Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Электронная структура химических соединений

..pdf
Скачиваний:
6
Добавлен:
20.11.2023
Размер:
22.26 Mб
Скачать

Рис. 1.3. Вины колебательной структуры

а. Величина Ли столь мала, что отдельные пики не могут быть разре­ шены,

б. В потенциальной кривой ионизированной молекулы нет ”ямы”, это приводит к отсутствию связанных колебательных уровней.

в. Происходит диссоциация или предиссоциация иона, что уменьшает время жизни возбужденного состояния, а это ведет к увеличению ширины отдельной линии (см. выше).

Полосы типа V (исчезающая тонкая структура) могут быть вызваны диссоциацией. В ряде случаев возможны полосы типа VI, когда наблюдается сразу несколько колебательных процессов.

Большую роль в идентификации орбиты, с которой был удален элект­ рон, играют также найденные экспериментальные закономерности в общем виде колебательной структуры, например ионизация двойной связи дает спектр с богатой колебательной структурой, а спектры простых углеводо­ родов дают спектры без структуры.

1.2.3. Относительные интенсивности фотоэлектронных спектров

Колебательная структура четко проявляется лишь для спектров простей­ ших молекул. Часто для интерпретации спектров по экспериментальным характеристикам можно использовать лишь относительные интенсивности линий. Из самых общих соображений следует, что интегральная интенсив­ ность максимума фотоэлектронного спектра пропорциональна степени вырождения уровня. В работах, выполненных в 60-х годах, это положение часто использовалось при интерпретации спектров, однако в настоящее время известен весьма ограниченный характер этого правила.

Основные причины, приводящие к отклонению наблюдаемых относитель­ ных интенсивностей от простого отношения степеней вырождения соот­ ветствующих уровней, можно понять на основе общего выражения для сечения фотоионизации. Необходимо учитывать следующие факторы: 1) зависимость сечения фотоиониэации от характера волновой функции

И

уровня и величины hv ионизирующего излучения; 2) зависимость сечения ионизации от угла «9, образованного вылетающим фотоэлектроном и на­ правлением пучка ионизирующего излучения, а также зависимость от ха­ рактера поляризации ионизирующего излучения. Эта вторая проблема возникает в связи с тем, что обычно регистрируются не все фотоэлектроны, а лишь некоторая их часть, характеризующаяся углом б . Рассмотрим сначала первую проблему.

Сечения фотоионизации. Процессфотоионизациипредставляет собой переход системы из основного состоянияФ0 в конечное соответствующее свободному движению электрона в поле ионного остатка, вызванный взаимодействием электрона с электромагнитным полем. Этому взаимо­

действию соответствует оператор Я '

[27]:

Я '= Л а е - ,'* '7 2 7 / ,

(1.6)

где А —интенсивность пучка фотонов с волновым вектором Л и поляриза­ цией е; гf и V/ - операторы координаты и градиента для /-го электрона; ot - постоянная тонкой структуры.

Вероятность процесса фотоионизации

т = 1*Ну<>\Н'\Ъг ) ) 2р{Е ),

(1.7)

где р (£) —плотность состояний в непрерывном спектре.

Полное сечение а фотоионизации и интенсивность соответствующей полосы спектра пропорциональны г.

Если длина волны излучения много больше рассматриваемого атома или молекулы, т е. | krj ( < 1, то множитель е1кг1 в формуле (1.6) равен единице (дипольное приближение). Дипольный матричный элемент можно записать в трех эквивалентных формах [27]:

Длина

{Ef - £ о )

<Фо! 2/ ег/ |Ф / ),

 

Скорость

(Ф0| Eye

),

(1.8)

Ускорение

{Ef - £ 0)

12/е Vy V 1'р/-),

 

где £ 0 и E f —энергии соответствующих состояний.

Влияние формы оператора Н' (см. уравнение (1.8)) исследовано в рабо­ те [28]. Если учитывать многоэлектроиные корреляции в приближении случайных фаз с обменом [29], то сечения фотоионизашш, вычисленные с операторами длины и скорости, совпадают. Для расчета по уравнению (1.7) используют разные приближения для функции Ф/.

Приближение плоской волны, В этом приближении выбитый фото­

электрон рассматривается как

свободный и его волновая функций пред­

ставляется плоской волной

 

*y«(2ir)*/4exp(ttr).

(1.9)

Впервые это приближение для молекулярных систем использовано в рабо­ тах [30, 31], а затем широко использовалось для расчета интенсивностей фото- и рентгеноэлектронных спектров [32-39]. В качестве примера в табл. 1.2 приведены данные работы [35]. Изменения экспериментальных относительных интенсивностей при переходе от Не (I) к Не (II) расчет передает верно, хотя сами относительные интенсивности в спектрах Не(1) и Не (II) расчет не воспроизводит.

12

Таблица 1.2, Зависимость относительных интенсивностей от энергии квантаАу

Молекула

МО

 

Относительные интенсивности

 

 

 

Не(1)

 

Не(П)

 

 

1

2

1

2

 

 

67

64

42

58

 

1

1 0 0

10 0

1 0 0

1 0 0

 

1<г„

23

П

42

25

СО

Зс

165

74

41

38

 

1*

10 0

10 0

10 0

1 0 0

 

1 2

1$

43

58

н4о

lb t

71

79

85

92

 

ъ ,

1 0 0

1 0 0

1 0 0

1 0 0

 

11ч

35

135

129

94

П р и м е ч а н и е . 1 - теоретические значения, % - экспериментальные.

Другие приближения, связанные с плоской волной. Для учета потенци­ ала, в котором движется фотоэлектрон, предложен метод эффективной плоской волны [40], причем волновой вектор К вылетевшего фотоэлек­ трона вычисляется по формуле

A'= V 2 (F K[,„ + H ;

<Ь10)

где £ кин — кинетическая энергия фотоэлектрона в сферической потенци­ альной яме. 6 работе [41] предложен метод модифицированной плоской волны, где

к = у /ih ? .

(l.i 1)

Приближение ортоготипизованной

плоской волны. Для приближен­

ного учета молекулярного потенциала плоскую волну было предложено [38] ортогонализовать к занятым МО. Этот метод использован в работах [42-47].

Ортогональность волновой функции к занятым МО является необходи­ мым, но отнюдь не достаточным условием получения точной волновой функции конечного состояния, поэтому приближение ортогонализованной плоской волны не дает существенного улучшения сходимости рассчитанных интенсивностей с экспериментом.

Известей также ряд других приближений для функции Фу (см., напри­ мер, [48 -50]). В работе [48] использовано водородоподобное приближе­ ние, а в работах [49, 50] проводилось приближенное вычисление волновых функций непрерывного спектра с использованием хартри-фоковских функ­ ций основного состояния.

Приближение независимых атомных центров. В работах [51, 52] Гелиус и Зигбан предложили модель интенсивностей рентгеноэпектронных спектров, основанную на пренебрежении двухцентровыми вкладами в ди­ польный матричный элемент, т.е. предполагается, что излучение поглоща­ ется внутри атомных сфер и вылетающие фотоэлектроны не взаимодей­ ствуют друг с другом. Используя обычное представление МО ИКАО функ-

13

ции начального состояния

 

получаем для сечения фотоионнэации

 

мо -

~ /;МО

(1-12)

А\

 

 

где омл° -

сечение фотоионизации атомной подоболочки А \\Р !Л ^ - засе­

ленность по Малликену Л^-атомной орбитали в /•й МО; 7/М0 -

интенсив­

ность соответствующей полосы фотоэлектронного спектра.

 

В работе

[52] была проведена оценка многоцентровых вкладов в сече­

ние фотоионизациивприбпиженииплоскойволныипоказано, что при иони­ зации излучением Mg Ка и А1 Ка такими вкладами можно пренебречь. Отме­ тим, что в работе [53] получена формула, аналогичная (1.12) с заменой

Р!Ах на

■Эта формула, однако, противоречит некоторым правилам

сумм [54].

 

Формула

(1.12) широко используется для расчета относительных интен­

сивностей в

рентгеноэлектронных спектрах (см. раздел 1.3). В работах

[55—57] показано, что формула (1.12) применима также и вблизи поро­ га фотоионизации, в частности при возбуждении спектров излучением Не{1) и Не (И).

Остановимся на результатах работы [55]. В этой работе с учетом многоэлектронных корреляций рассчитаны сечения фотоионизации 2s- и 2рэлекгронов атомов С, N, О, Ne для энергий фотонов до 190 эВ. (Впослед­ ствии расчеты были распространены на валентные оболочки других ато­

мов

(см.,

например,

[58, 59]). Используя теоретические значения Р'дх и

стА4^,

по

формуле

(1.12) были

рассчитаны сечения МО фотоионизации

для излучения Не(1), Не(П), Y

и Zr

в СН4, С^ Н*, C3HS, С2Н4,С2Н2,

NH3, Н ,0 , CN",

СО, С03, N3Oh N03. Для СО, N2,COj, N2Oh Н20

проведено сравнение теории и эксперимента для сечений фотоионизаций при hv < 60 эВ, Рассчитанные абсолютные и относительные сечения фото­ ионизации согласуются друг с другом, особенно для hv> 40 эВ. В качестве иллюстрации см. табл, 1.3 для Н20. Обозначения ОПВ и ПВ относятся к расчетам в приближении ортогонализованной плоской волны и плоской волны. Точность как относительных, так и абсолютных значений сечений фотоионизации, полученных в этих приближениях, заметно уступает точнос­ ти расчетов в приближении независимых центров [55]. Расчеты [55] обыч­ но правильно передают также изменение относительных интенсивностей при переходе Не(1) -+ Не(И), хотя соответствие далеко от количествен­ ного (табл. 1.4) [55]. Достигнутое при этом согласие теоретических и экс­ периментальных величин в работе [55] заметно выше, чем при расчетах в приближении ПВ и ОПВ.

В табл. 1.5 приведены теоретические относительные сечения фотоиони­ зации (С 2р = 1) [55, 58, 59] для излучений Не(1) и Не(П), полезные для теоретической оценки изменений относительных интенсивностей на осно­ ве формулы (1.12). Сечения фотоионизации обычно уменьшаются с ростом hv (рис. 1.4 для ос 2р) ; быстрота этого изменения влияет на относитель­ ное значение а в зависимости от hv. Заметное уменьшение значений а для орбиталей Si 3р, Р Зр, S Зр и С1 Зр для hv ~ 40,8 эВ связано с так называ-

н

Таблица 1.3. Относительные интенсивности Не (I), He(II), Y M t n Zr M t

 

фотоэлектронных спектров молекулы HjO

'

*

 

МО

 

 

Нё(1), ftv = 21,2 эВ

 

 

 

Эксперимент

 

Теория

 

 

 

 

 

 

 

 

 

{43]

{бО{

{SSj

{46) ОПВ

{43) ОПВ

[40) ПВ

16,

1 ,0 0

1 ,0 0

i;oo

1 ,0 0

 

1 ,0 0

1 ,0 0

3*i

1,18

0 ,8 6

0 ,8 8

1 ,1 0

 

1 ,1 2

0,73

16,

1 ,0 0

1 ,1 0

1,28

1 ,0 0

 

0,99

0,34

МО

 

 

 

Не<11), ftv = 40,8 эВ

 

 

 

Эксперимент

 

 

Теория

 

 

 

 

 

 

 

146]

[43]

[61]

[55]

[46] ОПВ 143] О П в|

[40] ПВ

 

 

 

 

 

 

----------- -----------

16,

1 ,0 0

1 ,0 0

1 ,0 0

1 ,0 0

1 ,0 0

1 ,0 0

1 ,0 0

34,

0,80

1,04

0,90

0,82

1 ,2 0

1,16

1,10

16*

0,60

0,83

0,83

0,77

1,30

1,29

0,58

2 в,

 

 

0,33

0,32

0,30

0,30

 

МО

Y М$, ftv = 132,3 эВ

Zr М%, ftv = 151,4 эВ

 

 

 

 

 

 

 

Экслери-

 

Теория

Экслери-

Теория

 

 

Мент

 

 

мент

 

 

 

[62)

{55]

(бз{ о п в

{46|

[55] j

{46] ОПВ

1 6 ,

1,00

1,00

1 ,0 0

1 ,0 0

1 ,0 0

1 ,0 0

3*.

1,23

0,85

0,63

1 ,1 0

0,93

0,60

16.

0,76

0,64

0,39

0,70

0,67

0,40

2а,

1,09

0,65

0,03

0,90

0 ,8 8

0 ,1 0

Таблица 1,4.

Относительные интенсивности о[Не(П)'} /<т[Не(1) ), нормированные

на первый уровень

 

 

 

 

 

 

МО

СО,

 

|

МО

с г н 2

 

Эксперимент

I

Расчет

I

 

Эксперимент

Расчет

н

-------------

К

и и

 

 

Ч

1 ,0 0

 

1 ,0 0

 

1 ,0 0

1 ,0 0

 

0,46

 

0,72

 

з ч

0,54

0,92

 

0,62

 

0,91

 

2 вц

0,34

0,78

Ч

2 ,0 0

 

1,51

 

 

 

 

еммм минимумом Купера [64, 65]). Этот минимум в сечении фотононизации достигается в районе значений Екин фотоэлектрона, для которых мо­ мент перехода (Ф0 1Н'|фу) меняет знак (т.е. равен нулю). Этот минимум в случае Зр-оболочек элементов 3-го периода лежит приблизительно при ^кии. соответствующей ионизации валентных оболочек Не (И)-излучением (см. рис. 1.4 для (7-оболочки С1 Зр). Как будет отмечено ниже, теорети­ ческие данные в табл, 1.5 согласуются с экспериментом.

15

Таблица 1.5. Относительные сечения фотоиониэашинекоторых электронных оболочек атомов (на 1 электрон)

Anl

Не(1)

Не(П)

АШ

Неф

Не(П)

с Зр

1

I

Si Зр

1,10

0,125

N 2р

1,01

1,63

а зр

1,79

0,16

02р

0,70

1,87

Со Ы

0,155

1,27

F 2р

0,43

1,96

т м

0,093

1,07

Si Зр

0,053

0,142

Си 3d

0,071

0,868

РЗр

0,53

0,21

 

 

 

Приближение независимых атомных центров (модель Гелиуса-Зигбана, уравнение (1.12)) позволяет рассчитывать не только относительные интен­ сивности, но и абсолютные значения <т, В работах [66, 67] предложен спо­ соб определения абсолютных значений о для отдельных МО по спектрам Не (I) или Не (II) путем примешивания к изучаемым газам газа с известны­ ми значениями а для его отдельных МО. Изменяя относительные интенсив­ ности МО исследуемого газа и газа-примеси, можно рассчитать абсолютные значения а для исследуемого газа. Этот метод открывает дополнительную возможность использования расчетов абсолютных значений а для интер­ претации спектров, так как достигнутая степень соответствия рассчитанных и экспериментальных значений (точнее, их взаимных изменений) оказалась удовлетворительной [68] (табл. 1.6). Графические зависимости рассчитан­ ных значений а от hv для оболочек ряда элементов, позволяющие прово­ дить расчеты относительных и абсолютных значений о, приведены в ра-

в^Мбарн

Рис. 1.4. Зависимость парциальных сечений фотоиониэащш С 2р (?) я О Зр (2) от энергии фотона!п>

Таблица 1,6. Экспериментальные и теоретические сечения фотоионизации (Мбарн)

 

Не(1)

 

 

 

 

He(U)

 

молекула

МО

°эксп

°теор

молекула

j

МО

°эксп

°теор

CF.C1

6, +6,

19,3

23,8

CF3C1

 

0,66

0,61

CFjCl,

20,5

 

20,6

CF?a ,

Ь,+Ь,

0,81

1,20

 

«1 +«1

24,0

 

24,0

 

в, +«,

1,22

0,70

CHFClj

Ь,

12,2

11,3

CHFC1,

Ьг

Зр

2,26

1,16

CI3р

51,3

44,0

а

1,10

1,97

c ,F ,a

2 х о(С-а>

12,8

 

18,5

 

2 X 4 (0 0 )

2,99

2,59

а з р

24,5

 

21,8

 

 

 

 

 

 

2 х о(С-С1)

7,11

 

9,3

 

 

 

 

 

ботах [55, 58, 59]. Подчеркнем, что при расчете о необходимо учитывать эффективные заряды атомов в молекуле —это заметно повышает точноегь расчета [58].

В заключение этого подраздела приведем пример [58] количественного использования формулы (1.12) для интерпретации спектра SF6. Для этой молекулы при энергиях hv = 54 эВ и hv - 1486,6 эВ наблюдается шесть по­ лос, которым соответствуют семь уровней: 5tiu, \tlg, 3eg, Itm , Ihg, 4tiu и Salg. В работах [69-73] были предложены различные варианты ин­ терпретации спектров (табл. 1.7). В работе [58] были рассчитаны относи­ тельные интенсивности для различных вариантов интерпретаций. В качест­ ве критерия оценки степени достоверности интерпретации использовалось среднее относительное отклонение теоретических относительных интенсив­ ностей каждой интерпретации от экспериментальных

Д s (1/я)2 l^n.teop -Л*, экси №?, эксп-

п

Как видно из приведенных в табл. 1.7 данных, правильная интерпретация предложена в работах [71,72] —она согласуется также с наиболее точны­ ми расчетами молекулы SF6 и ее рентгеновскими спектрами.

Расчеты методами ab initio. Необходимость точного расчета сечений фото­ ионизации при малых значениях кинетической энергии фотоэлектрона диктуется следующими обстоятельствами. Приближение независимых атомных центров обычно дает хорошее соответствие с экспериментом лишь для hv > 40 эВ [55, 75], хотя хорошее соответствие расчета с экспе­ риментом может получиться и при значениях hv < 40 эВ. Основная причи­ на несоответствия метода независимых центров эксперименту заключает­ ся в проявлении квазистационарных состояний в непрерывной области энергий спектра при малых значениях фотоэлектрона. В работах [76—80] эти состояния в рентгеновских спектрах поглощения качествен­ но объяснены наличием потенциального барьера, созданного атомами окружения и препятствующего вылету фотоэлектрона с малыми значени­ ями ЕКИН. Показана взаимосвязь квазистационарных состояний с виртуаль­ ными незанятыми состояниями в методе МО ЛКАО. Квазистационарные состояния проявляются в заметном росте сечений фотоионизации в узком

интервале значений £ кия

и формально выглядят как переход электрона

2. Зак. 1304

17

Таблица 1.7. Сравнение относительных интенсивностей фото- и рентгеноэлектрон­

ных спектров S F ,, рассчитанных для различных вариантов

интерпретации спектров

 

Экспериментальные интенсивности максимумов

 

Литература

1

2

3

4

 

1

'

 

6

 

1,0

2,0

0,6

 

 

0,3

|731

0,7

 

 

0,7

 

1,0

1,9

0,8

0,7

 

 

2,4

 

2,6

[711

 

Теоретические интенсивности максимумов

 

1

2

3

4

j

5

 

6

A

Литература

3*ju

1*4

+ 1*3u

 

 

4fm

 

^ * 4

 

 

1,00

1,06

1,47

1,04

 

0,72

 

0,13

0,49

[69J

1,00

0,89

1,89

0,81

 

2,36

 

2,13

0,45

 

 

 

u )g

5'щ

1 *tg + l flK

 

 

и

 

5a4

 

 

1,00

0,97

1,99

0,35

 

0,69

 

0,13

0,71

[70]

1,00

1 ,1 2

1,91

1,12

 

2,63

 

2,39

0,43

 

 

 

1*4

St, u + l ' iU

 

1*7g

 

4», и

 

5a,g

 

 

1,00

2,00

0,35

1,01

 

0,70

 

0,13

0,15

[71,72]

1,00

2,11

1,12

0,90

 

2,63

 

2,39

0,19

 

 

 

1*1 g

1*7и + 3eg

5*i и

l*ig

 

и

 

5<*l£

 

 

1,00

1,37

1 ,0 0

1,00

 

0,70

 

0,13

0,33

 

1,00

2,12

1,11

0,90

 

2,63

 

0,13

0,20

[73, 74]

П р и м е ч а н и е . В числителе приведены значения, полученные при hv = S4 эВ, в зна­

менателе —при ftv = 1486,6 эВ.

на связанный стационарный уровень. Эти максимумы называют резонан­ сами.

Квазистационарные -состояния проявляются в рентгеновских спектрах поглощения, значениях сечений фотоионизации, в экспериментах (е. 2е) по псевдофотоионизации и упругому рассеянию электронов молекулами

(см., например,

ссылки в работах [81-89]) для молекул Nls СО, N0,

0 2, HCN, C2N2, NJ O, COJ , COS, CS2, C2H2, SF6, BF3 и др. В качестве

примера на рис.

1.5 приведены для SF6 рентгеновские спектры поглоще­

ния и сечения фотоионизации ряда валентных уровней в зависимости от значения £"кин.

Вне пределов переходов в квазистационарные состояния сечения фото­ ионизации хорошо соответствуют [90-92] формуле (1.12) модели Гелиу* са-Зигбана. Поскольку ширина этих квазистационарных состояний обычно 5 -10 эВ, а значение ЕКИН ~ 10 эВ, то при использовании излучения Не(1) и отчасти Не (II) весьма велика вероятность, что сечение фотоионизации какого-нибудь валентного уровня окажется заметно больше, чем при рас­ чете по модели независимых центров. Для малых значений £ кин расчет сечений фотоионизации проводится поэтому методом Ха (см., например, [82, 83, 93]), методом улучшенных виртуальных орбиталей с применением

процедуры Чебышева-Сгилтьееа (см., например, [94, 95]), различными одноцентровыми приближениями (см., например, [96—98]). Эти методы, как правило, дают хорошее соответствие теории и эксперимента как для се­ чений фотоионизации, так и для параметров асимметрии (см. раздел 1.2.4). Взаимосвязь между резонансами и квазистационарными состояниями, выз­ ванными локализацией волновой функции фотоэлектрона во внутренней части молекулы, рассмотрена в работах [99, 100].

Методика расчета, предложенная в работах [90-92], позволяет устано­ вить связь с моделью независимых центров. В работе [90] рассмотрено пог­ лощение излучения атомными сферами и дальнейшее взаимодействие по­ токов фотоэлектронов из различных сфер друг с другом. Если взаимодей­ ствием пренебречь, то получается формула (1.12). Учет взаимодействия (многократного рассеяния фотоэлектронов) приводит к появлению доба­ вочного интерференционного члена До, который ответствен за резонансы

o f ° =

+ДоАВ.

(1.13)

Член од в с

увеличением Ек т

фотоэлектрона быстро приближается к ну­

лю, что и обеспечивает сравнительно высокую точность формулы (1.12)

19

^,Мбарн

Рис. 1.6. Сечения фотоион юани и уровней СО Здесь и на рис. 1.7 точки отвечают экспериментальным данным (101], сплошные

пинии —расчету по формуле (1.13) , пунктирные —расчету по уравнению ( 1. 12)

<S,MfiapM

Рис. 1.7. Сечения фотоионизации уровней CF4 (911