния Тф= 0,088 мкс (0,065

мкс).

Искомое отклонение

выразим через параметры . транзистора

и пассивных элементов,

влияющих на величину тф. Относительное

отклонение длительности фронта

Ф= S

* * * > = S

( <, ф+

+ 5 f ; + s *

- s ;« ) •* ,.

(4-43)

9 = 1

9 = 1

 

 

 

 

Здесь слагаемые

вида Sx 9 8xq отражают

непосредственное влия­

ние параметра Xq на форму П^С, остальные слагаемые учитывают его

влияние на изменение нормировки. Слагаемые первого вида рас­ крываются через промежуточные чувствительности следующим образом:

Чувствительности дважды нормированной длительности фронта к коэффициентам изображения определяются с помощью полиномов

3, 4 и 9, 10 табл. 4-1, при найденных значениях

gi они равны:

S’'* = 1,6481 (1,1717);

S’'* = — 0,8710 ( -

0,9663).

4

-

 

ЁеЛйчйнЫ du gu %k$, йае ё^занЫ t Пе^Ьичнымй параметрами

Xq не непосредственно,* а через некоторые промежуточные параметры. Поэтому^каждое слагаемое Sx в выражении (4-43) рассчитывается

также через

промежуточные

чувствительности. Рассмотрим это на

примере S ° e.

Параметр ае зависит от первичных параметров Ск,

Rat

Яб, гб, (Зо,

ги, Ro через т а, ае, аое, что наглядно изображено

на

рис. 4-9. Для

определения

•необходимо учесть все пути влияния

хя на (Тв и суммировать соответствующие им чувствительности, най­

денные с учетом промежуточных параметров, через которые эти пути проходят. Например, сопротивление гн влияет на величину ае через параметры qe и аое, поэтому

 

 

_ a. i

 

 

S

е .

 

 

 

'К Ж!

Сопротивление

Гб входит

в три промежуточных параметра т п,

ае и аое, отсюда

 

 

 

Таким образом рассчитываются в выбранной точке (для заданных

Х а ) все чувствительности S x ,

входящие в

коэффициенты Aq (4-43).

_

я

 

 

Втабл. 4-7 приведены экспериментальные данные минимальных

имаксимальных значений отклонений Ьхч параметров транзисторов

ГТ308А и заданные отклонения пассивных элементов усилителя, влияющих на величины Тф и В . Можно заметить некоторую асимме­ трию в распределении Ро, Ли, hzz, что объясняется нелинейной зави­

симостью их от первичных физических и производственно-технологи­ ческих параметров, распределенных нормально [61]. На основании экспериментальных данных среднеквадратичные отклонения параме­ тров транзистора, занесенные в табл. 4-7, определены в виде

аЬхя -

дШкс +

1 Змнн |

6

Для описания разброса пассивных элементов цепей в литерату­ ре используются как нормальное [56], так и равномерное [62] рас­ пределения. Мы в дальнейшем будем использовать равномерное рас­ пределение, так как в условиях производства радиодеталей часто

167

от

00

xq

Ро

СО

ы

R*

Ск

Апб

Яб

Сн

Гэ

Сэ

Ян

b x q

-0,47-7-0,37 —0,1-7-0,1 —0,526-7-0,436 —0 .1-т-0,1

1 «1

*

«•

•1

О

о

-0,137-7-1,014

1

О СО •1о* со

1

*1

о ото* от

—O.l-i-0,1 —0,2-7-0,2 —0.1-5-0,1

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 4-7

°bXq

s T4>

 

тBi

x q Я

 

 

 

 

xq

 

* q

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0i=3%

Bi=10%

Ь'Д»=з%

Si=10%

Si=3%

Bi=10%

0 1 = 3 %

I 01=10%

0,140

0,300

0,282

—2,281

—4.156

1,764

1,560

0,102

0,337

0,033

—0,295

—0,291

2,259

4,730

0,094

0,092

0,005

0,024

0,160

—0,286

—0,326

2,608

5,289

2,094

2,704

0,173

0,716

0,056

—1,593

—1.663

24,050

50,953

11,664

8,209

1,943

8,732

0.133

1,368

1,211

—15,350

—27,052

33,12

25,92

4,166

12,946

0.192

0,169

0,180

—0,890

—2,304

1,024

11,97

0,029

0,195

0,100

0,635

0,691

0,604

—0,835

4,032

4,761

0,004

0,007

0,167

0,219

0,151

—4,017

—6,252

1,332

0,625

0,450

1,090

0,033

—0,024

—0,024

0,400

—0,094

0,001

0,001

0,000

0,000

0,116

—0,651

—0,699

17.660

46,692

5,700

6,561

4,194

29,333

0,058

1,306

1,172

—14,389

—26,052

5.700J

4,624

0,695

2,383

берется выборка элементов с меньшим допуском из партии с боль* пшм допуском [63]. Использование нормального закона для описания распределения в таких выборках дает заниженные значения диспер­ сий. Поэтому среднеквадратичное отклонение # а, Сэ, Rn определено

в виде

макс

Х= УТ •

Вэтой же табл. 4-7 приведены значения чувствительностей S я *

вычисленные с учетом промежуточных переменных — коэффициентов изображения ПХ. Среднеквадратичное значение погрешности дли­ тельности фронта вычислено по формуле (4-38)

<7 = 1

Для определения среднеквадратичного отклонения выброса исполь­

зуются ранее найденные значения

и S*1, так как абсолютная чув­

ствительность равна

 

 

 

 

Тв =

Тв № '

+

Тв,

St' .

Si4

'

“I

*п

Значения абсолютных чувствительностей выброса к коэффициен­ там gi и di определяем с помощью зависимостей 5, б и 1'1, 12

табл. 441.

Для рассматриваемой схемы это дает 7*2; = 8,432 (20.33), 7*; = *= — 30,75(— 48,54). В табл. 4-7 приведены также чувствительности Тв/ . Используя их, найдем

 

 

'АВ

= ] / " 2

Xq ^bXq,)2-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

<7 = 1

 

 

На основании данных табл.

4-7 можно сделать вывод, что среди

рассматриваемых 11 параметров

имеются такие, влияние которых на

величину

и

вдв, оцениваемое

произведениями

($Хл<з%г )2 и

 

 

 

 

 

 

я

(Г Вхд 9Ъхд)ъ* значительно больше,

чем влияние остальных. Такими па­

раметрами для

Тф

являются Си, tfo,

Со, Rn, Re, для

В — Ск, Са, R9.

Учет разброса только этих параметров позволяет значительно упрос­ тить весь расчет. В табл. 4-8 приведены соответствующие данные,

атакже результаты экспериментальной проверки.

Вприведенном примере не учтены корреляционные связи между параметрами транзистора, так как в число параметров, существенно влияющих на Т ф и В, -входит только один из них — Ск.

Таким образом, применение относительных и абсолют­ ных чувствительностей первого порядка позволяет с до­ статочной точностью определить среднеквадратичные

12— 195

169

Т а б л и ц а 4-8

Учитываемые параметры

Все

с к, R9,

С R

с с~

Экспери­

С9, RH, /?б

 

°К ' ь э

мент

В \ — Зо/о

 

МКС

0,2 5 8

0 ,2 3 7

0,210

0 ,2 3 3

 

аЛв»

%

3,41

3 .2

2 ,8 9

б , = 1 0 %

а отф*

МКС

0,238

0

,2 2 4

0 ,1 8 4

0,211

 

«да*

°/°

7 ,4 4

7

,1 3

6 .5

отклонения параметров ПХ усилителей, выявить параметры, существенно влияющие на переходный процесс, и обоснованно устанавливать допуски на эти параметры.

4-5. СТАТИСТИЧЕСКАЯ ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ

Задача минимизации разброса параметров ПХ и АЧХ, вызванного разбросом параметров активных и пассивных элементов усилителя, в некоторой степени аналогична задаче минимизации детерминированных отклонений. В данном случае изменяется оптими­ зируемая функция — вместо абсолютного или отно­ сительного отклонения выходного параметра у миними­

зируется дисперсия или среднеквадратичное значение указанных отклонений. Задача оптимизации несколько облегчается тем, что влияние квадратичных членов раз­ ложения в ряд функции y —ip(*i, .... хп) на дисперсию

и математическое ожидание выходного параметра зна­ чительно слабее, чем влияние их на максимальное от­ клонение того же параметра. Поэтому можно, не допу­ ская большой погрешности, учитывать только линейные члены разложения.

В зависимости от требований, предъявляемых к уси­ лителю, возможны различные варианты оптимизации. В простейшем случае отыскивается минимум дисперсии рассматриваемого параметра без каких-либо дополни­ тельных требований. Это задача может быть решена классическими методами математического анализа, но особого практического интереса не представляет. Опти­ мизация по какому-то критерию в данном случае приво­ дит к недопустимому ухудшению других параметров, не входящих в критерий. Значительно чаще возникает не­

170