Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Методы электрических измерений

..pdf
Скачиваний:
8
Добавлен:
19.11.2023
Размер:
53.63 Mб
Скачать

Рассматриваются только линейные средства измерений, т. е. такие, для которых применим принцип суперпозиции:

L \kxxx (t) -j- k2

2 {t) -f

-j- knxn(^)] =

k%Lxx it)

Lxz(t) +

knLxn(/)•

В таких средствах измерений при изучении частных процес­ сов можно сделать предположение о наличии всевозможных про­ цессов в. данном СИ.

Расчет основной статической погрешности. Основная погреш­ ность СИ появляется вследствие отличия его реальной статической характеристики преобразования от идеальной при нормальных условиях его эксплуатации. Для линейного СИ с аддитивной и мультипликативной составляющими погрешности реальное пре­

образование измерительного сигнала можно выразить

соотноше­

нием

 

у = kpX + Д,

(9.1)

где kp — коэффициент преобразования СИ; Л— аддитивная по­ грешность.

Выходной сигнал идеального СИ можно записать в виде

Уп =* *■#;

(9-2)

тогда погрешность СИ будет

 

Др ~ (^р — ^я) х -f- Д.

(9.3)

Значение систематической составляющейпогрешности

Д0 и

дисперсию о2 [А] случайной составляющей А можно в этом случае вычислить из соотношений

Дс =

М {{kv — &и)х - f Д] = [ftp] К)х-\-т [Д];

+

D [(Лр -

ftj х + Д] =

D [£р]ха + D [Д] +

(9.4)

аа [А] =

2Rx,

где R — коэффициент

корреляции

между величинами L и А.

Для модели погрешности СИ

типа (Л4/)а [56]

необходимо

определить

максимальное значение погрешности.

Этоможно

сделать из

соотношения

 

 

шах Ар = max [&р — Ад] max х -f шах Д.

(9.5)

Для вычисления погрешности, очевидно, необходимо знание либо статистических характеристик коэффициентов преобразова­ ния, либо предельных отклонений их от номинальных значений. То и другое можно найти при известной схемотехнике изделия, используя теорию чувствительности [16].

Пример 9.1. Вычислим погрешность нормализующего преобразователя, выполненного на измерительном операционном усилителе типа Ю 53УД-5. Схема преобразователя для расчета погрешности приведена на рнс. 9.1. Для

Рис. 9.1. Нормирующий измерительный преоб­ разователь

такого преобразователя в соответствии с рабо­ той [23] значение Ау может быть записано в виде

=

“Ь (есм "Ь есм г')

>

где ka — R jR f — коэффициент

усиления

иде­

ального преобразователя;

f$ =

R-JiRi + R2)

коэффициент обратной связи (для усилителя типа К153УД-5 rBI 2> Rs)\ еСм + ^см t— аддитивная погрешность, обусловленная смещением нуля и разностью входных токов усилителя. Значение напряжения смещения приведено к выходу усилителя: еСм — ^см. вх&и; еСм г — knR± At.

о

Тогда в соответствии с выражением (8,.4) значения Д0 и а [А] можно найти из соотношений:

Д= = М |^4И( Я ^ г т ) ] * + т 1еш1 + ^вЯ,т [ДО;

[*| = *Уо

+ D[сСм! +

Ед‘1-

Полагая, что в преобразователе применены резисторы со стабильными пара­ метрами, изменением которых можно пренебречь, и задаваясь видом закона распре­ деления величин k, есм, Ai, можно найти числовые характеристики основной по­ грешности, используя правило нахождения числовых характеристик функцио­ нально преобразованных случайных величин.

Определение дополнительных погрешностей. Исходными све­ дениями, необходимыми для вычисления дополнительной погреш­ ности, являются нормируемые метрологические характеристики средства измерений:

номинальная функция влияния на систематическую погреш­ ность фс.ном (£.,) /-го влияющего фактора;

номинальная функция влияния на среднее квадратическое отклонение случайной составляющей погрешности /-го влияющего фактора фаиом (gy);

номинальная функция влияния на вариацию показаний СИ

Фн.ном (Ь) /-го влияющего фактора.

Эти характеристики могут быть .заданы как характеристики любого СИ данного типа или как индивидуальные характери­

стики конкретного СИ — фс (gy); фа (£у); фн (У-

В общем

Необходимы также сведения о влияющих факторах

случае необходимо знать значение влияющего фактора

или

закон его распределения W (£у). В практике

измерений часто

достаточно знать его математическое ожидание

М [£;]'

и среднее

квадратическое отклонение а 1£у ] или наибольшее | ву и наимень­ шее | ну значения этого фактора, соответствующее реальным усло­ виям эксплуатации СИ данного типа.

Метод расчета погрешностей зависит от вида модели погреш­ ности средства измерений — АН, ЛШ 1см. (10.1) и (10.2)1,

которая, в свою очередь, определяется допускаемой степенью риска при принятии решения по результатам измерения [56].

Расчет статистических моментов погрешности. Для линей­

ных функций ВЛИЯНИЯ

фо. ном ( У =

*с. ной &

— SHOP* i) (где

/гс. пом} номинальный

коэффициент

влияния

/-го влияющего

фактора на систематическую погрешность СИ; Енорм./ — нормаль­ ное значение влияющего фактора) значения математического ожидания и дисперсии дополнительной погрешности могут быть

найдены из

соотношений

 

 

 

М [фс. НОМ (Ij')]

К

НОМ

[Е; Енорм j \ —

&с. НОМ } [М ( |/)

Енорм ;]»

D[ф0. НОМ (s/)l

k a. ИОМ/ D[Е/ --- Енорм /] =

 

k 0, НОМ [Е/]»

/ = 1 » Л,

где п — число влияющих факторов.

Если функция влияния нелинейна, то статистические характе­ ристики дополнительной погрешности могут быть найдены по правилам нахождения статистических характеристик функцио­ нально преобразованных случайных величин. В этом случае

значения

М [фс.ном(Е;)1 и а2 [фс.ном (ij*)3

могут быть опреде­

лены из

формул

 

 

%

 

 

М [фс.ном (Е./)] =Ч) [ Фс. ном (Еj) ^

(Е;') ^Е;»

 

Ч)

(9.7)

D M V OOM ( £ / ) ] = }

%uj

Приближенные значения этих составляющих дополнительной погрешности могут быть в соответствии с РД 50-453—80 опре­ делены следующим образом:

м

„„„ о

- v „„„ [м « л + 0 ,5 ^ . н«»(м «,)] о2 к,];

D[4>О.НОМ «/>] =

м>;. НОМ (Л П Ш 'сЧ М + о д м с НОМ (М [|/ Ш3оЧЕ/].

 

 

(9.8)

Если для /-й влияющей величины известны только ее наимень­ шее £нj и наибольшее Ев; значения и нет оснований выделять области предпочтительных значений влияющей величины в этой области значений, то при любых значениях и Евj допускается для расчетов М [|}\ и о [£Д пользоваться соотношениями

М [ у = 0.5К«, + 6„]; a [ y = (5„j- ? „ ,] — = .

(9.9)

Математическое ожидание М [Д? ] и дисперсию D [At ] ста­ тической составляющей инструментальной погрешности СИ в ре­ альных условиях эксплуатации можно вычислить из следующих соотношений.

1. Если известны значения влияющих величин, то

М [А|] = М [А0.с] +

£ Фс.НОМ

 

 

 

 

2

 

D [Д |] — [А0. с! 4"

[А„] + 2

Устном (Ej)i

4" "33 Я ор 4 -

Л

/= I

 

J

 

-i2

 

Риом

 

4* 2 Фн-ном fedI

4*

(9.10)

12

/=1

J

 

 

 

Если для средства измерений нормирован предел допустимых

значений систематической

погрешности

и не

указано значение

М [Д0. с ] и если нет оснований предполагать, что

распределение

указанной

погрешности

в пределах

А0. с. р несимметрично,

то

полагают М. [Д0. с ] = 0.

Если, кроме того, .не указано

значение

а [Д0. с] и

нет оснований предполагать, что распределение

по­

грешности

Д0. с несимметрично и

полимодально,

то

полагают

П= ^0. С.р/т^з.

2. Если известны М 1^1, а [^1,

£в/,

то характеристики

погрешности

находят из

соотношений

 

 

 

 

М[Д|1 — N1[А0.с! 4" £

М. [ф0• НОМт

(9.11)

 

 

1=1

 

 

 

 

D [А|] = аа[А0. с] + S D [фс.н<ш (5/)1 +

[ ар1^о1 +

1НОМШ( У I24-

 

[

 

L

 

/=1

 

 

п

, 2

 

М’НОМ

 

 

 

 

 

(9.12)

 

Я° Р + 2 ^ Н' НОМ7П^ ]

 

12

 

где 4н.номтп (У, ^аномт (Ь) наибольшие

на

интервале

£Hi <

K b K l b j

номинальные

функции

влияния;

<тр [Д „]— предел

допускаемого значения среднего квадратического отклонения случайной погрешности конкретного СИ; Я0р — предел допускае­ мого значения вариации показаний при нормальных условиях эксплуатации; рном — номинальная цена единицы наименьшего разряда кода цифрового СИ (для аналогового СИ р>ном = 0).

Расчет наибольших значений дополнительной погрешности.

Наибольшую по абсолютному значению дополнительную погреш­ ность при изменении /-го влияющего фактора можно вычислить из соотношения

ДдМ = ер (У М У >

(9.13)

где

f вСЛИ Ъ,] — Енорм ]>

в ( I /) = | 11 е с л и ^ ф £ норм j;

ер (§/) — наибольшее допускаемое изменение погрешности, вы­ званное отклонением /-го влияющего фактора от нормального

значения

| HOpMi-

влияющего фактора £ для

Если

диапазон изменения

которого нормирована метрологическая характеристика 8р (£;), равен лишь части диапазона рабочих условий применения СИ, причем для любой части рабочих условий нормируется одно и

то же значение ер (£;), то

SnopM }

 

^8(^j) = I

(9.14)

Заметим, что выражение (9.13) предполагает наихудший из всех возможных характер зависимости (скачок) дополнительной погрешности Ад; от влияющего фактора §j. Если в результате исследования известна конкретная функция влияния СИ, то расчет может производиться с использованием этой функции. В этом случае необходимо найти максимальное значение этой функции [701.

Если в нормативно-технической документации на СИ заданы

наибольшее и наименьшее значения влияющего фактора

£в;, £н/-,

то определение &е (£_?) в соответствии о

выражениями

(9.12) и

(9.14) следует производить для того значения §/, при

котором

/tift (£;) будет иметь наибольшее значение.

интервала, в

котором

Нижняя Ад. и и верхняя Ад. в границы

о вероятностью единица находится погрешность СИ, могут быть

определены из формул

 

 

Ад. в — До. р +

АдМ>

(9.15)

Дд.н

Ад. В*

 

Пример 9.2. Рассчитаем дополнительную погрешность аналогового средства измерений. Исходные данные о значениях нормируемых характеристик СИ еле-

о

дующие: Д0. 0. р = Ю мВ; ор 1Д01 = 5 мВ; Н0р = 6 мВ.

Номинальные функции влияния на систематическую и случайную состав­

ляющие погрешности СИ имеют вид:

 

Фо. НОМ1 (Si) =

^0. НОМ1 (Si— £норм l)>

Фс. НОМ2 2) = ко. ном 2 (£з — 5норМ а)»

Фст ном 1 (Si) =

ко НОМ 1 (Si — SnopM l)>

Фо НОМ2 (S2) =

ко дом 2 (S2 --SHOPM 2)t

где ko. иом1 — 0,5 мВ/°С; ko. ком 2 — 0,4 мВ/В; ко пом 1 = О,I мВ/°С; ko ном i ~

— 0,1 мВ/В — значения номинальных коэффициентов влияния температуры ок­ ружающей среды и напряжения источников питания на систематическую и слу­

чайную

составляющие инструментальной погрешности

СИ; £Норм i — 20 °С;

Енорма =

220 В — номинальные значения влияющих величин.

Характеристики влияющих величин следующие:

= 5 °С; £в* = 40 °С;

Sfia “ Ю8 В; £Вз — 242 В.

Полагая, что систематическая погрешность и влияющие факторы распределе­ ны симметрично в интервалах своих значений, получим:

М [Д0. о] = 0;

М [gj = 0,5 [gH1 + gD1] = 22,5° С;

Л*1£2] =

0,5[£нг + Ы = 220 В.

Тогда на основании выражений (9.6) и (9.12) имеем:

М [Д5] = М [До. „1 + *0. ном 1 [М (Ы - &НОРМ х1 + &с. ном a W (£2) -

 

 

Ёнорм аЗ = 1*25 мВ;

 

D [Д$] =

а* [Д0. cl +

fap [£>1 +

ном г (Бвх — Бнорм х) +

+

ном 2 (§н2

— £норы 2) }2 + ^с. ном 1ст2

^О. И0М2 [1г] + % / 12 .

Полагая, что нет оснований выделять области предпочтительных значений систематической погрешности и влияющих факторов в интервалах их значений,

получим:

 

 

 

 

 

 

с !=

з

' -

= 33,3 мВа;

 

 

з

 

"1Ы

£в1

5н1

40 — 5 _

 

3

2

 

2 1 / Г

 

 

 

 

<г[Ы =_ SBS-- 5н2

_

242 — 198

 

23/3

 

 

Vl2

 

 

D [Д|] = 33,3 {5 + 0*1 (20+ 0,1.22)}*+ 0,01 (10,1)*+ 0,01 (12,7)* +

6*

 

 

 

 

 

12

 

 

=

121,6 мВ*.

 

Определение динамических погрешностей. Исходными сведе­ ниями, необходимыми для расчета динамической погрешности, являются нормируемые динамические характеристики средства измерений. Поскольку в практике измерений для конкретных СИ нормируются те динамические характеристики, которые просто определяются экспериментальным путем, а для расчета погреш­ ностей пользуются передаточной функцией СИ, то необходимо вначале рассчитать по нормируемой характеристике передаточную функцию. Расчет динамической погрешности по передаточной функции позволяет использовать для упрощения решения задачи обширные таблицы прямого и обратного преобразования Лапласа [26].

Если в качестве динамической характеристики нормирована импульсная переходная характеристика £ном (t), то передаточную функцию определяют из соотношения

OQ

 

 

^НОМ(s)= |

gnou(t)e~atdi,

(9.16)

о

 

 

 

если нормируется переходная

характеристика

ftH0M(£), — то из

соотношения

 

 

 

Фаом(s) — S J

Лном (0

dt

(9.17)

О

Для линейных средств измерений передаточная функция обычно имеет вид дробно-рациональной функции

П

 

Яоном“Ь S

ai H O M S

 

G.« (») ------ 5й

--------- .

(9.18)

1 + S

^ UOMsl

 

1=1

 

 

где atH0:,j и 6г H0M, i = 0, п — номинальные значения

коэффициен­

тов передаточной функции. В соответствии с нормативно-техниче­ скими документами нормируются также наибольшие допускаемые отклонения коэффициентов от их номинального значения — Дд.р

и Д;,.р. Для расчета погрешности используется номинальное зна­

чение функции.

Номинальная статическая функция преобразования СИ при­ нимается GH0M(s = 0) = аоном.

Тогда значение динамической погрешности СИ, приведенное к выходу, в операторной форме можно найти из соотношения

Ддин (s) — [Сном(s)

Сном (0)] х (s),

(9.19)

где х (s) — изображение входного

сигнала СИ.

 

Используя обратное преобразование Лапласа Ь~г, получим

Аден (*) - L~x[GH0M(s) х (s)] - Ооном * it).

(9.20)

Если средство измерений предназначено для записи сигнала, то составляющую динамической погрешности, появляющуюся из-за чистого запаздывания сигнала, можно не учитывать. Тогда значение динамической погрешности необходимо определять из соотношений

Адин if) — У-p(t tB) — По номх (t);

(9.21)

Адин (t) = L-» [е'<*GH0„ (s) * (s)] - aQномх (it).

(9.22)

Если на входе такого СИ действует сигнал с финитным спек­ тром ДО частоты ОЭгаах, то для СИ, имеющих плоскую частотную характеристику А (со) = const и линейную фазо-частотную харак­ теристику (р (со) = —со?3, динамическая погрешность будет от­ сутствовать.

В практике измерений о свойствах входного сигнала известно немного. В пределах корреляционной теории случайных сигналов обычно известна спектральная плотность входного сигнала Sx (со). Обычно предполагается, что сигнал на входе стационарен и имеет нулевое математическое ожидание. Тогда в результате действия такого сигнала на стационарное СИ процесс установившейся ди­ намической погрешности тоже будет стационарным случайным процессом о нулевым математическим ожиданием и спектральной плотностью, которую можно определить из соотношения

<5д дан (со) — S# (со) | Оном (/со) ^ном(0)1»,

(9.23)

а значейие дисперсии динамической погрешности — из формулы

+ 0 0

 

D [Ддин] = 2я" J *-*и (®) I @иок (/®) ^ном (0) |аd(&.

(9.24)

При регистрации процесса значение динамической погрешности определяют по формуле

+ 0 0

D lA a c J - j J - J 5» (“ ) | Оцаа(/“ ) — в~*“,"Овон (0) |2 da. (9.25)

—00

Значение дисперсии динамической погрешности может быть определено и непосредственно из формулы (9.20), если на входе

СИ действует

стационарный эргодический процесс [77]. Пусть

Сном (0) = 1,

тогда

 

г

D [Дда] = 4 - j b h ( ‘ +

Q - О.о« (0)а: (<)Г л = Л, (0) + «„ (0)-

 

Q

- 2 R vAh)>

 

 

 

(9.26)

где

(£в) — функция

взаимной корреляции

процессов на вы­

ходе и входе СИ. Следовательно, существует некоторое значение времени задержки tg между входным и выходным сигналами, при котором

D [Адпн] = D [Ади^иЩ.

Оценку сверху относительного значения динамической по­ грешности СИ с линейной фазо-частотной характеристикой можно найти из соотношения

6дин т

^ном Ю I

(9.27)

 

а4еОМ(®го) I

 

где >4ном (©о) номинальная амплитудно-частотная характери­

стика

при нормальном значении

частоты; Аном (wm) — значение

этой

характеристики, наиболее

отклоняющееся от

значения

Лном (©о) в рабочем диапазоне частот

low

©га1а].

погреш­

Динамическая погрешность АЦП.

Под динамической

ностью АЦП при изменяющихся во времени параметрах измеряе­ мой величины или АЦП понимают разность Адин (£и) между зафиксированным значением измеряемой величины Un (ta) ~ N и ее истинным значением U„ {ta) в рассматриваемый момент вре­ мени ta без учета статических погрешностей и погрешности ди­ скретности, т. е.

Адин (*и) = Uи(Q - UK(*и).

(9.28)

Аналого-цифровое преобразование является нелинейной опе­ рацией, и поэтому для анализа динамических погрешностей АЦП нельзя использовать аппарат линейных функций. Для анализа

работы АЦП в динамическом режиме необходимо выделить харак­ теристики, которые определяют процесс аналого-цифрового пре­ образования и его динамические погрешности.

Различают два вида динамических погрешностей АЦП: динамическую погрешность первого рода А1даш, обусловлен­

ную инерционностью отдельных узлов АЦП и определяемую ве­ личиной и длительностью переходных процессов, происходящих в этих узлах;

динамическую погрешность второго рода АИдин, обусловлен­ ную изменением входного сигнала за время преобразования и определяемую скоростью изменения или частотным спектром кодируемого сигнала.

Очевидно, что значение погрешности первого рода можно

определить из соотношения

[601

 

IJAI дни | =

I

U о (п) I,

(9.29)

где U0 (м) — значение компенсационного напряжения

в конце

цикла преобразования.

 

погрешности [60]

 

Максимальное значение этой

 

 

 

 

(9.30)

где £/уст (*, tT) — значение переходного процесса на некотором такте преобразования.

Значение погрешности второго рода можно определить из соотношения

(9.31)

где U’ — скорость изменения входного сигнала; Тпр — время преобразования.

В каждом конкретном случае значения этих погрешностей зависят от используемого метода преобразования, от выбора мо­ мента отсчета результата и от значения самой измеряемой ве­ личины. Анализ этих погрешностей весьма сложен [60 ] и требует знания вида переходного процесса в АЦП, а для определения среднего квадратического значения погрешности — еще и знания вида закона распределения входной величины.

Учитывая важность знания инструментальной динамической погрешности, желательно иметь такие зависимости, которые поз­ воляли бы оперативно решать задачу оценки этой погрешности. Для этой цели были использованы результаты работы системы автоматического проектирования АЦП «Оптан» [50], с помощью которой были рассчитаны зависимости среднего квадратического значения инструментальной динамической погрешности о^д, отне­ сенные к рабочему диапазону преобразователя хт, при различных значениях параметров у — тт, где т — постоянная времени переходного процесса в такте, Ат — длительность такта.

Эти зависимости для АЦП параллельно-последовательного тип.» показаны на рис. 9.2, а для АЦП поразрядного типа — на рис. 9.3.

Рис. 9.2. График зависимости средней ква­ дратической инструментальной погреш­ ности АЦП последовательно-параллель­ ного типа от его параметров при М = 1;

12

Рис. 9.3. График зависимости сред­ ней квадратической инструменталь­ ной погрешности АЦП поразрядно­ го типа от его параметров

1

—* М

4, V ==»

1,0;

2

—• Л1 =

3, v

е=а

«

1,0; 3

— М =

4, V =л 0,6; 4 — М «

2;

V в 0,1;

5 — Л1

в

3, v ==» 0,5; б М

=

с=э 2, v =

 

0,5; 7 —*Л1

=

4, v =

0,1;

3—

ЛХ =» 3, V

« 0,1;

-9

 

АХ <==» 2,

v =* 0,1

На рисунках обозначены: N — число разрядов выходного

кода,

М — разрядность такта,

R — число тактов. В соответствии

с ре­

зультатами

расчета для

поразрядных АЦП

величина

стдпп/хт

практически

не зависит

от числа разрядов

выходного

кода N

и определяется только параметром v; для параллельно-последова­ тельных преобразователей величина отп1хт возрастает с увели­ чением разрядности такта М и параметра v.

Расчет динамической погрешности импульсных СИ. Любое импульсное СИ можно представить в виде соединения простей­ шего идеального импульсного элемента ИЗ, формирующего эле­ мента ФЭ и непрерывной части НЧ [861 (рис. 9.4). Формирующий элемент характеризуется тем, что реакция его на мгновенный импульс (6-импульс), т. е. импульс простейшего импульсного элемента, тождественна форме импульсов Ут (2), действующих в реальном СИ. Соединение формирующего элемента ФЭ и непре­ рывной части НЧ называют приведенной непрерывной частью ПНЧ. В измерительных средствах, как правило, частота следования импульсных сигналов а>0 значительно больше максимальной ча­ стоты в спектре измеряемого сигнала. В этом случае свойства импульсной системы приближаются к свойствам ее приведенной

Рис. 9.4. Структурная схема им­ пульсного средства измерений

L

j

Соседние файлы в папке книги