Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Методы электрических измерений

..pdf
Скачиваний:
8
Добавлен:
19.11.2023
Размер:
53.63 Mб
Скачать

непрерывной части. Поэтому если спектр входного сигнала огра­ ничен частотой со0 со0, то анализ динамических погрешностей импульсного СИ может быть произведен так же, как и анализ погрешности непрерывного СИ с передаточной характеристикой, равной передаточной характеристике приведенной непрерывной части.

Пример 9.3. Определим инструментальную составляющую динамической погрешности записи случайного процесса с нулевым математическим ожиданием н равномерным спектром до частоты ©с на светолучевом осциллографе.

Известно |22], что передаточная функция гальванометра осциллографа имеет

вид

 

Q

(s)---------- бном (0)

*

 

 

иом ' } ~

1

-J- 2 p rs + T2S

 

где GHOM (0) — чувствительность

гальванометра; <в0=

1/Г — резонансная ча­

стота гальванометра

без успокоения;

В — степень успокоения гальванометра.

В соответствии с формулой (9.25) дисперсия динамической погрешности будет

° [Ддип] —

 

Q

Г

е

— ____ f a * - ® ____

2

 

 

 

01

~ /<В*3

1 -f 2jwfiT — ша7 2

dco,

 

No «ном (4 е

 

где N0— спектральная плотность входного сигнала.

Интегрирование выражения для о2 [АДПн] можно выполнить путем примене­ ния формул Эйлера, раскладывая гармонические функции в ряд и ограничиваясь первыми двумя членами, полагая, что <в0 > CDc , а Р ^ 0,7. Проделав необходимые преобразования, получим

 

°2 [Адин!

1

(

 

©о

1п|С|

2p<B0f3—1

 

°ном (°)

2я о 0

|

1 / 2 (1 2р2)

2(1 — Ра)

 

 

 

 

 

®Й(1Н*э-2) 1

 

 

 

[(1-2|Зсо0*з).+

 

4 (1 2р2)2

J ^

 

где +

©с

 

(0,5 + р©0д

©5/3

(1,5 + P V 3) ^ j |

1— 2Р2

 

2 (1 2р2)

 

 

С =

[©„ + 1 /2 (1 -

2Р2) ©с] (©„ - '1 /2 (1 -

2Р2) ©с]~*.

При записи гармонического сигнала U (t) =

Ucsin ©<•/ значение динамической

погрешности будет

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

н -

 

X

 

 

 

 

 

(1 + ©*/©£)2 +

(©с/шо)

 

 

 

 

 

 

 

X ^1—2^1

©:

cos шс/э +

2(5If Si"«o'»])•

 

0п

Приближенная оценка динамических погрешностей. Определение динамиче­ ской погрешности Ддин (/) из выражения (9.20) с использованием обратного пре­ образования Лапласа весьма громоздко. Поэтому для предварительной, инже­ нерной оценки динамической погрешности целесообразно использовать упрощен­ ные методы.

При сравнительно

медленно изменяющихся входных измерительных сигна­

лах значение Ддпн (f)

можно определить методом Кинга, представив его в виде

суммы составляющих,

пропорциональных значениям сигнала и его производ­

ных: *(/), х (/), х (f)» •••» х(я) (<).

Как видно иэ выражения (9.19), значение динамической погрешности можно

ваписать в виде

 

Лдин 00 = [°ном (s) — GH0M (0)] х (S) =

уд (s) х (s).

Равложнв значения уд (s) в степенной ряд вида

 

Уд (s) = Удо + Удав + Удав2 +

+ Удns”»

получим

 

Ддин(s) = [удо + бд15 + Удг®2 +

4~ Удп®"]х (s) •

Коэффициенты уд0, уД1 , уда называются коэффициентами составляющих динамической погрешности по значениям сигнала, скорости изменения сигнала и т. д.

Оригинал изображения Ддпн (s) в этом случае может бвггь записан так:

Ддин (*) — Удо* (0 4~ Уда*' (0 4* Уда*”1 (0 +

Значения коэффициентов уд0 ... уДп можно найти из соотношений:

Удо =

П т Е7д (S)3;

 

 

S-v-Q

 

Тда. = И т ~

[7д Is) — Тдо];

 

Б-у О

ь

 

Уд» = И т -L - |уд (s) — уд0— УдРф

S-*О S

 

 

Удп= Нт

Уд*8*]■

 

Конкретные значения уд* можно определить по известному выражению

Уд (s) — [^ном (s) — Оном (0)] = Qp 4~ ais 4~

4 ■ • • 4 ап&п

 

bo 4“ b\& 4" b^s2 4 -...4 - bmsm

поскольку вначення Одом (s) известны для конкретного СИ данного типа. Тогда, с учетом выражений для удг, окончательно получим

Удо = -ТГ> Уда — ~г~ fa — *1Удо);

^0

OQ

Удг = ~г~ fa

Удо^г УдА).

UQ

 

Поскольку коэффициенты удо, уд*, уда, ... являются постоянными величи­ нами, то на основании полученных соотношений можно получить предваритель­ ную оценку динамической погрешности и в том случае, когда о входном сигнале известны только его статистические характеристики.

.

dp

Известно, что если ур (*) =

—— (/)], то

 

dtp

% (0 = «1Р) (0; *Рр (0 = ( - i)p4 2p) (*)•

Тогда оценку динамической погрешности можно записать тан:

««„„») -

(') -

< i 4 2>«) + W

* «)+■••;

[Дд»я] = T/до*, (0) -

(») +

(0) + •

Поскольку большинство измерительных сигналов финитно [241, то появля­ ется возможность простой оценки предельного значения динамической погрешно­ сти СИ. Для финитных сигналов известно, что

шах | х (t) | < Мх; max| х{п) (t) | < о" ая Мх,

где Мх — шкала сигнала; ©шах — максимальная частота в спектре этого сигнала. Тогда

max АдНН^ 7д0^д; 4“ 7д1®тах^* 4" 7д2®таж^ж4~

Расчет погрешности взаимодействия. Погрешность взаимо­ действия Авз появлятся вследствие обмена энергией между сред­ ством измерений и объектом измерений или между соединенными между собой средствами измерений. Для средств измерений элек­ трических величин исходными данными, позволяющими рассчи­

тать эту

погрешность,

являются

нормируемые входное

ZBI (/со)

и выходное ZBbIX (/ю)

полные сопротивления.

а выход­

Пусть

величина, подлежащая

измерению, есть х (t),

ное полное сопротивление источника информационного сигнала равно ZBbIX (/©). При значении входного сопротивления СИ, рав­

ного ZBI (/со), на вход этого средства будет поступать

сигнал

х* (/со) =

____ ^вх (/®)_____

 

(9.32)

^вх (/®) 4* ^вых (/®) * (/со).

 

 

 

Тогда спектр

погрешности взаимодействия,

приведенной

и входу СИ, будет

 

 

 

д..</») - *•</») - ж(/*>) =*№»)

(9-33)

Если х (t) — стационарный центрированный случайный про­ цесс со спектральной плотностью sx (со), то дисперсия этой по­ грешности может быть найдена из формулы

____ ^вых (/®)____

2

(9.34)

sx (со) dco.

£вых (/®) 4- 2ВХт

 

 

*

Для средств измерений неэлектрических величин расчет со­ ставляющей инструментальной погрешности может быть осуще­ ствлен по полученным соотношениям, если использовать теорию электромеханических аналогий и сначала найти электрический аналог исследуемого СИ [15].

9.2. ИМИТАЦИОННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ

Несмотря на интенсивное совершенствование аналитических методов определения характеристик погрешностей результатов измерения, усложнение алгоритмов измерений носит опережа-

Рис. 9.5. Граф имитационного

Рис. 9.6. Граф

определения

моделирования реальной (а)

погрешности AxJ на основе

и идеальной (б) обобщенной

имитационного

моделирова­

измерительной процедуры

ния

 

ющий характер. Это приводит к тому, что аналитическая оценка характеристик погрешностей при использовании значительной части алгоритмов оказывается невозможной. Не всегда при этом можно обратиться к метрологическому эксперименту — например, на этапе проектирования, при выборе типа готового средства или прогнозировании характера функционирования в особых условиях. В таких случаях можно обратиться ,к имитационному моделиро­ ванию, которое находит все более широкое применение в самых различных областях науки и техники.

Основы использования имитационного моделирования для установления значений характеристик погрешностей вытекают из структуры измерительной процедуры и способов определения погрешностей и их характеристик. Естественно, что при разработке принципов применения имитационного моделирования в метроло­ гии использован опыт, накопленный в смежных областях техники: автоматическом управлении, вычислительной технике, радиотех­ нике и др. Результаты обобщения имеющегося опыта представ­ лены в обзорах 146, 63].

В соответствии с работой 146 ] под имитационным моделирова­ нием будем понимать «метод математического моделирования, при котором используют прямую подстановку чисел, имитирующих внешние воздействия, параметры и переменные процессов, в ма­ тематические модели процессов и аппаратуры», иначе говоря — метод, основанный на воспроизведеции измерительной процедуры в числовой форме с помощью ЭВМ. Из сказанного вытекает, что для имитационного моделирования измерительных процедур необходимо иметь программную систему, в состав которой должны входить программы воспроизведения входных воздействий, управ­ ляющих воздействий, аналоговых измерительных преобразова­ ний, аналого-цифровых преобразований, процессорных измери­ тельных преобразований, а также программы обработки резуль­ татов моделирования.

Воспроизводя некоторую измерительную процедуру, можно получить с помощью одного имитационного эксперимента соответ­ ствующий результат измерения — X]. На рис. 9.5 представлены графы алгоритмов имитационного моделирования измерительных процедур, описываемых уравнениями (1.1) и (1.2).

В детерминированной модели измерительной процедуры, когда все входящие в нее преобразования не меняются и входное воз­ действие постоянно (Y;- = у), результаты последовательности ими­ тационных экспериментов будут одинаковыми, а соответствующая погрешность имеет вид

АХ* = RlRHR*1y -F (y ),

(9.35)

где F (у) = X — истинное значение измеряемой

величины.

Учитывая это уравнение, а также представленный на рис. 9.5, а граф алгоритма, процедуру определения погрешности АХ* можно изобразить в виде, представленном на рис. 9.6.

В общем случае для последовательности имитационных экспе­ риментов варьируются как характеристики измерительных пре­ образований, так и значения входных воздействий. При этом можно учесть весь объем априорной информации о свойствах объекта измерений, условиях измерений, возможных изменениях управляющих воздействий и характеристик аппаратуры.

Следуя принятой в первой и второй главах схеме рассмотре­ ния уравнений измерений и погрешностей результатов измерения, графы имитационного моделирования измерительных процедур и определения погрешностей результатов измерения представим в виде, изображенном на рис. 9.7...9.9.

На рис. 9.7 изображен граф, соответствующий воспроизведе­ нию измерительной процедуры (1.1) и определению полной по­ грешности и ее компонент, определяемых выражениями (2.9)...

(2.12). На рис. 9.8 представлен граф, иллюстрирующий воспро­ изведение принятой измерительной процедуры (1.2) в целях опре­ деления полной методической погрешности и ее составляющих, выражаемых соотношениями (2.18)...(2.21). Наконец, на рис. 9.9 изображен граф воспроизведения измерительных процедур (1.1) и (1.2) в целях определения полной инструментальной погреш­ ности и ее компонент в соответствии с выражениями (2.22)...(2.25).

Однократное воспроизведение измерительной процедуры позво­ ляет установить одно возможное значение погрешности и каждой из определяемых компонент. Для оценки значений характеристик погрешностей результатов измерения необходимо сформировать выборку возможных значений погрешности, т. е. осуществить многократное воспроизведение машинного эксперимента. Наличие

массива

позволяете помощью, соотношений (2.50)...

(2.52) произвести

оценку математического ожидания и среднего

квадратического отклонения погрешности, а также доверительной вероятности для фиксированного доверительного интервала.

Рис. 9.7. Граф определения полной погрешности и ее компонент на основа ими­ тационного моделирования

Приведенные на рио. 9.7...9.9 графы алгоритмов соответ­ ствуют конкретному способу разложения полных погрешностей на компоненты («разложение о использованием гипотетической трансформации»)'. Обращение к другим способам разложения пол­ ных погрешностей на компоненты влечет за собой соответствующее изменение вида графов в части, относящейся к определению компонент полной погрешности.

Проиллюстрируем изложенное примером, относящимся к ана­ лого-цифровому преобразованию, описываемому уравнением

« - К Г тЛ ф -

Рис. 9.8. Граф определения методической погрешности и ее компонент на основе имитационного моделирования

Рис. 9.9. Граф определения инструментальной погрешности и ее компонент на основе имитационного моделирования

Предположим, что целью имитационного моделирования яв­ ляется исследование полной погрешности и ее двух составляющих!

дх; =

-

п ад и = ал; +

д а ;.

 

К

 

 

 

Как уже указывалось,

разложение

ДА,/ на

компоненты Д/А,)

и Д1(А,/ может быть выполнено двумя способами:

и д;х; -

1 ^ -

[ « ы ‘4,Л;

 

 

К

К

 

ДА? = [я[Т/]\. - [лЫо;

К

2)д;х; = fRiT/lo —[ftlv/k

ДА; = iRWi;, - Mv/Jo-

На рис. 9.10 представлен граф, объединяющий процедуры определения характеристик погрешностей для каждого из двух возможных способов разложения ДА,/.

В состав программного обеспечения в данном случае, помимо программ реализации приведенных в алгоритме преобразова­

ний Ru R i. М А.Н, и суммирования (преобразование М 0, ДКЛ

учитывая числовой характер моделирования, сводится к тожде­

ственному отображению R*yj ->• [ R\yj]0 и т. п.), должны входить программы воспроизведения случайной величины у/ с заданным распределением вероятности w \yj) (так называемый датчик слу­

чайных чисел) и программы обработки массивов (ДА,//} t* {AIA,//}/LI и fAKA,//}/Li в соответствии с принятыми алгорит-

Рис. 9.10. Объединенный граф определения погрешностей Aj'X/ и A"XJ при двух способах разложения на компоненты

мами определения характеристик погрешностей.

Следует иметь в виду, что качество имитационного моделиро­ вания обусловлено, во-первых, уровнем априорной информации, т. е. ее емкостью и степенью достоверности, а, во-вторых, возмож­ ностями используемого программного обеспечения и ЭВМ. По­

скольку формирование массивов {AX//}£Li, {AMXj/)jLi, при больших N требует проведения большого объема вычислений, развитый машинный эксперимент по изучению погрешностей требует затрат значительного машинного времени. Его сокраще­ ние может быть достигнуто с помощью применения ЭВМ с высоким быстродействием, а также за счет создания рационального спе­ циализированного алгоритмического и программного обеспечения имитационного *моделирования, учитывающего особенности ме­ трологических задач. К основным особенностям относятся много­ образие видов измерительных процедур и необходимость обеспе­ чения требуемой точности оценки характеристик погрешностей при объективной сложности формирования адекватных моделей объекта измерений, условий измерительного эксперимента и аппа­ ратуры.

Многообразие видов измерительных процедур и способов их аппаратурной реализации побуждает разделить математическое обеспечение имитационного моделирования на две части — типовое и индивидуальное. Типовое программное обеспечение имитацион­ ного моделирования составляется наиболее употребляемыми дат­ чиками случайных чисел, программами воспроизведения основных видов измерительных преобразований, программами воспроизве­ дения искажающих воздействий (влияющих факторов, аддитив­

ных помех и др.), программами обработки массивов

{АмЯ/г}/=ь ... Индивидуальное программное обеспечение имита­ ционного моделирования дополняет заимствование из типового (библиотеки типовых программ) в тех случаях, когда с помощью последнего не удается реализовать синтезированный алгоритм моделирования.

Точность оценки характеристик погрешностей с помощью имитационного моделирования обусловлена достоверностью апри­

орной информации и объемом массивов {AXj/}{Lb {Д»АЫй»ь •••»

т. е. числом имитационных экспериментов N. Для определения N при установленных доверительной вероятности и доверительного интервала можно пользоваться методом, изложенным в § 2.2, для определения достоверности оценок характеристик погреш­ ности на основе метрологического эксперимента.

Достоверность же априорной информации обусловливается состоянием знаний об исследуемой измерительной задаче. Учиты­ вая, что имитационное моделирование есть не что иное, как раз­ новидность расчетов результатов измерения, погрешностей и ха­ рактеристик погрешностей, получаемые с его помощью данные, в свою очередь, должны быть подтверждены экспериментально.

Изложенный метод относится к полному воспроизведению изме­ рительной процедуры при фиксировании всех характеристик выполняемых преобразований. Однако в определенных ситуа­ циях вместо варьирования параметров или вида характеристик измерительных преобразований удобнее представлять результат

преобразования

в виде суммы:

 

 

 

У = / (*) =

Ун (*) + fy,

гДе Ув (я) =

(х) — отклик на

реализацию номинального пре­

образования,

а

Ьу — вносимое

из-за отклонения / (х) от номи­

нального вида искажение. Установив вид распределения вероят­ ности w (ёу), можно воспроизводить искажение с помощью соот­ ветствующего датчика случайны': чисел. Этот способ позволяем упростить программное обеспечение, но требует достоверной информации о виде w у) для принятых условий измерений.

Возможен также комбинированный метод, когда используется часть реальной измерительной цепи, а функционирование ос л7ьных блоков воспроизводится с помощью имитационного моделиро­ вания (так называемое полунатуриое моделирование), ибычно

при этом

берутся реальные аналоговые изм< рнтелт

блоки

и АЦП и

имитируется (эмулируется) функционировав

!роцес-

сориой части. Этим обеспечивается высокая достоверность полу чаемых результатов в сочетании с возможностью тщато йоге исследования принятого программного обеспечения.

В целом имитационное моделирование открывает широкие возможности по определению характеристик погрешностей ре­ зультатов измерения, получаемых с помощью сложных измери­ тельных процедур, когда неприменимы методы расчетог а аналп-

тической основе. Оно опирается на формализованное описание измерений, сформированный банк знаний и современную вычис­ лительную технику. Методы' имитационного моделирования не­ прерывно совершенствуются, что находит свое выражение в соз­ дании специализированных систем (СИМ — система имитацион­ ного моделирования), использующих соответствующие языки опи­ сания алгоритмов измерений, библиотеки программных модулей для воспроизведения типовых преобразований и обработки мас­ сивов данных о погрешностях, а также банки данных, отобра­ жающих состояние знаний в охватываемых моделированием пред­ метных областях.

9.3. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ

Экспериментальные методы определения инструментальных составляющих погрешности необходимы при контроле и аттеста­ ции средств измерений.

При определении инструментальной погрешности измерений предполагается, что оценена методическая составляющая общей погрешности измерений, или эксперимент по определению инстру­ ментальной погрешности планируется так, что методическая погрешность мала и ею можно пренебречь.

По составу оборудования и характерным операциям, выпол­ няемым при определении погрешностей, можно выделить две группы методов:

методы, основанные на использовании образцовых приборовметоды, основанные на использовании образцовых мер (ка­

либраторов).

Структурные схемы измерительных установок, реализующих эти методы, аналогичны схемам установок, применяемым при поверке средств измерений, приведенных в гл. 11 (рис. 11.4 и 11.5).

В соответствии со стандартами предварительную информацию, необходимую для оценки метрологических характеристик средств измерений с заданными показателями точности и достоверности, устанавливают в такой последовательности:

оценивают, проверяют существенность и при необходимости исключают дрейф и вариацию показаний;

оценивают и исключают при необходимости систематическую составляющую погрешности;

оценивают и проверяют значимость корреляции, определяют интервал корреляции, дают рекомендации по минимальному интервалу времени для оценки погрешности без учета корреляции, а также максимальному интервалу времени между отсчетами для оценки корреляционной функции погрешности;

оценивают коэффициенты асимметрии и эксцесса и проверяют нормальность выборки;

определяют минимальный объем выборки, обеспечивающий оценку характеристик с заданными показателями точности;

Соседние файлы в папке книги